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公开(公告)号：CN112695264A
公开(公告)日：2021-04-23
申请号：CN202011387547.3
申请日：2020-12-02
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: C22F1/18 , C22F1/02 , G01N23/20008 , G01N23/20 , G01N23/203
Abstract: 一种制备不同取向的大等轴晶粒方法，具体为：先把金属材料通过轧机进行轧制变形，不同的轧速和下压量会导致金属材料形成的枳构不同，进而获得不同取向的等轴晶粒；然后对不同轧制变形后的样品进行石英管封装，并且抽真空充惰性气体进行保护；随后对封装好的样品在高温热处理炉中进行高温处理，热处理时间大于等于1小时，并且随炉冷却至室温，冷却速度越慢越好；最后取出样品，观察金相并且通过EBSD技术测定取向，通过线切割机对样品进行不同方向的切割，进而获得不同取向的大等轴晶粒。
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公开(公告)号：CN109142402B
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN201811138448.4
申请日：2018-09-28
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N23/02 , G01N23/20 , G01N23/203
Abstract: 本发明的目的是提供一种多晶材料单个晶粒应力状态的TKD确定方法，其特征在于：首先确定要研究的单个晶粒，确定该晶粒以及周围几个晶粒的位错密度是否有数量级的差别，如果有数量级的差别，即可进一步分析，确定晶粒内部开动的滑移系；然后采用透射菊池衍射分析技术，得出这些晶粒的具体的取向分布；在HKL Channel 5系统的施密特因子计算部分中输入所得滑移系，同时调整宏观受力方向，使得获得的施密特因子值与预测的结果一致，那么此宏观力即是这几个晶粒的受力方向，也即是某一晶粒的受力方向。该方法适用于任何晶体材料，能很好地计算出材料内部单个晶粒在变形过程中具体的应力状态，为研究多晶材料的微观变形机制提供了一种确切且行之有效的方法。
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公开(公告)号：CN111220633A
公开(公告)日：2020-06-02
申请号：CN201811416039.6
申请日：2018-11-26
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N23/203 , G01N23/2206 , G01N23/2251
Abstract: 本发明的目的在于提供通过EBSD技术提取晶体中特定晶面的方法，包括以下步骤：1)制备EBSD样品；2)对EBSD样品进行扫描，获得选定的观察面的不同取向晶面的信息；3)通过CHANNEL5软件处理EBSD系统获取的不同取向晶面的信息：先通过软件得出该晶体的IPF图；再导出极图和反极图，选定我们要抽取那种类型晶面的极图，观察要抽出的晶面极图中心内晶粒的颜色，确定该晶面相对应的颜色表示；最后用本申请所叙述的方法提取出晶体中某种类型的晶面。通过该方法可以分析晶体内某种特殊晶面的尺寸、分布，对晶体枳构，晶体氧化腐蚀等方面的影响；同时，通过EBSD原位观察，实现不同热处理后，某些特殊晶面单独抽取，能够了解特殊晶面的形成、长大过程随温度的变化。
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公开(公告)号：CN111097802A
公开(公告)日：2020-05-05
申请号：CN201911200582.7
申请日：2019-11-29
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: B21B38/00
Abstract: 本发明提供了一种通过Gleeble压缩测量轧制过程温升的方法：1)加工热压缩试样；2)焊接热电偶；3)设置参数进行压缩实验；4)计算测量试样外表面的温升；5)计算测量相同条件下轧件中心部位的温升。通过该方法可以在Gleeble热力模拟试验机上进行压缩试验来模拟合金板坯或板材的轧制变形过程，根据Gleeble压缩试验所设定的温度和记录的实时温度，计算得到各变形条件下试样外表面的温升；根据实验所测定的温升、热扩散率、比热、导热系数、导热速率值以及轧件接触区尺寸，应用到轧制过程中计算测量相同条件下轧件中心部位的温升。使用该方法测量轧制温升，可以为锆合金的轧制等变形工艺提供技术支持，是一种通过Gleeble压缩测量轧制过程温升有效的研究方法。
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公开(公告)号：CN110940683A
公开(公告)日：2020-03-31
申请号：CN201911126574.2
申请日：2019-11-18
Applicant: 中国科学院金属研究所
Abstract: 本发明的目的是通过维氏硬度计结合透射电镜实现原位透射压缩观察，从而提供一种简单、方便、有效、准确地实现原位透射压缩观察的方法。该方法具体步骤为：制备透射样品，通过透射电镜观察记录样品薄区的原始形貌；把透射样品放在平台的圆形凹槽上，并用一定载荷的维氏硬度压头在透射样品孔周围进行压缩，记录压痕的对角线大小以及硬度值；最后在透射电镜下观察压缩部分的薄区组织形貌变化，对比压缩前的组织形貌，进而实现原位的透射压缩观察。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110031344A
