一种Mini-LED分区背光显示屏幕的最大光晕测量方法及系统

    公开(公告)号:CN118379943A

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN202410445814.X

    申请日:2024-04-15

    Abstract: 本发明公开了一种Mini‑LED分区背光显示屏幕的最大光晕测量的方法与系统。具体包括如下步骤:首先搭建暗环境下光晕测量装置,其次采用最优显示白盒尺寸寻优方法找到显示白盒获得最大亮度时对应的显示白盒尺寸,然后采用最优显示白盒位置寻优模块找到显示白盒获得最大光晕宽度时对应的显示白盒位置,再对找到的最大光晕效应情况在暗环境下进行测量,最后模拟复现二维光晕场分布得到光晕效应对应的最大光晕亮度和最大光晕宽度。采用本发明方法后,可对任一款Mini‑LED显示屏找寻到最大光晕情况并进行测量,同时对静态光晕进行量化分析,从而有效提高Mini‑LED显示屏光晕效应测试的精密度和准确性。

    一种Mini-LED显示屏动态光晕测量方法及系统

    公开(公告)号:CN117740336A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202311835239.6

    申请日:2023-12-28

    Abstract: 本发明公开了一种Mini‑LED显示屏的动态光晕测量方法及系统,系统包括由底板、高速相机及其固定轴系组件构成的硬件部分,以及控制高速相机运动和光晕计算显示的软件部分。被测显示屏幕置于大理石底板表面,摆放位置确定后控制轴系运动使得被测屏幕完整出现在高速相机的视野中。随后在被测显示屏幕中播放预制测试动画,通过相机拍摄后经软件分析显示屏幕的灰度分布进而获得光晕分布。本发明可对被测产品动态显示过程中任意像素点的光晕分布进行测量,从而为Mini‑LED屏幕显示效果的评价及改进提供数据支撑。本发明通用性强,可适应多种尺寸的显示屏幕。

    一种高性能Micro-LED表面介质薄膜的制备方法

    公开(公告)号:CN119194384A

    公开(公告)日:2024-12-27

    申请号:CN202411340430.8

    申请日:2024-09-25

    Abstract: 本发明公开了一种高性能Micro‑LED表面介质薄膜的制备方法,针对未经处理的Micro‑LED玻璃盖板表面反射率高和影响对比度的问题,利用光学薄膜模拟分析,对Micro‑LED表面膜层的结构进行优化,并在不同工艺参数下制备结构相同的多层膜,使用可见光分光光度计、原子力显微镜和显微硬度计对实验制备的膜层进行表征。本发明方法进一步对多层减反射膜的制备工艺进行优化,得到最优工艺参数并对其进行验证,制备出硬度较高的多层减反射膜,从而实现提高Micro‑LED的发光亮度和对比度的同时还具备保护其表面的效果,该方法在Micro‑LED显示和投影应用上提供巨大的帮助。

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