公开(公告)号：CN116046653B

公开(公告)日：2024-03-15

申请号：CN202211573722.7

申请日：2022-12-08

Applicant: 中国兵器装备集团西南技术工程研究所 ,  重庆大学

Inventor： 金一鸣 ,  杨鸿 ,  苏艳 ,  赵方超 ,  刘聪 ,  杨小奎 ,  陈金燕 ,  滕俊鹏 ,  刘溅洪

IPC: G01N17/00 ,  G01N25/12 ,  G01N33/20 ,  C22C23/04

Abstract: 本发明提供了一种预测微合金化镁合金腐蚀性能对热处理响应的方法，步骤包括：确定镁合金体系形成的能承受热处理的稳定第二相；获取镁合金体系的稳定第二相的形成能，结合形成能确定杂质元素/杂质化合物在稳定第二相中的析出倾向；获取稳定第二相与镁基体之间的伏特电位差A，并与杂质元素/杂质化合物相对于镁基体的伏特电位差B进行对比，根据比较结果评估杂质元素在稳定第二相中析出对微合金化镁合金腐蚀性能的响应程度。采用本发明的方案，不仅能够判断热处理过程是否会对微合金化镁合金的腐蚀性能产生影响，而且能够预测热处理过程中杂质析出对微合金化镁合金腐蚀性能的影响，有利于更合理地优化微合金化镁合金体系。