一种半导体衬底中的通孔结构及其制造方法

    公开(公告)号:CN109300877A

    公开(公告)日:2019-02-01

    申请号:CN201810980479.8

    申请日:2018-08-27

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明公开了一种半导体衬底中的通孔结构及其制造方法,该结构包括衬底、贯穿衬底的通孔、衬底表面的富电荷层、通孔侧壁、衬底表面以及富电荷层表面的绝缘层;所述衬底具有相对的第一表面和第二表面;所述第一表面具有富电荷层,其中含有高浓度的电荷,且富电荷层围绕于通孔的孔口周围。该制造方法的步骤为:以半导体材料作为衬底,在所述衬底的第一表面制作富电荷层;在所述衬底的第一表面制作深孔;在深孔内壁、衬底第一表面以及富电荷层表面上制作绝缘层;向深孔中填充导电材料;减薄所述衬底的第二表面,露出深孔的底部。采用该通孔结构可以实现三维集成系统电学性能的改善和可靠性的提升。

    一种半导体变容器及其制造方法

    公开(公告)号:CN109326655B

    公开(公告)日:2021-01-19

    申请号:CN201810980459.0

    申请日:2018-08-27

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明公开了一种半导体变容器及其制造方法,该半导体变容器包括具有相对的第一表面和第二表面的衬底、衬底上的深孔、与衬底导电类型相反的第一高掺杂区和相同的第二高掺杂区、衬底的第一表面上的介质层和控制电极;深孔可为盲孔或通孔,填充有绝缘层和导电材料;控制电极位于介质层之上,并且两者的外缘与绝缘层和第一高掺杂区邻接。本发明通过利用两个金属‑氧化物‑半导体结构来实现变容器,使得变容器的可调范围和调制电压可以分别设计优化,具有较好的灵活性且制作工艺简单。

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