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公开(公告)号:CN110207618B
公开(公告)日:2021-02-05
申请号:CN201910609168.5
申请日:2019-07-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的三维扫描测量数据的表面线数据提取方法,属于分析及测量控制技术领域。本发明通过人机交互的方式构造初始表面线;然后沿初始表面线构造等间隔切片,并通过投影的方式获得截面线数据;最后分别采用模式向量法、重心计算法和最大曲率法计算上述三种边缘上的表面线上的点。本发明通过构造切片提取有限的数据处理对象,避免对所有扫描测量数据进行处理,提高表面线数据提取效率;利用所述三维扫描测量数据的表面线数据提取方法提取测量表面线数据,并解决需要提取测量表面线数据的工程技术领域相关问题。所述需要提取测量表面线数据工程应用领域包括医疗诊断、航空等零部件线轮廓的检测、古文物数字化建档、虚拟现实等领域。
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公开(公告)号:CN111964607A
公开(公告)日:2020-11-20
申请号:CN202010860100.7
申请日:2020-08-24
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的一种应用于大尺寸扫描测量仪器校准的曲面标准装置,属于几何量校准领域。本发明主要由四部分组成,一是安装外部支撑框架的重型旋转台,二是安装曲面标准器的外部支撑框架,三是高精度曲面标准器,四是热涨释放组件。本发明提供可旋转的大型的曲面标准及系列参考目标,并有效的保证高精度曲面标准器在实验室温度变化允许的范围内,提供稳定的曲面实物标准及参考目标空间坐标标准,能够对大尺寸扫描测量仪器进行大型曲面轮廓测量误差校准,方便实现被校准设备在多种入射角条件下的性能评价,同时在满足入射角的要求下缩小整个校准空间。所述的大尺寸扫描测量仪器包括激光雷达、激光跟踪扫描仪、地面型扫描仪、手持式扫描仪等测量系统。
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公开(公告)号:CN108375350B
公开(公告)日:2019-12-24
申请号:CN201711101340.3
申请日:2017-11-09
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明提供了一种基于图像的高精度筒弹角测量装置,该装置的在弹体末端的锁弹器上安装有末端基准引出装置,改装置用于将装配导向钮后的两个弹体上不可测量的基准引出;弹筒基准引出装置安装在弹筒前端的双螺旋导轨的端面上,并通过弹筒基准引出装置上安装的双销钉靠紧在双螺旋导轨的内侧面上,从而将弹筒内不可见的弹筒基准引出;单个CCD通过变焦镜头依次对焦在弹筒基准引出装置上和末端基准引出装置上以获取大、小摄影测量码盘图像。通过提取大、小摄影测量码盘上的编码线识别角度并提取点角点坐标,经过消畸变等处理后,通过最佳拟合的方法求出角点靶标旋转前后旋转矩阵即可精确求出导弹定向导航器件初始角。
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公开(公告)号:CN110207618A
公开(公告)日:2019-09-06
申请号:CN201910609168.5
申请日:2019-07-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的三维扫描测量数据的表面线数据提取方法,属于分析及测量控制技术领域。本发明通过人机交互的方式构造初始表面线;然后沿初始表面线构造等间隔切片,并通过投影的方式获得截面线数据;最后分别采用模式向量法、重心计算法和最大曲率法计算上述三种边缘上的表面线上的点。本发明通过构造切片提取有限的数据处理对象,避免对所有扫描测量数据进行处理,提高表面线数据提取效率;利用所述三维扫描测量数据的表面线数据提取方法提取测量表面线数据,并解决需要提取测量表面线数据的工程技术领域相关问题。所述需要提取测量表面线数据工程应用领域包括医疗诊断、航空等零部件线轮廓的检测、古文物数字化建档、虚拟现实等领域。
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公开(公告)号:CN108362319A
公开(公告)日:2018-08-03
申请号:CN201711101334.8
申请日:2017-11-09
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01D11/30
Abstract: 本发明是一种自动升降全向移动大尺寸精测平台,本发明采用全向移动底座实现主体支撑筒支撑及其全向移动,通过主体框架内部空间安装充供电及控制系统,四角上安装的四个手动螺旋升降机支撑后增加了支撑后测量的稳定性;采用一种基于碳纤维筒的多级同步升降装置实现主支撑实现主支撑同步伸缩及自动锁紧;主体支撑筒通过外层底部固定支撑杆保证底部安装的稳定性;外层随动碳纤维杆与碳纤维杆之间均通过二级导向环导向,主支撑筒升降时随动碳纤维杆跟着进行伸缩,主支撑筒升降时随动碳纤维杆只能俯仰及伸缩运动不能绕主体支撑筒旋转运动从而增加主支撑筒升高后的稳定性。本发明达到了稳定性好、自动升降、热涨系数小、升高后自动机械锁紧、收缩后尺寸紧凑运输时无需拆卸的目的。
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公开(公告)号:CN119687830A
公开(公告)日:2025-03-25
申请号:CN202411907579.X
申请日:2024-12-23
