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公开(公告)号：CN106908144A
公开(公告)日：2017-06-30
申请号：CN201710192198.1
申请日：2017-03-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J1/00
CPC classification number: G01J1/00
Abstract: 本发明提供了一种超微弱星光照度测量装置及方法，装置包括光学镜头、分束器、测量通道Ⅰ、测量通道Ⅱ和数据处理器；光学镜头与分束器相连，测量通道Ⅰ和测量通道Ⅱ分别连接于分束器和数据处理器之间；测量通道Ⅰ包括光电探测器Ⅰ、前置放大器Ⅰ和光子计数器Ⅰ；测量通道Ⅱ包括单色器、光电探测器Ⅱ、前置放大器Ⅱ、光子计数器Ⅱ。本装置使用两条测量通道对光子数进行计数测量，得到光子计数总量的同时获得单色光的光子数，可得到光子计数总量中不同波长光子的比例，同时计数准确，且不必重复进行测量，同时对光束中的光能光谱分布进行测量，可提高光照度测量精度，能够实现10‑13lx超微弱星光照度的测量。
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公开(公告)号：CN105417491B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201510924564.9
申请日：2015-12-14
Applicant: 苏州诺联芯电子科技有限公司 , 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种定标黑体光源的制备方法，包括如下步骤：提供薄片衬底，并在衬底表面制作第一绝缘层；在第一绝缘层背离所述衬底的一侧的表面制作加热源，所述加热源具有可与外电路实现电性连接的引线区；在加热源背离第一绝缘层的一侧的表面制作第二绝缘层；在第一绝缘层或第二绝缘层背离衬底的一侧的表面制作温度传感器；使温度传感器与引线区背离所述衬底的一侧形成向外暴露以与外电路实现电性连接的引线通道；在第二绝缘层背离加热源的一侧的表面制作黑体薄膜。所述定标黑体光源升温、降温速度快，温度稳定时间仅需5‑10分钟，对于面积在5cm2的光源芯片，辐射温度达到500℃时，功耗仅在50W以下，并且体积小，易于集成在成像系统内部。
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公开(公告)号：CN106644070A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201510731548.8
申请日：2015-11-02
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/0297 , G01J3/10
Abstract: 本发明提供一种真空紫外成像光谱仪校准装置，包括：真空紫外光源，用于产生不同波段的紫外光；真空紫外光处理模块，用于将所述紫外光进行分光和均匀处理；真空紫外靶标模块，用于提供特征靶标，将所述紫外光转换为具有相应特征的紫外光，并发送至标准紫外成像光谱仪或被校准紫外成像光谱仪；标准紫外成像光谱仪，用于接收靶标模块输出的紫外光并输出标准光辐射功率；控制模块，用于接收所述标准光辐射功率和被校准紫外成像光谱仪输出的光辐射功率，并输出校准结果；本发明提供的真空紫外成像光谱仪校准装置，能够在发射前对真空紫外成像光谱仪进行校准，保证真空紫外成像光谱仪在空间站的正常运行。
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公开(公告)号：CN105467597A
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201510848295.2
申请日：2015-11-27
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G02B27/09
CPC classification number: G02B27/0955 , G02B27/0972
Abstract: 本发明涉及一种多光谱星光光源，其特征在于，所述多光谱星光光源包括依次串联的初始钨灯光源、汇聚光学系统、光学准直系统、棱镜色散系统、空间调制系统及均匀混光系统，所述初始钨灯光源发出的光经过所述汇聚光学系统在焦面处形成柱面光波，经过所述光学准直系统转化为平行光，再通过所述棱镜色散系统使多种波长的色散光谱投射在所述空间调制系统上，所述空间调制系统选择目标光谱进入所述均匀混光系统，由所述均匀混光系统输出端输出光谱范围从300nm到1100nm光谱任意可调的均匀光斑。本发明提供的光源能够同时兼顾高能量利用率与多光谱性。
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公开(公告)号：CN115493705A
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN202110672172.3
申请日：2021-06-17
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/12
