公开(公告)号：CN112118012B

公开(公告)日：2025-04-01

申请号：CN201910537729.5

申请日：2019-06-20

Applicant: 中兴通讯股份有限公司

Inventor： 王红展 ,  章伟 ,  张鹤 ,  许晨 ,  周海涛

IPC: H03M13/11

Abstract: 本发明提供了一种译码器迭代次数确定方法及装置，其中，该方法包括：确定一个时隙内译码器需处理的新传TB和重传TB的虚拟CB；对所述虚拟CB进行分类；确定每类虚拟CB在所述译码器中的迭代次数，可以解决相关技术中在系统容量多变的情况如何配置译码器的迭代次数的问题，通过分类为TB的CB配置译码器迭代次数，从而提升了译码器的吞吐量利用率。

公开(公告)号：CN110661593B

公开(公告)日：2022-04-22

申请号：CN201810717244.X

申请日：2018-06-29

Applicant: 中兴通讯股份有限公司

Inventor： 张鹤 ,  章伟 ,  王红展 ,  余金清 ,  彭理健

IPC: H04L1/00 ,  H03M13/11

Abstract: 本发明实施例公开了一种译码器，译码器的至少一个以上计算单元用于：获取基础矩阵中变量节点n的待译码的软比特信息；判断译码迭代次数i是否小于译码迭代阈值；确定i小于译码迭代阈值时，判断译码层数k是否小于基础矩阵的行数a；确定k小于a时，根据第k‑1层变量节点n的软比特信息，确定第k层变量节点n的软比特信息，且根据第k‑1层变量节点n的软比特信息，确定第k+1层变量节点信息；根据第k+1层变量节点信息，确定第k+1层校验节点信息；将k更新为k+1，重新执行判断k是否小于a；确定k大于等于a时，将i更新为i+1，重新执行判断i是否小于译码迭代阈值，直至i等于译码迭代阈值。本发明实施例还同时公开了一种译码方法和计算机存储介质。

公开(公告)号：CN112118012A

公开(公告)日：2020-12-22

申请号：CN201910537729.5

申请日：2019-06-20

Applicant: 中兴通讯股份有限公司

Inventor： 王红展 ,  章伟 ,  张鹤 ,  许晨 ,  周海涛

IPC: H03M13/11

Abstract: 本发明提供了一种译码器迭代次数确定方法及装置，其中，该方法包括：确定一个时隙内译码器需处理的新传TB和重传TB的虚拟CB；对所述虚拟CB进行分类；确定每类虚拟CB在所述译码器中的迭代次数，可以解决相关技术中在系统容量多变的情况如何配置译码器的迭代次数的问题，通过分类为TB的CB配置译码器迭代次数，从而提升了译码器的吞吐量利用率。

公开(公告)号：CN101159499B

公开(公告)日：2011-11-30

申请号：CN200710176973.0

申请日：2007-11-07

Applicant: 中兴通讯股份有限公司

Inventor： 崔文会 ,  吴学德 ,  罗文胜 ,  王红展

IPC: H04B17/00 ,  G01R31/00

Abstract: 本发明公开了一种硬件模块的测试系统，该系统主要包括：硬件模块、测试封装、设备仪表和测试后台，其中，测试封装主要用于配合硬件模块内部硬件测试、对外接口测试以及硬件指标测试，本发明还公开了一种硬件模块的测试方法，采用测试封装配合硬件模块的测试，并将测试代码和正式代码进行分离。本发明的硬件模块的测试系统及方法，由于增加集成了设备仪表部分功能的测试封装来配合硬件模块的测试，提高了测试效率合硬件模块的生产效率，并降低了测试成本，同时，正式代码和测试代码的分离，增强了代码的可移植性，更易于维护。

公开(公告)号：CN101222732B

公开(公告)日：2011-01-05

申请号：CN200810000847.4

申请日：2008-01-22

Applicant: 中兴通讯股份有限公司

Inventor： 王红展 ,  张文国

IPC: H04L12/26

Abstract: 本发明提供一种状态控制信号测试装置，该装置用于测试被测单元的状态控制信号功能是否正常，该装置包括主控单元、测试单元、转换单元，其中：主控单元用于向测试单元设置测试值，或从测试单元获取测试值，并与被测单元之间通过消息传递的方式，对比设置或者获取的测试值与被测单元反馈的测试值是否一致，进而输出测试结果；测试单元用于控制转换单元的工作状态，并将主控单元设定的测试值传送给转换单元，或从转换单元获取测试值并存储；转换单元用于将被测单元的待测控制状态信号线转成总线型的接口信号线，并接收或送出被测单元的测试值。本发明测试装置可有效的利用可编程器件的管脚资源，提高生产测试效率。

公开(公告)号：CN101222732A

公开(公告)日：2008-07-16

申请号：CN200810000847.4

申请日：2008-01-22

Applicant: 中兴通讯股份有限公司

Inventor： 王红展 ,  张文国

IPC: H04Q7/34 ,  H04M3/22

Abstract: 本发明提供一种状态控制信号测试装置，该装置用于测试被测单元的状态控制信号功能是否正常，该装置包括主控单元、测试单元、转换单元，其中：主控单元用于向测试单元设置测试值，或从测试单元获取测试值，并与被测单元之间通过消息传递的方式，对比设置或者获取的测试值与被测单元反馈的测试值是否一致，进而输出测试结果；测试单元用于控制转换单元的工作状态，并将主控单元设定的测试值传送给转换单元，或从转换单元获取测试值并存储；转换单元用于将被测单元的待测控制状态信号线转成总线型的接口信号线，并接收或送出被测单元的测试值。本发明测试装置可有效的利用可编程器件的管脚资源，提高生产测试效率。