-
-
公开(公告)号：CN103234496B
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201310106750.2
申请日：2013-03-28
Applicant: 中国计量学院
IPC: G01B21/00
Abstract: 本发明公开了一种三坐标测量机二维平台误差的高精度校正方法。利用精度要求低于或等于待测三坐标测量机二维平台的刚性栅格板作为辅助测量装置，并根据测得的六位姿状态下坐标测量机上各个标记点的坐标，运用基于最小二乘法的自校正算法将待测二维平台误差以及所使用的栅格板标尺误差从原始测量数据中分离出来，由此可实现对三坐标测量机二维平台的高精度校正。本发明可有效地获得待测的三坐标测量机二维平台误差，其测量精度可达到亚微米量级；同时该发明无需昂贵的专用高精度辅助装置，具有较高的可靠性，为三坐标测量机二维平台误差提供了一种高精度的校正方法，并具有极高的实际应用价值。
-
公开(公告)号：CN105371752A
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201510808524.8
申请日：2015-11-19
Applicant: 中国计量学院
Abstract: 本发明涉及一种条纹对比度可调的偏振型米勒干涉装置及测量方法。偏振型米勒干涉装置包括依次从上到下设置的CCD探测器、成像透镜、检偏器、四分之一波片、分光板、显微物镜、参考反射镜和纳米线栅偏振器及依次从右到左设置在分光板右侧的偏振激光器、偏振器和准直扩束系统。测量方法为：以45°旋转步长、沿同一方向对检偏器的透光轴进行5次旋转，在CCD探测器上得到5幅相位分别相差90°的移相干涉条纹图，再利用五步移相算法即可实现测量；调节偏振器的透光轴方向即可实现条纹对比度的调节。本发明能方便地调节条纹对比度，有效解决纳米线栅偏振器反射光消光比低而导致的移相干涉条纹对比度不一致问题，满足低反射率待测样品的高精度测量。
-
公开(公告)号：CN105333824A
公开(公告)日：2016-02-17
申请号：CN201510691103.1
申请日：2015-10-22
Applicant: 中国计量学院
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明提供一种基于片光的货车侧面防护装置安装尺寸测量系统及测量方法，涉及测试技术领域。线激光光源发出片光照射到被测防护装置，摄像机的摄像头光轴与片光的光平面成夹角α，摄像机和线激光光源线性移动，得到一系列被测防护装置轮廓条纹构成的图像，使用基于亚像素精度的边缘提取算法提取条纹，最终得到被测防护装置安装尺寸。本发明解决了现有技术中检测货车侧面防护装置安装尺寸误差较大、对其使用监督力度也不够的技术问题。本发明有益效果为：只要货车进入到测试范围，自动检测货车防护装置安装尺寸并及时输出显示。结构简单合操作方便。占用空间小使用场合广泛。加强对货车防护装置使用监督力度。测量精度高，减轻检测人员劳动强度。
-
公开(公告)号：CN102829733B
公开(公告)日：2015-03-11
申请号：CN201210275689.X
申请日：2012-08-03
Applicant: 中国计量学院
Inventor： 王道档
Abstract: 本发明公开了一种条纹对比度可调的大数值孔径点衍射干涉装置及方法。线偏振激光器经二分之一波片、第一个四分之一波片和准直扩束系统后产生平行光，由显微物镜会聚到点衍射板的衍射针孔上，检测波前W1通过第二个四分之一波片后会聚于O点处得到球面波前W1'，经待测球面反射回来的反射光波再次通过第二个四分之一波片后得到旋向与参考波前W2相反的圆偏振光，再经点衍射板上的金属反射膜反射，检测波前W1和参考波前W2会合后经过准直透镜变为平面波，经过第三个四分之一波片、检偏器和成像透镜后于探测器上得到干涉条纹，探测器实时采集对应干涉图。本发明简化了点衍射干涉调整难度，为大数值孔径球面尤其是低反射率球面的高精度检测提供了可行方法。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103267485A
公开(公告)日：2013-08-28
申请号：CN201310183535.2
申请日：2013-05-15
Applicant: 中国计量学院
