-
公开(公告)号:CN116560080A
公开(公告)日:2023-08-08
申请号:CN202310834105.6
申请日:2023-07-10
Applicant: 之江实验室
Abstract: 本发明涉及一种透过厚散射介质单光子单像素成像装置及方法,其中单像素成像装置包括沿光路依次设置的皮秒激光器、光学扩束器、空间光调制器、短焦投影镜、空间光滤波器、聚光镜、单光子雪崩探测器,散射介质和待成像物体置于空间光滤波器和聚光镜之间的光路上,还包括与单光子雪崩探测器电连接的快速时间门控制器、与快速时间门控制器电连接的时间相关单光子计数器,还包括分别与皮秒激光器、空间光调制器、时间相关单光子计数器、快速时间门控制器电连接的工控机。与现有技术相比,本发明实现了无需先验和求逆扩散方程的透过厚散射单光子单像素成像,并且系统结构简单,成像速度快;无需该先验数据即可实现透过散射介质成像。
-
公开(公告)号:CN117113795B
公开(公告)日:2024-01-26
申请号:CN202311376080.6
申请日:2023-10-23
Applicant: 之江实验室
IPC: G06F30/25
Abstract: 本申请提供一种优化磁约束带电粒子成像系统参数的方法。该方法包括:给出粒子参数:静质量、所带电荷量和动能,计算磁钢度;给出约束参数范围:视场半径、磁场范围、磁透镜厚度范围、漂移距离范围和极面半径;给出磁透镜强度、磁透镜厚度和漂移距离的微分步数及要求的精度值;计算磁透镜强度范围,磁透镜强度、磁透镜厚度及漂移距离的微分步长;设定磁透镜强度、磁透镜厚度和漂移距离的初始值及迭代步长;计算系统半传输矩阵的迹的绝对值;判断磁透镜强度的初始值或迭代后的值是否在磁透镜强度范围内,且系统半传输矩阵的迹的绝对值是否大于要求的精度值,如果是,则进行循环迭代,否则,则计算磁透镜梯度的值;输出优化后的系统参数
-
公开(公告)号:CN115079346A
公开(公告)日:2022-09-20
申请号:CN202210853767.3
申请日:2022-07-20
Applicant: 之江实验室
IPC: G02B6/26
Abstract: 本发明公开了一种空间光耦合至光纤的装调装置和方法。本发明的装调方法为:首先进行搭建检测装置使相机感光面位于平行光管焦点处,再搭建耦合装置使调整耦合透镜与平行光管同轴,然后使用角锥标示检测装置的光轴位置,最后根据探测耦合光纤和耦合透镜发射出的激光光束的光轴指向、发散角、衍射能量分布使影响耦合效率的五个自由度参量表现为可量化计算的光斑信息,快速判断光纤的失调项和大小,从而快速精确判别下一步装调步骤。具有简化装调步骤,提高耦合效率提升过程的收敛速度的优点。
-
公开(公告)号:CN117452433B
公开(公告)日:2024-03-05
申请号:CN202311789322.4
申请日:2023-12-25
Applicant: 之江实验室
IPC: G01S17/894 , G01S7/481
Abstract: 本发明涉及一种基于单点单光子探测器的360度三维成像装置及方法,其中装置包括沿光路依次设置的皮秒激光器、分束器、空间光延时器、偏振分束立方体、二维扫描振镜、聚光镜、单光子雪崩探测器;还包括与分束器连接的光电二极管、与所述光电二极管电连接的功分器、与功分器电连接的时间延迟器、与时间延迟器电连接的时间相关单光子计数器;还包括与所述时间延迟器电连接的快速时间门控制器,快速时间门控制器与时间相关单光子计数器电连接;还包括工控机。与现有技术相比,本发明实现了基于单个单光子点探测器的远距离目标的360度三维成像;具有高的深度分辨率以及远的作用距离、大
-
公开(公告)号:CN117113793B
公开(公告)日:2024-01-26
申请号:CN202311376075.5
申请日:2023-10-23
Applicant: 之江实验室
IPC: G06F30/25
Abstract: 本申请提供一种磁约束带电粒子成像系统中粒子输运的模拟方法。该方法包括:给出粒子参数并计算磁钢度;给出系统参数,四个磁透镜的磁透镜梯度和磁透镜厚度、漂移距离;计算磁透镜强及x轴和y轴方向的匹配参数,计算系统总长度;给出粒子x、y轴方向的初始位置坐标和多次库伦散角、粒子输运步数;计算粒子在x轴、y轴方向上的初始坐标、粒子输运步长、粒子输运距离;依次计算从零到粒子输运步数时粒子输运距离的对应值处的x轴、y轴坐标;基于各粒子输运距离的对应值处的x轴、y轴坐标输出粒子径迹。(56)对比文件代国红;黄伟军;肖伟;郭守晖.带电粒子在地磁场中的漂移运动.南昌大学学报(理科版).2016,(01),全文.
-
公开(公告)号:CN117113794A
公开(公告)日:2023-11-24
申请号:CN202311376078.9
申请日:2023-10-23
Applicant: 之江实验室
IPC: G06F30/25
Abstract: 本申请提供一种磁约束带电粒子成像系统中反角度准直器的设计方法。该方法包括:给出粒子参数并计算磁钢度;给出系统参数并计算磁透镜强度及x轴和y轴方向的匹配参数;给出视场半径、截断角值、准直空间漂移距离 的微分步数及要求的精度值 ;计算粒子在x轴和y轴方向上的初始坐标和 的微分步长;设定 的初值及其迭代步长;计算粒子从初始坐标传输至的初值位置时x轴和y轴方向的坐标;判断是否且 ,是则进行x轴方向的循环迭代,否则输出x轴方向 的值;判断是否且 ,是则进行y轴方向的循环迭代,否则输出y轴方向 的值;选取大者作为零点最大值;计算反角度准直器允许的最大厚度并来设计反角度准直器的参数。
-
-
-
-
-