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公开(公告)号：CN110596068A
公开(公告)日：2019-12-20
申请号：CN201910963878.8
申请日：2019-10-11
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明属于光学成像技术领域，具体涉及了一种基于线扫描的条带序列切片光学成像装置及成像方法，旨在解决现有技术无法实现条带序列切片连续成像的问题。本发明装置包括：条带，用于序列放置生物组织序列切片；条带卷取装置、条带供给装置，分别与条带两端固定，分别用于均速旋转卷取条带以及供给条带；一字线光源、线阵图像传感器，设置于条带两侧或同一侧，在条带传动状态下扫描序列切片；图像处理单元，接收线阵图像扫描装置发送的一系列线阵图像，并生成条带序列切片图像。本发明通过条带卷取及供给装置带动条带传送切片，采用线阵图像传感器依次逐行扫描条带，最终通过图像处理单元生成序列图像，图像分辨率高、低畸变，生成图像效率高。
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公开(公告)号：CN106407988B
公开(公告)日：2019-11-26
申请号：CN201610802612.1
申请日：2016-09-05
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于电镜序列切片图像的突触检测方法。其涉及模式识别和神经学领域，具体地，该方法包括对电镜序列切片图像进行拼接对准；接着针对拼接对准后的单层电镜序列切片图像，利用Adaboost算法进行突触检测；然后基于突触特征进行突触识别，最后利用上下文线索进行突触过滤，并基于突触过滤的结果，进行突触的三维重构。通过本发明实现了高效、精准的突触检测。
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公开(公告)号：CN107976458A
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：CN201710936186.5
申请日：2017-10-10
Applicant: 中国科学院自动化研究所
IPC: G01N23/203
Abstract: 本发明涉及一种低能量背散射电子探测器，该探测器包括半导体探测基底和设置在所述基底表面的覆膜，所述覆膜的材料为：铍、碳或石墨烯，或者这三种材料的任意组合。所述覆膜的厚度≤10nm。所述低能量背散射电子探测器包括第一内圈部分和第二外圈部分，所述第一内圈部分为环形，所述第二外圈部分包括绕所述第一内圈部分均匀地周向设置的多个子部分，操作时对各个部分探测的信号进行加和处理可得到样品的成分信息，作差处理可得到样品在连接各部分探测器方向上的形貌信息；多个部分可以独立工作或协同工作，可以分别得到样品的成分像或形貌像。本发明不但具有较强的电子穿透能力，且具有较好的探测效率。
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公开(公告)号：CN110596068B
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN201910963878.8
申请日：2019-10-11
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明属于光学成像技术领域，具体涉及了一种基于线扫描的条带序列切片光学成像装置及成像方法，旨在解决现有技术无法实现条带序列切片连续成像的问题。本发明装置包括：条带，用于序列放置生物组织序列切片；条带卷取装置、条带供给装置，分别与条带两端固定，分别用于均速旋转卷取条带以及供给条带；一字线光源、线阵图像传感器，设置于条带两侧或同一侧，在条带传动状态下扫描序列切片；图像处理单元，接收线阵图像扫描装置发送的一系列线阵图像，并生成条带序列切片图像。本发明通过条带卷取及供给装置带动条带传送切片，采用线阵图像传感器依次逐行扫描条带，最终通过图像处理单元生成序列图像，图像分辨率高、低畸变，生成图像效率高。
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公开(公告)号：CN112213343A
公开(公告)日：2021-01-12
申请号：CN202011393781.7
申请日：2020-12-03
Applicant: 中国科学院自动化研究所
IPC: G01N23/2251 , G01N23/2202
Abstract: 本发明属于生物材料表面结构表征技术领域，具体涉及一种塑料条带承载生物超薄切片快速成像方法、系统、装置，旨在解决现有技术中塑料条带表面生物超薄切片在成像过程中速度慢、成像衬度差及易受电子辐照损伤的问题。本申请通过对塑料条带承载生物超薄切片电镜成像前准备照料；避免电镜高束流密度下成像生物切片材料表面电子辐照损伤，实现电镜图像快速获取。该方法通过调节电镜的物镜光阑孔径大小，获得相对较高的成像束流密度，控制特定计量的电子在样品表面的注入速度及作用时间，在生物超薄切片与承载塑料条带间形成电子永久保护层，进而避免正式成像时高束流密度下生物切片表面的电子辐照损伤，提高电镜成像速度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107917924A
