一种图像传感器的残像测试方法及装置

    公开(公告)号:CN113259656B

    公开(公告)日:2022-09-06

    申请号:CN202110513183.7

    申请日:2021-05-11

    Abstract: 本发明提供一种图像传感器的残像测试方法及装置,涉及残像测试技术领域,该方法包括以下步骤:利用待测试的图像传感器得到第一图像以及第二图像,其中,第二图像与第一图像相邻且位于第一图像之后;确定第一图像上至少一个宇宙线事例点的第一像素位置,获取第二图像上第一像素位置处的第一响应值。其中,宇宙线事例点为宇宙线粒子在图像上的信息;根据第一响应值,得到待测试的图像传感器的残像,本发明实现在普通环境下即可开展的图像传感器残像测试。

    一种图像传感器的残像测试方法及装置

    公开(公告)号:CN113259656A

    公开(公告)日:2021-08-13

    申请号:CN202110513183.7

    申请日:2021-05-11

    Abstract: 本发明提供一种图像传感器的残像测试方法及装置,涉及残像测试技术领域,该方法包括以下步骤:利用待测试的图像传感器得到第一图像以及第二图像,其中,第二图像与第一图像相邻且位于第一图像之后;确定第一图像上至少一个宇宙线事例点的第一像素位置,获取第二图像上第一像素位置处的第一响应值。其中,宇宙线事例点为宇宙线粒子在图像上的信息;根据第一响应值,得到待测试的图像传感器的残像,本发明实现在普通环境下即可开展的图像传感器残像测试。

    图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备与存储介质

    公开(公告)号:CN112073712A

    公开(公告)日:2020-12-11

    申请号:CN202010871607.2

    申请日:2020-08-26

    Abstract: 本发明实施例提供一种图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括:将图像传感器按照预设的实验室条件进行放置;采用指定频率范围内的光对图像传感器进行曝光并存储图像传感器的多幅感光图像;在图像传感器的感光图像上查找第一像素,记录第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值;根据第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值进行数据拟合,得到图像传感器的串扰值。本发明实施例提供的图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备及存储介质通过指定频率范围内的光获得多幅感光图像,通过分析感光图像得到图像传感器的串扰值,使用方法简单,测试成本低,不易受到光学衍射的影响,结果准确。

    用于空间X射线探测的MPO镜片可见光透过率检测装置

    公开(公告)号:CN212321436U

    公开(公告)日:2021-01-08

    申请号:CN202020994888.6

    申请日:2020-06-03

    Inventor: 杨雪 张臣

    Abstract: 本实用新型提供了一种用于MPO镜片可见光透过率检测装置,所述检测装置包括主线检测光路、支线检测光路、第一半反半透镜和第二半反半透镜,所述主线检测光路包括分光子光路和检测子光路,所述第一半反半透镜设置在分光子光路上,所述支线检测光路通过第一半反半透镜垂直连接分光子光路,所述第二半反半透镜设置在主线检测光路相反于光源的另一端,所述检测子光路通过第二半反半透镜垂直连接分光子光路,本实用新型所述检测装置可以快速、有效测得特定波长处镜片多个区域的透过率,操作方便,同时可根据实际需要灵活设置、调整,高效辅助镜片研制及筛选工作。

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