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公开(公告)号：CN203133002U
公开(公告)日：2013-08-14
申请号：CN201320056537.0
申请日：2013-01-31
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01N25/16
Abstract: 本专利公开了一种低温下材料线膨胀系数的测量装置，它涉及材料热物理性能的测试与表征领域，该方法通过专用变温杜瓦实现液氮温度至300K温度区间内，标准材料和待测材料组成的叠状双层结构样品上温度的控制，利用三维坐标测量系统对各个温度点下双层结构的表面进行坐标扫描，获得需测量温度点处双层结构中心处的最大挠度形变值，结合双金属效应的挠度理论计算公式，由标准已知的材料参数推导出待测材料相应温度时的线膨胀系数。本专利方法原理简单、样品制备容易，测试量直观、易于测量，测试装置搭建不繁琐，具有很强的可操作性和实用性。
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