一种天线和无源器件的测量方法

    公开(公告)号:CN112730996A

    公开(公告)日:2021-04-30

    申请号:CN202011521327.5

    申请日:2020-12-21

    Abstract: 本发明提供了一种天线和无源器件的测量方法,涉及通信测量技术领域,适用场景多,频率范围从100M到40GHz,操作便捷、成本低;该方法步骤包括:S1、将待测器件置于所述测试计量装置内,并将待测器件与接收功率测量仪器连接,用于测量接收功率;S2、将所述测试计量装置的馈入端与连续波馈入仪器连接,用于向所述测试计量装置内馈入所需的连续波;S3、启动接收功率测量仪器和连续波馈入仪器,开始测量;S4、根据馈入连续波的功率计算待测器件所处位置的电场强度;该变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体,以及设于两者之间的空气腔;待测器件设于空气腔内。本发明提供的技术方案适用于多种通信测量试验的过程中。

    电波暗室电磁场静区参数的测量及计算方法

    公开(公告)号:CN117147979A

    公开(公告)日:2023-12-01

    申请号:CN202311058453.5

    申请日:2023-08-21

    Abstract: 本发明涉及电波暗室技术领域,提供了一种电波暗室电磁场静区参数的测量及计算方法,包括S1、采用全向天线测量电磁场静区接收电平,形成空间路径‑接收电平的对应数列;S2、采用等间隔的第一空间分辨率,得到稀疏抽样波形,快速傅里叶变换形成空间谱计算序列的原始序列,作补零操作形成补零后序列,进行反快速傅里叶变换得到稀疏抽样恢复波形;S3、基于步骤S2中得到的所述稀疏抽样恢复波形对电磁场静区参数进行计算。本发明采用“稀疏抽样恢复波形”,大大减少了采样点位,但可以达到很高的波形保真度,可以检出“原始波形”对应的峰值,且得到的锥削和纹波曲线细节更丰富,提升了测试效率,节约测试时间。

    一种电子通信设备的测试方法和装置

    公开(公告)号:CN112198382A

    公开(公告)日:2021-01-08

    申请号:CN202010989484.2

    申请日:2020-09-18

    Abstract: 本发明提供了一种电子通信设备的测试方法和装置,涉及通信设备测试技术领域,既能够开展无线通信设备的OTA(空口辐射)方式测试,也能够进行电子通信设备的电磁兼容测试,功能多、占地面积小、覆盖频率宽且操作简便;该装置为渐变同轴结构;所述渐变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体,所述内导体设于所述外导体内部,且两者之间具有封闭的绝缘空间;所述内导体和所述外导体的横截面均具有渐变性质;渐变性质具体为:横截面沿一个方向逐渐变大、逐渐缩小或者先变大再缩小,变大或缩小的过程是线性的或者非线性的;该装置包括单锥结构和双锥结构两种形式。本发明提供的技术方案适用于电子通信设备OTA测试和电磁兼容测试的过程中。

    一种分析振动影响无线信号传播的方法

    公开(公告)号:CN108900258A

    公开(公告)日:2018-11-27

    申请号:CN201810152449.8

    申请日:2018-02-15

    Abstract: 本发明一种分析振动影响无线信号传播的方法,该方法利用多镜像分析方法,设收发天线构成一个系统,系统收发频率是fc,电波波长是λ,反射产生多径,反射的物理机理在于感应电流,根据电磁波在导体表面的边界条件,感应电流作为“二次源”激励产生的电磁场即为反射波,对于引起多径的“二次源”,每一个多径对应一个镜像发射源,分析发射天线的本体和镜像之间的水平角度功率和俯仰角度功率;确定无线信号传输衰落随机械振动变化的时域表达函数,进而衰落余量WL(dB)和系统机械振动最大允许振幅峰峰值rdmax。该方法方法可更合理、更准确地预测无线通信信号传输损耗的变化,在无线通信系统分析、设计、规划、优化中具有重要作用。

    一种天线和无源器件的测量方法

    公开(公告)号:CN112730996B

    公开(公告)日:2023-06-16

    申请号:CN202011521327.5

    申请日:2020-12-21

    Abstract: 本发明提供了一种天线和无源器件的测量方法,涉及通信测量技术领域,适用场景多,频率范围从100M到40GHz,操作便捷、成本低;该方法步骤包括:S1、将待测器件置于所述测试计量装置内,并将待测器件与接收功率测量仪器连接,用于测量接收功率;S2、将所述测试计量装置的馈入端与连续波馈入仪器连接,用于向所述测试计量装置内馈入所需的连续波;S3、启动接收功率测量仪器和连续波馈入仪器,开始测量;S4、根据馈入连续波的功率计算待测器件所处位置的电场强度;该变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体,以及设于两者之间的空气腔;待测器件设于空气腔内。本发明提供的技术方案适用于多种通信测量试验的过程中。

