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公开(公告)号：CN119697296A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202411897255.2
申请日：2024-12-20
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: H04L69/22 , H04L69/324 , H04L1/00 , H04L67/5651 , H04L67/568
Abstract: 本公开提供了一种数据处理方法、装置、电子设备和安检设备，可以应用于安检设备数据采集与处理技术领域。该方法包括：响应于物理层发送初始数据流，从初始数据流中确定一个或多个数据帧的起始标记，其中，初始数据流包括一个或多个数据帧，起始标记包括前导码和帧开始界定符；针对每个起始标记，基于初始数据流，确定与起始标记对应的待检测数据帧的目的地址；在目的地址包括本地地址的情况下，将待检测数据帧写入乒乓缓存；利用循环冗余校验算法对待检测数据帧进行正确性检测，得到正确性检测结果；以及在正确性检测结果表征待检测数据帧未通过检测的情况下，将乒乓缓存中的待检测数据帧丢弃。
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公开(公告)号：CN119644394A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411999219.7
申请日：2024-12-31
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/20
Abstract: 本公开提供了一种辐射敏感探测器，可以应用于辐射检查技术领域和辐射检查设备技术领域，所述辐射敏感探测器包括多个像素，所述多个像素中的至少一个像素包括：辐射敏感元件，用于接收射线光子，且将所述射线光子转换并输出为模拟信号；模数转换元件，与所述辐射敏感元件电连接，所述模数转换元件用于将所述模拟信号转换为数字信号；其中，所述模拟信号包括多个细分模拟信号，所述细分模拟信号经由采用空间维度和时间维度中的至少一个切分并转换所述射线光子形成。本公开还提供了一种辐射检查设备。
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公开(公告)号：CN119634278A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411958211.6
申请日：2024-12-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供了一种物料分选方法，涉及物料分选领域、辐射检查领域或其他领域。该方法包括：响应于待分选物料的粒径信息符合预设条件，控制射线源和探测器中至少一个移动，以获得与所述粒径信息相适配的辐射距离和探测距离；控制所述射线源基于所述辐射距离向所述待分选物料发送辐射射线，以及控制所述探测器基于所述探测距离接收所述辐射射线的射线信号，得到辐射图像；根据所述辐射图像对所述待分选物料进行分选。本公开还提供了一种物料分选装置。
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公开(公告)号：CN119545629A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411735093.2
申请日：2024-11-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供了一种X射线发生器和检测设备。其中，该X射线发生器包括：倍压整流电路、至少一个X射线管和射线屏蔽结构。倍压整流电路包括多个输出端。X射线管的阳极与该多个输出端中的第一输出端电连接，X射线管的阴极与该多个输出端中的第二输出端电连接，其中，第一输出端的输出电压高于第二输出端的输出电压。射线屏蔽结构包括封装体，封装体上设置有贯穿的射线出射孔，其中，倍压整流电路和X射线管设置于封装体的内部，其中，封装体具有绝缘性能和射线屏蔽性能。
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公开(公告)号：CN119510456A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411733296.8
申请日：2024-11-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/046 , G01V5/22 , G01V13/00 , G02B7/00
Abstract: 本发明提供一种检测设备，包括：检测部件，具有相对的第一侧和第二侧；入口通道部件，设于所述检测部件的第一侧；以及出口通道部件，设于所述检测部件的第二侧；其中，所述检测部件包括：支撑框架限定出检测通道，所述支撑框架为一体成型件；辐射源，设于所述支撑框架；探测器，设于所述支撑框架，且与所述辐射源相对；光栅组件，包括可调光栅，所述可调光栅包括可移动横臂和可移动竖臂，所述可移动横臂设于所述支撑框架的顶壁面，所述可移动竖臂设于所述支撑框架的侧壁面。本发明的检测设备，支撑框架一体成型，支撑框架的安装面具有良好的平面度，有效确保辐射源、探测器和光栅组件安装位置的准确性，进而有利于确保扫描图像的质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113920208B
