公开(公告)号：CN111141977A

公开(公告)日：2020-05-12

申请号：CN201911389944.1

申请日：2019-12-30

Applicant: 中国航天标准化研究所

Inventor： 徐洪武 ,  陈凤熹 ,  朱炜 ,  王伟 ,  蔡健平 ,  张晓军 ,  伍招冲 ,  施帆 ,  松钛 ,  张睿 ,  宋汝宁

IPC: G01R31/00 ,  G01M13/00 ,  G01M99/00

Abstract: 本发明提供一种基于多应力加速寿命模型的试验时间计算方法，解决了多应力条件下(振动、温度、湿度、电等多种应力参数)电子产品贮存期验证的问题。步骤一、分析贮存期指标，得到运输时间，存放时间，加电待机时间；步骤二、分解贮存剖面，得到运输阶段的振动量级、存放阶段的温度湿度值、加电待机阶段的电压值；步骤三、分析试验应力，得到运输阶段的振动应力、存放阶段的最高温度应力和最高湿度应力、加电待机阶段的最高电应力；步骤四、计算运输阶段的加速因子、存放阶段的加速因子和加电待机阶段的加速因子；步骤五、根据加速因子计算试验时间。

公开(公告)号：CN116244882A

公开(公告)日：2023-06-09

申请号：CN202211431202.2

申请日：2022-11-14

Applicant: 中国航天标准化研究所

Inventor： 蔡健平 ,  徐洪武 ,  王伟 ,  伍招冲 ,  张晓军 ,  朱炜 ,  陈凤熹 ,  张睿 ,  宋汝宁

IPC: G06F30/20 ,  G06F119/02 ,  G06F119/04

Abstract: 本发明公开了一种电子产品加速贮存寿命试验评估方法，将加速贮存试验分为恒定温度试验和温度步进试验两部分进行，温度步进试验在时间上接续在恒定温度试验之后；恒定温度试验中，将确定的试验品数量的受试产品置于恒定温度下经过所述试验时间，而温度步进试验则是在恒定温度试验的试验温度基础上按照一设定的温度梯度升温，直至试验品全部出现故障，并记录试验品出现故障时的温度和试验时长以及对应的失效元器件，形成失效的薄弱环节清单，并分析试验的加速因子，进一步计算受试产品的安全贮存期或危险贮存寿命；使用本发明能够提升电子产品贮存寿命或贮存期指标验证的高效性和准确性。

公开(公告)号：CN111880023B

公开(公告)日：2023-05-16

申请号：CN202010550156.2

申请日：2020-06-16

Applicant: 中国航天标准化研究所

Inventor： 徐洪武 ,  陈凤熹 ,  朱炜 ,  王喜奎 ,  韩天龙 ,  王伟 ,  蔡健平 ,  施帆 ,  伍招冲 ,  张睿 ,  宋汝宁 ,  张晓军

IPC: G01R31/00

Abstract: 本发明公开了基于多级加速因子的弹上电子产品贮存期加速试验方法，能够计算出的试验时间更加符合武器装备电子产品的真实贮存期，从而使得验证结果更精确。该方法具体为：获取弹上电子装备的贮存期及贮存可靠度。对弹上电子装备所有的电子元器件获取激活能和失效率，并按照失效率降序排序并设定权重，所有电子元器件的激活能加权求和作为弹上电子装备的激活能；确定贮存期加速试验的最高应力和最低应力，并划分应力等级；选取加速试验模型，结合弹上电子装备的激活能，针对所划分的每个应力等级均求解一个加速因子；结合弹上电子装备的贮存期、贮存可靠度以及所有加速因子之和，确定试验时间ta；针对每个应力等级，均进行为期ta的贮存期加速试验。

公开(公告)号：CN211785841U

公开(公告)日：2020-10-27

申请号：CN201922293334.3

申请日：2019-12-18

Applicant: 中国航天标准化研究所

Inventor： 蔡健平 ,  宋汝宁 ,  陈凤熹 ,  徐洪武 ,  王伟 ,  张睿 ,  伍招冲 ,  张晓军 ,  朱炜

IPC: G01R31/00 ,  G01D21/02

Abstract: 本实用新型提供一种电子设备贮存期试验数据采集装置，提高了试验的效率和准确性。该装置中试验箱外测试数据接口通过数据线分别与试验样品和数据采集装置连接，用于将试验箱内进行试验的所述试验样品的测试信号发送到数据采集装置；试验箱温湿度数据接口和数据采集装置连接，用于将试验箱内的湿度、温度数据发送到数据采集装置；数据采集装置的输入端分别与所述试验箱外测试数据接口、试验箱温湿度数据接口连接，输出端与所述数据保护装置连接，用于将采集的试验数据发送数据保护装置；数据保护装置与数据采集装置连接，用于通过硬件加密的方法来存贮数据采集装置采集的试验数据。