    一种测试微波传输设备XPIC性能的方法和装置

    公开(公告)号:CN111726828B

    公开(公告)日:2022-10-21

    申请号:CN202010612632.9

    申请日:2020-06-30

    Abstract: 本发明提供了一种测试微波传输设备XPIC性能的方法和装置,涉及通信技术领域,能够实现对微波传输设备XPIC性能的有效测试,测试装置简单、测试结果安全可靠;该装置包括:待测的发射设备和接收设备,用于发送和接收微波信号;通过式极化退化板,设于发射设备和接收设备之间,用于对电磁波进行退化分离,使之分离成两个不同极化方向的电磁波信号;网络性能分析仪V,用于测量垂直极化方向接收设备的接收功率;网络性能分析仪H,用于测量水平极化方向接收设备的接收功率;根据测量测量的接收功率计算极化耦合干扰比,用于分析微波传输设备的XPIC性能。本发明提供的技术方案适用于微波传输设备XPIC性能测试的过程中。

    一种测试微波传输设备XPIC性能的方法和装置

    公开(公告)号:CN111726828A

    公开(公告)日:2020-09-29

    申请号:CN202010612632.9

    申请日:2020-06-30

    Abstract: 本发明提供了一种测试微波传输设备XPIC性能的方法和装置,涉及通信技术领域,能够实现对微波传输设备XPIC性能的有效测试,测试装置简单、测试结果安全可靠;该装置包括:待测的发射设备和接收设备,用于发送和接收微波信号;通过式极化退化板,设于发射设备和接收设备之间,用于对电磁波进行退化分离,使之分离成两个不同极化方向的电磁波信号;网络性能分析仪V,用于测量垂直极化方向接收设备的接收功率;网络性能分析仪H,用于测量水平极化方向接收设备的接收功率;根据测量测量的接收功率计算极化耦合干扰比,用于分析微波传输设备的XPIC性能。本发明提供的技术方案适用于微波传输设备XPIC性能测试的过程中。

    一种针对多探头球面近场的探头一致性检测方法

    公开(公告)号:CN108008331B

    公开(公告)日:2020-05-22

    申请号:CN201711142572.3

    申请日:2017-11-17

    Abstract: 本发明公开了一种针对多探头球面近场的探头一致性检测方法,包括:调整喇叭的位置,喇叭对准目标探头;信号源发出测量信号,测量信号经过喇叭发射出去,目标探头接收喇叭发射出的测量信号,喇叭的水平极化与目标探头的水平面平行时,获得目标探头的水平极化对应的信号的幅度信息和相位信息,同时记录目标探头的交叉极化数据;喇叭的垂直极化与目标探头的垂直面平行时,获得目标探头的垂直极化对应的信号的幅度信息和相位信息;根据多探头球面近场的任一探头的垂直极化对应的信号的幅度信息和相位信息、水平极化对应的信号的幅度信息和相位信息以及交叉极化数据判断多探头球面近场的探头一致性。

    一种针对多探头球面近场的探头一致性检测系统

    公开(公告)号:CN107765106A

    公开(公告)日:2018-03-06

    申请号:CN201711142419.0

    申请日:2017-11-17

    CPC classification number: G01R29/10

    Abstract: 本发明公开了一种针对多探头球面近场的探头一致性检测系统,包括:喇叭、第一旋转机构、第二旋转机构、激光对准器、控制设备和平衡框架;其中,第二旋转机构设置在平衡框架上,与喇叭相连;第一旋转机构设置在平衡框架上;喇叭设置在平衡框架的一端;激光对准器设置在平衡框架的另一端,喇叭、第一旋转机构、第二旋转机构、激光对准器在平衡框架上构成重量平衡系统;第二旋转机构用于带动喇叭在保持位置不变的情况下发生旋转;第一旋转机构带动重量平衡系统的平衡点为支点发生转动,重量平衡系统的平衡点的位置保持不变;控制设备与第一旋转机构和第二旋转机构相连,用于为第一旋转机构和第二旋转机构提供控制信号。

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