一种次临界反应堆控制棒反应性价值测量方法

    公开(公告)号:CN115331852B

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202211039406.1

    申请日:2022-08-29

    Abstract: 本发明公开了一种次临界反应堆控制棒反应性价值测量方法,包括:获取反应堆初始次临界状态及该初始次临界状态下的中子通量密度;将控制棒逐段插入次临界反应堆堆芯,并测量控制棒插入次临界反应堆堆芯不同位置对应的中子通量密度;计算控制棒插入次临界反应堆堆芯不同位置对应的空间修正因子;利用控制棒插入次临界反应堆堆芯不同位置的空间修正因子修正该位置对应的中子通量密度;计算得到控制棒插入次临界反应堆堆芯不同位置处的次临界状态。本发明以反应堆中子探测器记录的控制棒在堆芯内不同位置处的中子通量密度为原始数据输入,通过相关算法计算控制棒各段的反应性价值,可以实时、快速的实现次临界反应堆控制棒反应性价值的刻度。

    基于线性与对数结合的微电流放大系统及方法

    公开(公告)号:CN112468098B

    公开(公告)日:2022-07-01

    申请号:CN202011301112.2

    申请日:2020-11-19

    Abstract: 本发明公开了基于线性与对数结合的微电流放大系统,放大电路包括直流线性放大模块和对数放大模块;切换电路根据接收到的探测器电流信号的电流参数将探测器电流信号分配至直流线性放大模块或对数放大模块;直流线性放大模块对收到的电流信号进行线性放大;对数放大模块对收到的电流信号进行对数放大。本发明还公开了基于线性与对数结合的微电流放大方法,本发明提出了直流线性与对数微电流放大技术结合的方法,在10‑11A~10‑9A采用直流线性放大,10‑9A~10‑4A采用对数放大,覆盖了10‑11A~10‑4A全范围微电流测量,解决直流线性放大与对数放大两种测量方法间的切换问题,提高测量准确度,同时降低放大电路设计复杂性、减小电路体积。

    自给能中子探测器外壳材料性能加速老化分析方法及系统

    公开(公告)号:CN117571749A

    公开(公告)日:2024-02-20

    申请号:CN202311578126.2

    申请日:2023-11-23

    Abstract: 本发明公开了自给能中子探测器外壳材料性能加速老化分析方法及系统,包括:以辐照损伤程度作为自给能中子探测器组件外壳材料辐照损伤程度指标,通过蒙特卡洛工具,模拟计算自给能中子探测器组件外壳材料在设定服役期限累积中子注量条件下的辐照损伤程度数值;采用重离子束流对自给能中子探测器组件外壳材料样品进行辐照,确定重离子束流辐照自给能中子探测器组件外壳材料样品造成等效辐照损伤程度数值所需的参数;采用纳米压痕技术测定辐照后的样品在不同辐照损伤程度下的硬度变化情况,计算辐照样品的屈服强度和拉伸强度;并分析在该辐照强度下探测器拔出堆芯过程中是否会发生断裂或裂纹。本发明能够有效评估堆芯自给能探测器组件的使用寿命。

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