记录介质
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102267301A

    公开(公告)日:2011-12-07

    申请号:CN201110143531.2

    申请日:2011-05-31

    CPC classification number: B41M5/00

    Abstract: 本发明提供记录介质,其能够抑制转移不足的发生、降低记录介质的最外表面上的划痕的可见性并且抑制进行记录时斑点图案的发生。该记录介质具有基材和设置在该基材上的墨接受层,其中该记录介质的最外表面的由JIS B 0601:2001规定的算术平均粗糙度Ra为1.1μm-2.5μm,并且该记录介质的最外表面的由JIS B 0601:2001规定的粗糙度曲线的偏度Rsk为0.1以下。

    记录介质
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102189861A

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:CN201110060007.9

    申请日:2011-03-03

    CPC classification number: B41M5/502 B41M2205/42

    Abstract: 记录介质,其包括基材和在该基材上设置的至少两个多孔墨接受层,其中,作为第二位远离该基材的层,下层配置在上层的基材侧,该上层最远离该基材。该上层和下层的孔分布曲线分别具有一个峰和两个峰。将给出该一个峰和该两个峰的孔半径分别记为R1以及R2、R3,其中R2小于R3时,R1为8nm-11nm,R2为5nm以上,R2小于R1,R1与R2之间的差为2nm以上,R3不小于R1,R3与R1之间的差为3nm以下。孔半径R2和R3时的孔容积分别为VR2和VR3时,比例VR2/VR3为0.8-2.4。

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