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01B11/24 , G01B11/00 , G01S17/08 , G01S7/481 , F16M11/04 , F16M11/08 , F16M11/10 , F16M11/18 , F16M11/32
Abstract: 本发明公开了一种跟踪扫描测量方法和计算机设备,所述跟踪扫描测量方法应用于跟踪扫描测量系统,该跟踪扫描测量系统包括二维测角驱动装置、接触激光跟踪仪、非接触激光扫描仪,在跟踪坐标测量模式下,通过控制二维测角驱动装置带动接触激光跟踪仪的跟踪扫描设备按照设定的移动策略实时跟踪接触激光跟踪仪的跟踪合作目标以获取目标坐标系下的坐标数据;在扫描测量模式下,通过控制二维测角驱动装置带动非接触激光扫描仪按照设定的扫描策略扫描待测量面以实时获取待测量面在目标坐标系下的扫描点云数据。本发明可以通过一台仪器实现高精度跟踪坐标测量和高效率扫描测量,显著提升检测效率。
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公开(公告)号:CN119687829A
公开(公告)日:2025-03-25
申请号:CN202411901077.6
申请日:2024-12-23
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01B11/24 , G01B11/00 , G01S17/08 , G01S7/481 , F16M11/04 , F16M11/08 , F16M11/10 , F16M11/18 , F16M11/32
Abstract: 本发明公开了一种跟踪扫描测量集成系统、跟踪扫描测量方法及平台,控制装置在跟踪测量模式下,控制激光发射源向接触激光跟踪装置发射测距激光,并根据接触激光跟踪装置反馈的光测距信号控制二维测角驱动装置和激光测距装置带动接触激光跟踪装置实时跟踪设定的跟踪合作目标,以实时获取跟踪合作目标与待测量面接触点的坐标数据;在扫描测量模式下,控制激光发射源向非接触激光扫描装置发射测距激光,并根据非接触激光扫描装置反馈的光测距信号控制二维测角驱动装置和激光测距装置带动非接触激光扫描装置扫描待测量面以获取扫描点云数据。本发明可通过一台仪器实现高精度跟踪坐标测量和高效率扫描测量,显著提升检测效率。
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公开(公告)号:CN119554957A
公开(公告)日:2025-03-04
申请号:CN202411658028.4
申请日:2024-11-19
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种转向架自动检测调整装置,包括龙门运动单元支撑装置、龙门式运动测量单元和龙门式运动调整单元;龙门运动单元支撑装置包括设备基础、龙门运动底部调整导轨、龙门运动顶部调整导轨、横梁和立柱,两个设备基础对称布置在龙门运动单元支撑装置两侧,在每侧的设备基础上安装有两个立柱,高低双层台阶结构的横梁安装在两个立柱上,横梁的下台阶安装有龙门运动底部调整导轨,用于安装龙门式运动测量单元并实现其沿龙门运动底部调整导轨的位移,横梁的上台阶安装有龙门运动顶部调整导轨,用于安装龙门式运动调整单元并实现其沿龙门运动顶部调整导轨的位移。本发明能够适用多种不同规格种类的转向架测量调整,测量范围广、调整效率高。
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公开(公告)号:CN117664025B
公开(公告)日:2024-12-31
申请号:CN202311639009.2
申请日:2023-12-01
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种大尺寸非接触测量设备校准用曲面标准器以及校准方法,曲面标准器包括二次曲面体、水平位移平台、竖直升降架,二次曲面体包括凹曲面面板和凸曲面面板,凹曲面面板和凸曲面面板的外边缘布设有均匀分布的标准球,凹曲面面板、凸曲面面板和标准球的表面均经过哑光处理;水平位移平台用于在水平方向上调整待校准的测量设备与二次曲面体的距离,水平位移平台的安装方向指向二次曲面体的中心方向;竖直升降架安装在水平位移平台上,能够沿水平方向进行位移,竖直升降架用于安装测量设备并使测量设备沿竖直方向进行位置调整,保证测量设备与二次曲面体之间的对中关系。本发明能够实现大尺寸非接触测量设备的轮廓扫描测量误差校准。
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公开(公告)号:CN118036105A
公开(公告)日:2024-05-14
申请号:CN202311376850.7
申请日:2023-10-23
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G06F30/10 , G06F30/20 , G06F111/04
Abstract: 本发明公开了一种封闭三维轮廓线测量数据与理论设计轮廓线配准方法和装置,所述方法包括:对理论设计轮廓线进行等间隔均匀离散化处理,建立两组轮廓线数据的对应关系;计算两组轮廓线数据的法向,建立两组轮廓线数据的所有法向对应关系;计算每种法向对应关系下,两组轮廓线数据间的法向偏差和,以法向偏差和最小为目标,实现两组轮廓线数据的空间姿态的精确配准,通过中心点移动实现两组轮廓线数据空间位置的初始配准;以欧式距离最小为约束条件构建两组轮廓线数据间的对应点位,以所有对应点位的距离平方和最小为目标,实现两组轮廓线数据空间位置的精确配准。本发明能够实现封闭三维轮廓线测量数据与理论设计轮廓线的精确配准。
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