-
公开(公告)号：CN119071127B
公开(公告)日：2025-04-29
申请号：CN202411079638.9
申请日：2024-08-07
IPC: H04L27/233
Abstract: 本发明公开了一种基于特殊采样率的高效相位解调方法，包括利用特殊的采样率保证了待解调信号的频谱对称性，从而仅仅通过特定的延迟操作即可高效地获得外差干涉信号和参考信号的正交信号对；利用特殊采样率下经过特定延迟获得的正交信号对与一对参考信号正交信号对交叉混频及加减的的方式，获得与相位直接相关的正交信号对，可通过反正切、相位展开直接获得相位解调结果。本发明极大地简化了解调流程，仿真实验和实验测试结果表明，该解调方案尤其适用于激光测振仪的校准，与传统的方案相比，本发明极大地降低了对数字处理器性能的要求，有利于推动低成本、高精度的激光干涉法水声新基准的建立。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119003970B
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202411083704.X
申请日：2024-08-08
Abstract: 本发明公开了一种基于最小MSE的单频正弦信号频率、幅值、相位估计方法，包括以M‑Rife算法和HAQSE算法的频率估计结果作为2个初始频率估计结果，利用2个初始频率估计结果和三参数或四参数正弦拟合算法拟合待估计信号，得到相对应的2种拟合结果，并分别计算2种拟合结果与待估计信号之间的MSE，选择MSE较小的估计结果作为频率搜索的起始值。然后在频率搜索的起始值附近区间进行迭代，寻找区间中MSE最小值对应的估计频率即为频率估计结果。本发明不仅可以准确地估计出单频正弦信号的频率，将估计出的频率带入三参数或四参数正弦拟合算法，还可以准确地估计出信号的幅值和相位，从而可以得到单频信号的所有物理量。
-
公开(公告)号：CN119071127A
公开(公告)日：2024-12-03
申请号：CN202411079638.9
申请日：2024-08-07
IPC: H04L27/233
Abstract: 本发明公开了一种基于特殊采样率的高效相位解调方法，包括利用特殊的采样率保证了待解调信号的频谱对称性，从而仅仅通过特定的延迟操作即可高效地获得外差干涉信号和参考信号的正交信号对；利用特殊采样率下经过特定延迟获得的正交信号对与一对参考信号正交信号对交叉混频及加减的的方式，获得与相位直接相关的正交信号对，可通过反正切、相位展开直接获得相位解调结果。本发明极大地简化了解调流程，仿真实验和实验测试结果表明，该解调方案尤其适用于激光测振仪的校准，与传统的方案相比，本发明极大地降低了对数字处理器性能的要求，有利于推动低成本、高精度的激光干涉法水声新基准的建立。
-
公开(公告)号：CN119003970A
公开(公告)日：2024-11-22
申请号：CN202411083704.X
申请日：2024-08-08
Abstract: 本发明公开了一种基于最小MSE的单频正弦信号频率、幅值、相位估计方法，包括以M‑Rife算法和HAQSE算法的频率估计结果作为2个初始频率估计结果，利用2个初始频率估计结果和三参数或四参数正弦拟合算法拟合待估计信号，得到相对应的2种拟合结果，并分别计算2种拟合结果与待估计信号之间的MSE，选择MSE较小的估计结果作为频率搜索的起始值。然后在频率搜索的起始值附近区间进行迭代，寻找区间中MSE最小值对应的估计频率即为频率估计结果。本发明不仅可以准确地估计出单频正弦信号的频率，将估计出的频率带入三参数或四参数正弦拟合算法，还可以准确地估计出信号的幅值和相位，从而可以得到单频信号的所有物理量。
-
公开(公告)号：CN219608772U
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202320856420.4
申请日：2023-04-17
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本实用新型涉及一种压力接触式薄膜材料样品加载装置，样品腔开口设置在样品腔的前侧壁上，激光入射孔和样品腔下方孔同轴设置在样品腔的顶壁和底壁上；套管的顶部设有套管开孔，热电偶的探头和偶丝从套管开孔中穿出并露出于套管外部，套管的顶部从样品腔下方孔垂直进入样品腔内，并与薄膜材料样品的基底背面压力接触，激光从激光入射孔入射到薄膜材料样品的表面。本申请保证热电偶与样品的压力保持固定一致且可调节，从而确保了温度测量的重复性，解决现有光功率分析法相变温度测量装置中热电偶与薄膜样品接触不稳和压力不固定等问题。且热电偶与样品表面非直接接触，避免了样品对探头的污染，进一步确保了温度测量的准确性。
-
公开(公告)号：CN219891139U
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202321155981.8
申请日：2023-05-15
Applicant: 中国计量科学研究院 , 浙江省计量科学研究院
IPC: G01N25/20
Abstract: 本实用新型公开了一种散热膜散热性能测试装置，包括基板，所述基板底端固定有支撑螺纹杆，所述安装板外侧面固定有侧螺栓，所述侧螺栓末端安装有锁定螺母，所述侧螺栓贯穿轨道板底端开设的孔洞，所述轨道板顶部开设有轨道窗，所述顶螺栓顶端安装有顶螺母，所述顶螺栓底端与顶板顶面中心连接固定，所述顶板底面安装有电热源。该散热膜散热性能测试装置，采用新型的结构设计，通过可旋转调节与散热膜相对位置的热源，模拟现实中不同产热部件与散热膜的相对位置，配合可垂直和水平调整位置的温度传感器安装机构，令温度传感器与散热膜的相对位置也能便捷的调整，模拟电子设备内其余部件与产热部件的相对位置，进行准确的性能测试。
-
-
-
-
-
Search Results
16
records
(took 0.037 seconds)