公开(公告)日：2018-04-17
申请号：CN201710935508.4
申请日：2017-10-10
Applicant: 中国科学院自动化研究所
IPC: G01N23/203
Abstract: 本发明涉及一种低能量背散射电子探测器，该探测器包括半导体探测基底和设置在所述基底表面的覆膜，所述覆膜的材料为：铍、碳或石墨烯，或者这三种材料的任意组合。所述覆膜的厚度≤10nm。所述低能量背散射电子探测器包括第一内圈部分和第二外圈部分，所述第一内圈部分为环形，所述第二外圈部分包括绕所述第一内圈部分均匀地周向设置的多个子部分，操作时对各个部分探测的信号进行加和处理可得到样品的成分信息，作差处理可得到样品在连接各部分探测器方向上的形貌信息；多个部分可以独立工作或协同工作，可以分别得到样品的成分像或形貌像。本发明不但具有较强的电子穿透能力，且具有较好的探测效率。
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公开(公告)号：CN106407988A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201610802612.1
申请日：2016-09-05
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于电镜序列切片图像的突触检测方法。其涉及模式识别和神经学领域，具体地，该方法包括对电镜序列切片图像进行拼接对准；接着针对拼接对准后的单层电镜序列切片图像，利用Adaboost算法进行突触检测；然后基于突触特征进行突触识别，最后利用上下文线索进行突触过滤，并基于突触过滤的结果，进行突触的三维重构。通过本发明实现了高效、精准的突触检测。
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公开(公告)号：CN110991541B
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN201911248845.1
申请日：2019-12-09
Applicant: 中国科学院自动化研究所
IPC: G06V10/764
Abstract: 本发明涉及一种基于随机线段的图像特征分类方法及系统，所述分类方法包括：获取已知图像特征的样本图像集；对参照样本图像进行归一化处理，得到处理图像；根据各处理像素点，得到多组有向线段组；比较各个有向线段的线段头和线段尾的处理像素点值的大小，得到比较结果；将各比较结果按顺序排列，得到图像特征编码序列；多组有向线段组对应的图像特征编码序列形成图像特征分类器；基于图像特征分类器及各所述分析样本图像，确定已知图像特征的特征编码序列；对待处理图像进行识别，确定待处理图像的图像编码序列；进而根据已知图像特征的特征编码序列及待处理图像的图像编码序列，可快速准确地确定所述待处理图像的图像特征类别。
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公开(公告)号：CN108038874B
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN201711248908.4
申请日：2017-12-01
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明涉及扫描电镜图像配准领域，具体涉及一种面向序列切片的扫描电镜图像实时配准装置及方法，目的是为了提高电镜图像配准的实时性。本发明的实时配准装置包括FPGA和计算服务器；计算服务器包括CPU和GPU。FPGA用于直接连接电镜实时获取序列切片图像数据，并计算相邻切片图像之间的对应点，最后将从电镜获得的图像数据以及相邻切片之间的对应点信息发送至计算服务器；计算服务器中的CPU，对序列切片中匹配得到的对应点位置进行调整优化；计算服务器中的GPU，根据调整后的对应点位置进行图像形变。本发明能够形成对电镜系统高通量图像数据的高精度、低延时的长序列配准能力，满足高通量电镜序列切片成像的实时配准需求。
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公开(公告)号：CN108038874A
公开(公告)日：2018-05-15
申请号：CN201711248908.4
申请日：2017-12-01
Applicant: 中国科学院自动化研究所
Abstract: 本发明涉及扫描电镜图像配准领域，具体涉及一种面向序列切片的扫描电镜图像实时配准装置及方法，目的是为了提高电镜图像配准的实时性。本发明的实时配准装置包括FPGA和计算服务器；计算服务器包括CPU和GPU。FPGA用于直接连接电镜实时获取序列切片图像数据，并计算相邻切片图像之间的对应点，最后将从电镜获得的图像数据以及相邻切片之间的对应点信息发送至计算服务器；计算服务器中的CPU，对序列切片中匹配得到的对应点位置进行调整优化；计算服务器中的GPU，根据调整后的对应点位置进行图像形变。本发明能够形成对电镜系统高通量图像数据的高精度、低延时的长序列配准能力，满足高通量电镜序列切片成像的实时配准需求。
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