一种用于热释光探测器一致性筛选的方法

    公开(公告)号:CN116148915A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202211326423.3

    申请日:2022-10-27

    Abstract: 本发明公开了一种用于热释光探测器一致性筛选的方法,该方法包括以下步骤:S1、辐照与测读热释光探测器;S2、确定批分散性;S3、筛选热释光探测器。本发明充分考虑了热释光探测器的重复性和批均匀性,可保障多个探测器单次测量结果的一致性,同时也保障单个热释光探测器重复读取时测量结果的一致性,最终保证热释光剂量测量系统测量结果的准确性和可靠性。对异常数据进行判定和剔除,保证了所筛得的热释光探测器组的科学性和合理性。采用并行筛片,根据测量结果对热释光探测器进行分组,可得到多组分散性为±δ的热释光探测器,既在保障效率的前提下,保证了筛选后热释光探测器测量结果的质量,又可有效提高热释光探测器的使用效率。

    曝光时间可调的脉冲X射线辐射场系统及方法

    公开(公告)号:CN114415228A

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN202210049527.8

    申请日:2022-01-17

    Abstract: 本发明提供了一种曝光时间可调的脉冲X射线辐射场系统,包括:操作台、控制组件、高压发生器、X射线管组件;操作台和控制组件相连接,高压发生器的一端和控制组件相连接,高压发生器的另一端和X射线管组件相连;操作台,用于对控制组件发出调整高压发生器参数的指令;指令包括X射线管组件目标参数值;控制组件,对X射线管组件目标参数值进行格式转换,转换为协议规定格式的X射线管组件目标参数值;高压发生器,根据X射线管组件目标参数值,确定X射线管组件出射的频率和时间;X射线管组件,根据出射的频率和时间,出射X射线。

    用于释光测年仪校准的标准石英样品制备方法

    公开(公告)号:CN119935678A

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202510100906.9

    申请日:2025-01-22

    Abstract: 本发明公开了一种用于释光测年仪校准的标准石英样品制备方法,涉及释光测年技术领域,包括以下步骤:准备石英玻璃前壁、石英玻璃后壁和环形垫;将环形垫置于石英玻璃前壁、石英玻璃后壁之间,其中心孔内放置石英样品,得到完成装载的装载器具;采用铝箔包裹装载器具,将装载器具放置于专用支架之上,并置于参考辐射场的测量点处;对测量点处的空气比释动能率进行测量;计算从空气比释动能到石英吸收剂量的转换系数;计算石英样品的吸收剂量;利用释光测年仪采用单因素方差分析方法,评估石英样品的均匀性;采用辐照后不同时间取出并分别测读的方式,评估石英吸收剂量的稳定性。本发明能够使标准石英样品的装载更为方便,所得剂量更加准确。

    一种用于脉冲X射线剂量测量的平板形空腔电离室及制作方法

    公开(公告)号:CN117690775A

    公开(公告)日:2024-03-12

    申请号:CN202311724770.6

    申请日:2023-12-14

    Abstract: 本发明公开了一种用于脉冲X射线剂量测量的平板形空腔电离室,该电离室包括支撑杆、信号线及腔体。其中,腔体为平板形结构,在腔体内上下侧设有与信号线相接的高压极,腔体内中部位置对称设置有与外框和信号线分别相接的保护极,且对称的所述保护极之间设置有不导通的收集极,以及在保护极和收集极上下且与高压极之间形成有相互屏蔽的灵敏区。该平板形空腔电离室极板间距仅2mm,在300V标称极化电压下,收集时间达到微秒量级,可用于毫秒级脉冲X射线剂量测量,以及还避免两电极直接接触或经固态绝缘件间接接触而产生明显漏电流、进一步减小电离室漏电流、实现极板整体空气等效性,并补偿了低能量段的响应,同时也降低了成本与加工难度等效果。

    能谱-剂量的测量方法及装置

    公开(公告)号:CN114740516A

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202210405305.5

    申请日:2022-04-18

    Abstract: 本发明提供了一种能谱‑剂量的测量方法及装置,方法包括:使用标准放射源对谱仪进行能量刻度,得到道址与能量的转换关系;转换关系通过刻度因子表示;测量n个不同能量的放射源的射线峰,将得到的能谱的能量划分为n个区域,每个区域至少具有一条射线的全能峰位;根据n个区域,对n个放射源进行采谱,得到通过刻度因子进行能量刻度的n个净能谱;依次对n个放射源进行剂量值测量,得到与n个净能谱对应的n个剂量率;计算放射源在n个区域中的计数率和对应的剂量率的关系;关系包括n个能谱‑剂量转换系数,以构建能谱‑剂量函数;根据当前每个区域的剂量率,计算全谱剂量率。

    用于固定式辐射剂量率仪原位校准的方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN114397695A

    公开(公告)日:2022-04-26

    申请号:CN202210051498.9

    申请日:2022-01-17

    Abstract: 本发明提供了一种用于固定式辐射剂量率仪原位校准的方法,包括:在参考辐射场中,对标准设备和拟建数据库型号下的第一待校设备至第n待校设备进行校准,并获取第一放射源产生的第一非扩展齐向场的响应信号,随后建立关于型号‑相对位置关系‑统计数据的数据库,在原位校准时,通过与第一放射源相同型号的第二放射源产生第二非扩展齐向场,并查询当前待校准设备的型号后,根据该型号对应的数据库中的值,得到当前待校准设备的目标原位校准因子。

    一种建立低剂量率水平辐射质的方法

    公开(公告)号:CN114371498A

    公开(公告)日:2022-04-19

    申请号:CN202210051497.4

    申请日:2022-01-17

    Abstract: 本发明提供了一种建立低剂量率水平辐射质的方法,包括:使用标准放射源对谱仪进行能量刻度,得到谱仪的道址与标准放射源的能量的转换关系;在标准辐射质下进行电离室刻度,得到标准辐射质的第一刻度系数;将光机的管电压分别设置为多个预设电压值,并在每个预设电压值下,调整管电流,并在多个预设管电流下,在距光机出口预设距离处通过谱仪测量能谱,通过电离室测量剂量率,并从多个待用过滤片中确定附加过滤,使得剂量率不大于预设的剂量率阈值;每个预设电压值对应一个新辐射质;能谱包括能量和计数率;根据计数率和能量,计算每个预设电压值对应的新辐射质的平均能量;根据标准辐射质的第一刻度系数,得到新辐射质的第二刻度系数。

    曝光时间可调的脉冲X射线辐射场系统

    公开(公告)号:CN217306437U

    公开(公告)日:2022-08-26

    申请号:CN202220116552.9

    申请日:2022-01-17

    Abstract: 本实用新型提供了一种曝光时间可调的脉冲X射线辐射场系统,包括:操作台、控制组件、高压发生器、X射线管组件;操作台和控制组件相连接,高压发生器的一端和控制组件相连接,高压发生器的另一端和X射线管组件相连;操作台,用于对控制组件发出调整高压发生器参数的指令;指令包括X射线管组件目标参数值;控制组件,对X射线管组件目标参数值进行格式转换,转换为协议规定格式的X射线管组件目标参数值;高压发生器,根据X射线管组件目标参数值,确定X射线管组件出射的频率和时间;X射线管组件,根据出射的频率和时间,出射X射线。

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