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种点衍射三维绝对位移测量方法。首先利用CCD光电探测器采集由测量探头产生的两列相干球面波得到的干涉场，利用快速傅里叶变换(FFT)方法直接对单幅干涉图进行处理，从而解调出干涉场的相位信息分布，在利用所得相位信息分布的基础上，选取多个像素点出的相位值，组成非线性超定方程组，运用高斯牛顿迭代算法重构出测量探头两球面波出射端的三维坐标，并取两球面波出射端的中心坐标作为测量探头的三维坐标，进而得到被测目标的三维绝对位移量。本发明为三维绝对位移的无导轨测量提供了一种高精度的测量方法，在光学测量技术领域里具有重要应用价值。
-
公开(公告)号：CN103217104A
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN201310084744.1
申请日：2013-03-15
Applicant: 中国计量学院
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种点衍射三维绝对位移无导轨测量装置及方法。线偏振激光器的线偏振光经第一个二分之一波片后，被偏振分光棱镜分成反射光和透射光两部分。反射光被安装于移相器上的反射镜反射前后共两次经过四分之一波片，并透过偏振分光棱镜，经光纤耦合器耦合到一根单模光纤上；透射光通过第二个二分之一波片后，经光纤耦合器耦合到另一根单模光纤上。将两根光纤的末端集成于一个点衍射光纤探头并安装在发生位移的被测目标上，可用探测器实时采集干涉图。根据所得干涉场相位分布，组成非线性超定方程组，运用高斯牛顿迭代算法重构出被测目标的三维绝对位移。本发明易集成且无需导轨，为点衍射三维绝对位移无导轨的高精度测量提供了可行方法。
-
公开(公告)号：CN102829733A
公开(公告)日：2012-12-19
申请号：CN201210275689.X
申请日：2012-08-03
Applicant: 中国计量学院
Inventor： 王道档
Abstract: 本发明公开了一种条纹对比度可调的大数值孔径点衍射干涉装置及方法。线偏振激光器经二分之一波片、第一个四分之一波片和准直扩束系统后产生平行光，由显微物镜会聚到点衍射板的衍射针孔上，检测波前W1通过第二个四分之一波片后会聚于O点处得到球面波前W1'，经待测球面反射回来的反射光波再次通过第二个四分之一波片后得到旋向与参考波前W2相反的圆偏振光，再经点衍射板上的金属反射膜反射，检测波前W1和参考波前W2会合后经过准直透镜变为平面波，经过第三个四分之一波片、检偏器和成像透镜后于探测器上得到干涉条纹，探测器实时采集对应干涉图。本发明简化了点衍射干涉调整难度，为大数值孔径球面尤其是低反射率球面的高精度检测提供了可行方法。
-
公开(公告)号：CN204788248U
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201520425131.4
申请日：2015-06-18
Applicant: 中国计量学院
IPC: G01B11/00
Abstract: 本实用新型涉及一种基于机器视觉技术货车侧防护栏安装尺寸测量系统。解决现有技术中人工检验货车防护栏存在读数误差、环境误差等随机误差，影响测量结果，测量效率较低的问题。系统包括有测距模块、图形采集模块和图形处理模块，图形采集模块包括摄像机单元，测距模块与摄像机单元连接，图形处理模块包括图像信息处理单元，摄像机单元与图像信息处理单元相连。本实用新型的优点是不用接触货车侧面防护装置，就能快速有效测量出货车侧面防护装置的安装尺寸，检测效率更高。
-
公开(公告)号：CN205607812U
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201620296430.7
申请日：2016-04-11
Applicant: 中国计量学院
IPC: G01N15/02
Abstract: 本实用新型提供一种颗粒粒度检测装置，涉及测试技术领域。激光器发出的激光束依次通过扩束准直系统、样品池和分光棱镜，激光束分成两路，一路依次经过偏振片Ⅰ、傅里叶透镜Ⅰ射入光电探测器Ⅰ，另一路依次经过偏振片Ⅱ、傅里叶透镜Ⅱ射入光电探测器Ⅱ，光电探测器Ⅰ和光电探测器Ⅱ分别与A/D转换模块电连接。本实用新型解决了现有技术中颗粒粒度检测装置结构复杂、操作不方便、使用成本高的技术问题。本实用新型有益效果为：提高了颗粒粒度测量可靠性。结构简单合理，制造成本低。操作方便，便于携带，适应在线检测。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
25
records
(took 0.021 seconds)
