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公开(公告)号：CN112730996A
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN202011521327.5
申请日：2020-12-21
Applicant: 中国信息通信研究院
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明提供了一种天线和无源器件的测量方法，涉及通信测量技术领域，适用场景多，频率范围从100M到40GHz，操作便捷、成本低；该方法步骤包括：S1、将待测器件置于所述测试计量装置内，并将待测器件与接收功率测量仪器连接，用于测量接收功率；S2、将所述测试计量装置的馈入端与连续波馈入仪器连接，用于向所述测试计量装置内馈入所需的连续波；S3、启动接收功率测量仪器和连续波馈入仪器，开始测量；S4、根据馈入连续波的功率计算待测器件所处位置的电场强度；该变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体，以及设于两者之间的空气腔；待测器件设于空气腔内。本发明提供的技术方案适用于多种通信测量试验的过程中。
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公开(公告)号：CN118443068A
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202410637477.4
申请日：2024-05-22
Applicant: 中国信息通信研究院
IPC: G01D5/353 , G01K11/322
Abstract: 本发明涉及布里渊光时域反射仪校准技术领域，公开了一种布里渊光时域反射仪频移参数校准装置和相应方法，该装置包括：通过光纤依次连接的光分路器、电光调制器、可变光衰减器以及光隔离器；电光调制器上连接有微波源，微波源用于发出预设频率的微波信号；微波源上连接有微波频率计数器，微波频率计数器用于测量微波信号的频率；光分路器与待校准的布里渊光时域反射仪连接，光分路器使待校准的布里渊光时域反射仪发出的光信号沿光纤链路顺时针方向传输；电光调制器根据所述微波信号对光信号进行调制；调制后的光信号经过可变光衰减器和光隔离器后，由光分路器返回到待校准的布里渊光时域反射仪。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117147979A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202311058453.5
申请日：2023-08-21
Applicant: 中国信息通信研究院
Abstract: 本发明涉及电波暗室技术领域，提供了一种电波暗室电磁场静区参数的测量及计算方法，包括S1、采用全向天线测量电磁场静区接收电平，形成空间路径‑接收电平的对应数列；S2、采用等间隔的第一空间分辨率，得到稀疏抽样波形，快速傅里叶变换形成空间谱计算序列的原始序列，作补零操作形成补零后序列，进行反快速傅里叶变换得到稀疏抽样恢复波形；S3、基于步骤S2中得到的所述稀疏抽样恢复波形对电磁场静区参数进行计算。本发明采用“稀疏抽样恢复波形”，大大减少了采样点位，但可以达到很高的波形保真度，可以检出“原始波形”对应的峰值，且得到的锥削和纹波曲线细节更丰富，提升了测试效率，节约测试时间。
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公开(公告)号：CN118573272A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202410385402.1
申请日：2024-04-01
Applicant: 中国信息通信研究院
Abstract: 本发明提供一种光纤链路距离参数校准装置及校准方法，校准装置包括可调谐激光器、窄脉冲发生器、电光调制器、光分路器、第一光电探测器、第二光电探测器、频率计数器和示波器；窄脉冲发生器连接有频率计数器，可调谐激光器和窄脉冲发生器分别与电光调制器的输入光端口和输入射频端口连接，电光调制器的输出端与光分路器的输入端连接，光分路器的第一输出端与第一光电探测器连接，其第二输出端与第二光电探测器连接，第一光电探测器和第二光电探测器均与示波器连接；光分路器与第二光电探测器连接的线路上连接有引导光纤；被测光纤链路用于连接在光分路器与第二光电探测器连接的线路上。本发明能够解决多波长条件下的光纤链路距离参数测量问题。
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公开(公告)号：CN112730996B
公开(公告)日：2023-06-16
申请号：CN202011521327.5
申请日：2020-12-21
Applicant: 中国信息通信研究院
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明提供了一种天线和无源器件的测量方法，涉及通信测量技术领域，适用场景多，频率范围从100M到40GHz，操作便捷、成本低；该方法步骤包括：S1、将待测器件置于所述测试计量装置内，并将待测器件与接收功率测量仪器连接，用于测量接收功率；S2、将所述测试计量装置的馈入端与连续波馈入仪器连接，用于向所述测试计量装置内馈入所需的连续波；S3、启动接收功率测量仪器和连续波馈入仪器，开始测量；S4、根据馈入连续波的功率计算待测器件所处位置的电场强度；该变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体，以及设于两者之间的空气腔；待测器件设于空气腔内。本发明提供的技术方案适用于多种通信测量试验的过程中。
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公开(公告)号：CN111726828B
公开(公告)日：2022-10-21
申请号：CN202010612632.9
申请日：2020-06-30
Applicant: 中国信息通信研究院
IPC: H04W24/02 , H04B7/00 , H04B17/345
Abstract: 本发明提供了一种测试微波传输设备XPIC性能的方法和装置，涉及通信技术领域，能够实现对微波传输设备XPIC性能的有效测试，测试装置简单、测试结果安全可靠；该装置包括：待测的发射设备和接收设备，用于发送和接收微波信号；通过式极化退化板，设于发射设备和接收设备之间，用于对电磁波进行退化分离，使之分离成两个不同极化方向的电磁波信号；网络性能分析仪V，用于测量垂直极化方向接收设备的接收功率；网络性能分析仪H，用于测量水平极化方向接收设备的接收功率；根据测量测量的接收功率计算极化耦合干扰比，用于分析微波传输设备的XPIC性能。本发明提供的技术方案适用于微波传输设备XPIC性能测试的过程中。
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公开(公告)号：CN111726828A
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN202010612632.9
申请日：2020-06-30
Applicant: 中国信息通信研究院
IPC: H04W24/02 , H04B7/00 , H04B17/345
Abstract: 本发明提供了一种测试微波传输设备XPIC性能的方法和装置，涉及通信技术领域，能够实现对微波传输设备XPIC性能的有效测试，测试装置简单、测试结果安全可靠；该装置包括：待测的发射设备和接收设备，用于发送和接收微波信号；通过式极化退化板，设于发射设备和接收设备之间，用于对电磁波进行退化分离，使之分离成两个不同极化方向的电磁波信号；网络性能分析仪V，用于测量垂直极化方向接收设备的接收功率；网络性能分析仪H，用于测量水平极化方向接收设备的接收功率；根据测量测量的接收功率计算极化耦合干扰比，用于分析微波传输设备的XPIC性能。本发明提供的技术方案适用于微波传输设备XPIC性能测试的过程中。
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