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公开(公告)号：CN119246980A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202411354733.5
申请日：2024-09-27
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01R29/24
Abstract: 本发明涉及一种空间带电颗粒静电电荷测量装置，包括：法拉第杯，用于接收空间带电颗粒并将所述空间带电颗粒的电荷量转化为瞬时的峰值电压；峰值电压检测电路，用于测量所述法拉第杯接收所述空间带电颗粒后的峰值电压；信号调理及数字化采样电路，用于对所述峰值电压进行调理采样，转换为数字量；数字电路，用于采集所述峰值电压的数字量，并转换为电荷量值。本发明通过峰值电压检测电路将法拉第杯接收空间带电颗粒产生的瞬时峰值电压进行检测，并通过数字电路计算获得空间带电颗粒的电荷量，具有测量速度快、测量效率高、电路结构简单、成本较低便于推广应用的特点。
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公开(公告)号：CN115963367A
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN202310017759.X
申请日：2023-01-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种测量防静电屏蔽包装袋屏蔽性能的一体化装置，包括：ESD模拟器，包括放电开关及分别与放电开关连接的高压电源、储能电容和放电网络；电容探针，与放电网络连接；电流及电压功能选择继电器，与电容探针连接；与电流及电压功能选择继电器连接的电流互感器和至少一个电压分压器；波形采集模块，与电流互感器和电压分压器连接；控制模块，与波形采集模块连接；校准接口，包括电流校准接口、电容电阻网络校准接口及高压输出校准接口；其中，放电网络被配置为受电流及电压功能选择继电器的控制至少在200pF及400kΩ或100pF及1500Ω放电模式下切换。本发明可同时实现感应电压峰值差法和感应能量法检测功能，具备极高的通用性、适用性和实用性。
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公开(公告)号：CN110988042B
公开(公告)日：2022-10-28
申请号：CN201911237304.9
申请日：2019-12-05
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于阻抗损耗法的屏蔽包装袋夹层导电性测试方法，属于屏蔽包装袋夹层导电性测试领域，本发明把一个空心平面线圈放入屏蔽包装袋内部，并用两个平行的平板夹紧，使屏蔽袋的平面与平面线圈紧贴。给平面线圈施加一定频率的正弦激励，并计算出此时阻抗的实部。同理，施加同频率的激励也可以测量出裸空心线圈的阻抗实部。施加静电屏蔽包装袋的空心线圈的阻抗实部与裸空心线圈的阻抗实部的比值反映出了屏蔽包装袋的导电性。比值越大导电性越好，利用一种测试方法评价屏蔽包装袋的导电性，然后把导电性比较结果溯源到能量法测量结果上，继而利用导电性结果去评价屏蔽包装袋的屏蔽效能的优劣。
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公开(公告)号：CN110865326B
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN201911123709.X
申请日：2019-11-17
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种静电电荷量传感器标定装置和方法，所述装置包括：支撑定位模块、释放控制模块、旋转切换模块、静电电荷量传感器、法拉第筒；所述旋转切换模块能够在第一状态和第二状态之间进行切换；所述释放控制模块检测到所述旋转切换模块处于第一状态时，释放所述带电对象，使所述带电对象下落而经过所述静电电荷量传感器；所述释放控制模块检测到所述旋转切换模块处于第二状态时，释放所述带电对象，使所述带电对象下落进入所述法拉第筒内。通过本申请提供的静电电荷量传感器标定装置和方法，能够使带电对象从相同的高度分别经过静电电荷量传感器或进入法拉第筒，获得静电电荷量传感器的输入和输出值，实现对静电电荷量传感器的标定。
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公开(公告)号：CN110865326A
公开(公告)日：2020-03-06
申请号：CN201911123709.X
申请日：2019-11-17
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种静电电荷量传感器标定装置和方法，所述装置包括：支撑定位模块、释放控制模块、旋转切换模块、静电电荷量传感器、法拉第筒；所述旋转切换模块能够在第一状态和第二状态之间进行切换；所述释放控制模块检测到所述旋转切换模块处于第一状态时，释放所述带电对象，使所述带电对象下落而经过所述静电电荷量传感器；所述释放控制模块检测到所述旋转切换模块处于第二状态时，释放所述带电对象，使所述带电对象下落进入所述法拉第筒内。通过本申请提供的静电电荷量传感器标定装置和方法，能够使带电对象从相同的高度分别经过静电电荷量传感器或进入法拉第筒，获得静电电荷量传感器的输入和输出值，实现对静电电荷量传感器的标定。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112687569B