Abstract: 本发明提供了一种弥散条件下高温物体表面温度测量装置及方法，装置包括光收集模块、分光模块、n个探测器、反演模型模块、温度获取模块和温度处理模块；光收集模块用于收集被测高温物体辐射的光，并将辐射的光入射至分光模块；分光模块用于将入射光分为n路不同波段的光，并分别投影至对应的探测器；反演模型模块用于获取被测高温物体对应的反演系数；温度获取模块用于获取n个探测器上每个像素点位置对应的辐射亮温，得到n个探测器上每个像素点位置对应的修正后的辐射亮温；温度处理模块用于获取被测高温物体的表面温度。本发明能解决现有测温方法无法满足航空航天热试验和冶金铸造生产等领域对水雾等弥散介质条件下的红外辐射测温需求的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113916386B
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202010644796.X
申请日：2020-07-07
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J9/00
Abstract: 一种基于气体电离室的真空紫外波长校准装置，包括：真空紫外光源为气体放电光源，前端窗口为氟化镁窗口，用来提供覆盖120nm～200nm波段范围的光谱能量；真空紫外单色分光系统包括入射狭缝、分光光栅、出射狭缝，真空紫外光源的光经入射狭缝进入，经分光光栅分光形成单色光，经出射狭缝出射；真空紫外准直系统包括多片光学镜片，使得真空紫外准直系统的焦面位置与真空紫外单色分光系统的出射狭缝位置重合，对真空紫外单色分光系统的出射光进行准直，形成平行光出射；真空紫外漫射系统为长方形，铝基底材料进行打磨制成，其表面为漫反射表面；真空紫外切换机构为圆形转台或平移导轨，可将漫射系统移入移出。
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公开(公告)号：CN114381709A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202011134111.3
申请日：2020-10-21
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提出涂层、用途及制备方法，包括催化剂中间层和碳基涂层，催化剂中间层为岛状结构，碳基涂层沉积在岛状结构的催化剂中间层上。本发明制备特殊的催化剂中间层，将等离子体增强化学气相沉积制备的碳纳米结构引入到黑体涂层中，使得涂层具有高吸光性能、高发射率，且与基底材料结合力好，提高稳定性和耐久性。
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公开(公告)号：CN114381147A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202011134103.9
申请日：2020-10-21
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提出一种涂层、用途及其制备方法，包括二氧化硅层和附着在二氧化硅层上的金属纳米层。本发明通过制备具有高粗糙度的二氧化硅中间涂层，将金属纳米涂层引入到黑体涂层中，使金属纳米涂层具有了高粗糙度，使得涂层具有高吸光性能、高发射率，满足黑体涂层的要求。
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公开(公告)号：CN114252239A
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202011023204.9
申请日：2020-09-25
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供了一种多光谱复合光电探测设备光轴校准装置，包括复合光源、靶标、准直光学系统，复合光源采用积分球构型，用于输出宽光谱范围的复合光束；靶标固定在所述准直光学系统的焦平面位置处，靶标中心开设圆孔，且圆孔中心位于准直光学系统的零像差点上；准直光学系统用于复合光束的反射、准直及出射。本发明可以实现红外探测器光轴、可见光探测器光轴、激光发射/接收光轴的一致性调试与测量，解决多光谱复合探测光电传感器实验室内快速、高精度光轴一致性校准的问题，特别适用于光学导引头、光电侦查吊舱等多光轴高精度校准。
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公开(公告)号：CN113465755A
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN202010241713.2
申请日：2020-03-31
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/52
Abstract: 本发明提供了一种稳态辐射温度的间接测试方法，包括监测待测物非辐射部位的接触温度Tc；监测待测物的环境温度Ta；监测待测物辐射面的辐射温度Tr；建立接触温度Tc、环境温度Ta与辐射温度Tr之间的初始数学模型；获取多个试验温度下稳态后的多组接触温度测量值、环境温度测量值和辐射温度测量值；基于获取的多组接触温度测量值、环境温度测量值和辐射温度测量值对初始数学模型进行实验标定，得到接触温度Tc、环境温度Ta与辐射温度Tr之间的最终数学模型；基于任一时刻的接触温度测量值、环境温度测量值和最终数学模型得到对应时刻的辐射温度计算值。本发明能够解决现有技术中无法通过单点或多点接触测温结果精确推演辐射面的辐射温度的技术问题。
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