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202010661255.8
申请日：2020-07-10
Applicant: 同方威视科技江苏有限公司 , 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G06T9/00 , G06V10/762 , G06V10/82 , G06N3/0464 , G06N3/0455 , G06N3/088
Abstract: 本公开实施例提供了一种图像处理方法及装置、计算机可读存储介质和电子设备。该方法包括：获取待测原始图像；编码所述待测原始图像，生成所述待测原始图像的目标特征图；根据正样本原始图像获得与所述目标特征图匹配的第一目标解码向量，所述正样本原始图像为无异常区域的图像；解码所述第一目标解码向量，获得所述待测原始图像的待测生成图像。通过本公开实施例提供的技术方案，通过无异常区域的正样本原始图像来获得待测原始图像的待解码的解码向量，可以更加准确地重构待测原始图像，避免重构待测原始图像的异常区域。
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公开(公告)号：CN119322079A
公开(公告)日：2025-01-17
申请号：CN202411506050.7
申请日：2024-10-25
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/203 , G01N23/20008 , G01S17/93 , G01S17/86 , B62D63/02 , G21F3/00
Abstract: 公开一种背散射检查设备，包括：背散射机器人，配置成能够自驱动地移动至待检对象附近以靠近对象，并能够朝向对象发射辐射，并检测从对象反射的辐射，实施对对象的扫描；和辐射防护机器人，配置成能够自驱动地移动到对象的远离背散射机器人的一侧以屏蔽从背散射机器人发射的辐射。对象位于背散射机器人和辐射防护机器人之间。
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公开(公告)号：CN116767826B
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202211698156.2
申请日：2022-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种推送机构及检测系统，包括：变位装置、驱动装置和引导装置。变位装置包括主板以及可动地设置在主板侧边的推动件；驱动装置与主板连接，用于驱动变位装置移动；引导装置与推动件接触后，可使推动件在第一状态和第二状态之间切换；其中，推动件在第一状态时的最高点高于在第二状态时的最高点。由此，在检测装置对物体进行检测时，推送机构可对物体进行推动并修正位置，在检测失败后，推送机构可进行避让，以使检测机构完成物体退回操作，进而提高检测效率。
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公开(公告)号：CN119224019A
公开(公告)日：2024-12-31
申请号：CN202411766788.7
申请日：2024-12-04
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/046 , A61B6/03 , A61B6/42 , A61B6/40
Abstract: 本发明的实施例提供一种CT成像系统的成像方法，涉及辐射扫描技术领域。CT成像系统包括：成像通道；M个分布式射线源，至少一个分布式射线源包括q个靶点；N个探测器；M个分布式射线源中的至少一个分布式射线源包括的q个靶点沿第一直线间隔排列，第一直线相对于第一方向倾斜布置。成像方法包括：将待成像对象置于成像通道中；控制至少一个分布式射线源的q个靶点发出射线束，以形成成像区域；利用至少一个探测器探测从至少一个分布式射线源发出并穿过待成像对象的射线，并根据探测到的射线生成投影数据；根据投影数据生成待成像对象的计算机断层扫描图像。出束时间间隔基于第一直线的延伸方向相对于第一方向倾斜的倾斜角度确定。
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公开(公告)号：CN113131870B
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN201911425351.6
申请日：2019-12-31
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 公开了一种对频率进行混频或倍频的装置，包括：金属壳体，所述金属壳体包括盒体和盖体，所述盒体和所述盖体扣合在一起以限定一金属腔体；至少一个变频单元，所述至少一个变频单元包括：微带线，所述微带线位于所述金属腔体内；以及通道结构，所述通道结构包括穿过所述金属壳体并分别与所述微带线耦合的射频信号输入通道、本振信号输入通道和信号输出通道，所述射频信号输入通道所在的平面、所述本振信号输入通道所在的平面和所述信号输出通道所在的平面中的至少两者不共面。该装置装置可以避免射频信号输入通道、本振信号输入通道和信号输出通道存在于同一平面而导致集成度较差的问题。
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