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201810066810.5
申请日：2018-01-24
Applicant: 中国科学院金属研究所
Abstract: 一种材料剪切疲劳性能测试方法，使用专门的剪切疲劳装置，剪切疲劳装置所用材料的硬度不低于500HV；首先装配剪切疲劳装置和样品，使得上活动剪切刃(6)、下活动剪切刃A(7)和下活动剪切刃B(8)均与样品紧密贴合；保证样品与剪切疲劳装置构成一体化结构，使得受到交变剪切力作用的截面保持不变；最后将装好样品的剪切疲劳装置固定在疲劳试验机上，设定载荷与频率，进行剪切疲劳实验，可以得出材料在指定应力下的剪切疲劳寿命。本发明突破现有材料剪切疲劳性能测试方法的瓶颈，装置简单，易操作，成本低，适用范围广，技术效果优良；在此基础上还可以拓展得到更多的延伸应用。本发明具有可预期的较为巨大的经济价值和社会价值。
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公开(公告)号：CN112611661B
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202011370476.6
申请日：2020-11-30
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N3/42 , G01N3/06 , G01N23/20 , G01N23/20058 , G01N23/203 , G01N23/20008 , G01N23/2251
Abstract: 一种判断滑移类型的方法，具体为：先制备EBSD块状样品，通过EBSD标定晶体取向，并使用不同载荷的维氏硬度压头对EBSD测定的晶粒进行原位压缩；由于压缩变形后该取向晶粒就会发生变形，进而在晶粒的表面形成滑移线；对要测定区域的不同晶粒进行硬度测试，结合压痕的几何应力分析，计算不同滑移开动时的Schmid因子值；然后通过滑移线和三维晶体结构进行对比，结合位错滑移线的传播方向，所计算的不同滑移系的Schmid因子值以及滑移线之间相互交叉的角度，初步判断滑移类型；最后在扫描电镜上，通过倾转扫描样品台，记录不同角度倾转时滑移台阶的宽度变化，结合EBSD测定的晶体取向，获得理论上不同滑移类型的台阶宽度变化，然后与实验结果相对比，综合判断出滑移类型。
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公开(公告)号：CN109900727B
公开(公告)日：2021-11-09
申请号：CN201910202346.2
申请日：2019-03-18
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N23/203 , G01N23/2005
Abstract: 本发明旨在提供一种通用的金属材料EBSD样品制备的电解抛光方法，以提高合金EBSD试样制备的质量、效率以及稳定性。该方法首先对电解样品进行前期预处理，然后配制仅含有高氯酸和无水乙醇的电解抛光液，最后以不锈钢片为阴极，以所需电解抛光的样品为阳极，在低温和弱电流下进行电解抛光。该方法不仅设备简单，实用性强，操作简便，而且适用于各种金属材料EBSD样品制备，在制备过程中不需要调试电解抛光参数，试验重复性高，样品制备效果好，具有较好的经济效益和推广价值。
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公开(公告)号：CN112577984A
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN202011236327.0
申请日：2020-11-09
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N23/2202 , G01N23/20008
Abstract: 本发明属于块状样品制备方法领域，特别涉及一种观察锆合金变形行为的块状样品制备方法，具体步骤依次为：制作两个块状样品、研磨、电解抛光、两个块状样品粘黏、热镶嵌、维氏硬度载荷加载、清洗、扫描分析。本发明制备方法操作简单，并且可以在同一样品上开展多种晶体取向的锆合金的三维变形特征研究工作，减少了反复制样的麻烦。采用本发明方法，可以同时获得维氏硬度压痕附近以及压痕尖端下方的锆合金的变形特征，可以直接根据变形特征确定压痕作用下的锆合金受力状态，并构建三维空间的锆合金变形特征，为研究锆合金的变形行为提供了便利。
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公开(公告)号：CN112577797A
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN202011236377.9
申请日：2020-11-09
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N1/28 , G01N1/32 , G01N23/20008
Abstract: 本发明涉及一种透射电镜观察分析样品的制备方法，具体地指一种用于透射电镜原位观察位错滑移迹线的样品制备方法，具体步骤为：样品切割与处理；表面抛光；维氏硬度加载；减薄及后续观察分析。本发明试样的制备相对简单，不需要高精密的仪器设备；采用本发明方法，可以准确确定加载力的方向和大小，原位确定压痕附近的滑移迹线的特征；借助透射电镜不仅可以观察位错滑移迹线特征，而且通过压痕定位达到原位观察分析材料在外加载荷作用下位错滑移迹线特征，从而达到原位研究材料的微观变形的目的。
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