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202011575949.6
申请日：2020-12-28
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: H01L21/66 , H01L29/20 , H01L29/778
Abstract: 本发明涉及半导体技术领域，提供一种氮化镓器件特性的调制方法和结构。方法主要包括：对氮化镓器件施加外界电场，外界电场通过逆压电效应耦合作用于氮化镓器件；通过变化外界电场的强度和方向对氮化镓器件的特性进行调制。本发明可以根据氮化镓器件不同的应用场景，通过调整外界电场的强度和方向，对氮化镓器件特性进行特定调制，以适应不同场景下氮化镓器件应用需求，促进氮化镓器件性能的更充分发挥，带动氮化镓器件在宇航、雷达、电子对抗等国防军事领域以及5G、电力电子等民用领域的更有效利用。
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公开(公告)号：CN115951182A
公开(公告)日：2023-04-11
申请号：CN202310017796.0
申请日：2023-01-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种插卡式静电放电发生装置，所述插卡式静电放电发生装置包括：主机机箱；背板，设置于所述主机机箱内，所述背板上具有多个连接器，多个所述连接器通过所述背板上集成的控制电路电连接；插卡式供电模块，呈可拆卸地设置于所述主机机箱内并与所述背板上的其中一个所述连接器连接；插卡式高压源模块，呈可拆卸地设置于所述主机机箱内并与所述背板上的其中一个所述连接器连接；插卡式主控通信模块，呈可拆卸地设置于所述主机机箱内并与所述背板上的其中一个所述连接器连接，所述插卡式主控通信模块被配置为控制所述插卡式高压源模块调整所述插卡式供电模块输出预定电压。本发明可有效提高静电放电发生装置的适用性和通用性。
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公开(公告)号：CN115932511A
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202310017769.3
申请日：2023-01-06
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01R31/12 , G01R19/165
Abstract: 本发明涉及一种电子芯片静电放电潜在失效预先诊断系统和方法，潜在失效预先诊断系统包括：静电放电模块，用于对电子芯片管脚进行静电放电，进行加速失效；加速失效作用模块，用于将潜在失效加速演变为立即失效；电性能测试表征模块，用于测试经受静电放电与加速失效作用后的电子芯片的电性能参数；多个静电放电事件侦测模块，用于对静电放电电磁辐射进行在线表征。本发明实现了电子芯片静电潜在失效在线预先诊断，有利于降低静电潜在失效对电子系统的危害，保障电子系统的静电可靠性，具有重要的经济和社会效益，推广应用转化前景广阔。
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公开(公告)号：CN108398631B
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN201810240769.9
申请日：2018-03-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) , 北京东方计量测试研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及一种静电放电失效验证方法，包括步骤：对待验证芯片进行失效分析，记录待验证芯片的损伤信息；获取与待验证芯片同批次的良品芯片的损伤信息，良品芯片的损伤信息根据良品芯片通过静电放电模拟损伤测试分析得到；将良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息进进行对比分析，判断待验证芯片是否发生静电放电失效；当良品芯片的损伤信息与待验证芯片的损伤信息一致时，则待验证芯片发生静电放电失效。上述静电放电失效验证方法，在进行静电放电失效分析之前，对疑似静电放电失效的芯片进行静电放电失效验证，避免直接采用静电放电失效分析得到不准确的结果，提高了静电放电失效分析的可靠性。
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公开(公告)号：CN110988042A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911237304.9
申请日：2019-12-05
Applicant: 北京东方计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于阻抗损耗法的屏蔽包装袋夹层导电性测试方法，属于屏蔽包装袋夹层导电性测试领域，本发明把一个空心平面线圈放入屏蔽包装袋内部，并用两个平行的平板夹紧，使屏蔽袋的平面与平面线圈紧贴。给平面线圈施加一定频率的正弦激励，并计算出此时阻抗的实部。同理，施加同频率的激励也可以测量出裸空心线圈的阻抗实部。施加静电屏蔽包装袋的空心线圈的阻抗实部与裸空心线圈的阻抗实部的比值反映出了屏蔽包装袋的导电性。比值越大导电性越好，利用一种测试方法评价屏蔽包装袋的导电性，然后把导电性比较结果溯源到能量法测量结果上，继而利用导电性结果去评价屏蔽包装袋的屏蔽效能的优劣。
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