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公开(公告)号：CN105301481A
公开(公告)日：2016-02-03
申请号：CN201510807599.4
申请日：2015-11-20
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开一种电路测试方法，该方法包含：被测对象的特性、测试仪器，以及各被测对象与测试仪器之间的连接关系存入数据库，建立被测对象模型、测试仪器模型和连接关系模型；确立当前测试的被测对象，从数据库中查询当前测试的被测对象的被测对象模型、测试仪器模型和连接关系模型；根据被测对象模型、测试仪器模型和连接关系模型，启动测试仪器对当前测试的被测对象进行测试。本发明利用数据库建立系统模型，可灵活地根据测试需求对被测对象测试仪器信息进行编辑，实现测试方法的通用性，缩短开发周期，建立的连接关系模型对开关资源进行智能配置，有效地防止人工错误而造成质量事故。
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公开(公告)号：CN107992322B
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN201711262686.1
申请日：2017-12-04
Applicant: 上海无线电设备研究所
Abstract: 一种雷达信号处理机DSP代码自更新方法，将FLASH芯片分为加载区，工作区，更新区和数据区，加载区存储二次加载代码，工作区存储正常工作代码，更新区存储更新代码，数据区存储同批次不同产品之间的差异性参数，当雷达信号处理机进行代码更新时，DSP芯片加载更新区代码并运行该更新区代码，DSP芯片获取上位机发送给FLASH芯片的更新代码，用该更新代码来更新工作区的代码，当雷达信号处理机进行参数更新时，DSP芯片加载更新区代码并运行该更新区代码，DSP芯片获取上位机发送给FLASH芯片的更新参数，用该更新参数更新数据区的参数。本发明不需额外增加硬件开销和更改电路设计，可利用现有的通信总线和FLASH芯片空间分区来可靠有效地完成DSP代码和参数的更新。
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公开(公告)号：CN111351596A
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN202010317260.7
申请日：2020-04-21
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01K7/34
Abstract: 本发明公开了一种测量温度的电容式传感器，为圆柱体形状，包含：圆柱状的内电极；套设于内电极外周的外电极；夹设在内电极和外电极之间的电介质薄膜；所述的内电极的热膨胀系数大于外电极的热膨胀系数；所述的电介质薄膜的厚度需小于等于外电极半径的1/100；当外周温度发生变化时，电介质薄膜因受到内电极的膨胀挤压而使其厚度发生改变，使得电容式传感器的电容值发生改变。本发明具有灵敏度高，结构简单，适用场景多等优点；且电容式传感器的感温介质具有多样选择性。
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公开(公告)号：CN108051619A
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：CN201711263273.5
申请日：2017-12-05
Applicant: 上海无线电设备研究所
Abstract: 本发明涉及一种TR组件波控电路快速定量测试验证系统和方法，基于PXIe总线和LAN总线架构，包含：主控计算机；内置测控组件，与主控计算机通过PXIe总线连接，包含控制型测控组件和功能型测控组件；外挂测控组件，与主控计算机通过LAN网线连接；通用测试接口，分别与内置测控组件以及外挂测控组件连接；接口测试适配器，一端与通用测试接口连接，另一端通过测试绑线与被测TR组件波控电路连接；电源模块，一端通过内置测控组件与主控计算机连接，另一端与通用测试接口连接。本发明能全程自动化的对TR组件波控电路的各项参数指标进行快速精确测试和定量验证，有效避免因人工干预而带来的干扰和误差，提高测试结果的准确性和可靠性，降低测试时间。
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公开(公告)号：CN106528203A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201610883342.1
申请日：2016-10-10
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G06F9/445
Abstract: 本发明涉及一种多片DSP芯片的自动化程序烧写方法，通过串行总线实现上位机与具有多片DSP芯片的处理机之间的数据通信；包含：S1、上位机向处理机发送开始烧写DSP芯片程序的指令，并通过串行总线将需要烧写的数据文件传输至处理机；S2、上位机通过处理机内的FPGA单元对主DSP芯片进行自动程序烧写，并对烧写的中间状态进行监控；S3、上位机通过处理机内的FPGA单元和主DSP芯片对次DSP芯片进行自动程序烧写，并对烧写的中间状态进行监控；S4、重复执行S3，直至完成所有次DSP芯片的自动程序烧写。本发明能实现批量DSP芯片的自动化程序烧写，并且对整个烧写过程进行实时监控以确保准确性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103884955A
公开(公告)日：2014-06-25
申请号：CN201410104013.3
申请日：2014-03-19
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01R31/02
Abstract: 本发明公开了一种测试适配器对被测电路板的智能识别系统，包含：主继电器；与主继电器的输入端连接的测量器；主继电器的输入端连接若干输出端中的一个；适配器；适配器包含多个接插件管脚；主继电器的多个输出端分别连接适配器的多个接插件管脚；存储单元；存储单元存储各被测电路板相对应的适配器上连接的接插件的编号；适配器的多个接插件管脚分别连接多个次继电器；与多个次继电器控制端连接的控制器；控制器连接所述存储单元读取其中存储的编号对应关系。本发明还公开了一种测试适配器对被测电路板的智能识别方法。本发明能够有效识别被测电路板，防止人为疏忽造成的误操作，测试效率高。
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公开(公告)号：CN119535035A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411626353.2
申请日：2024-11-14
Applicant: 上海无线电设备研究所
Abstract: 本发明提供一种无人值守环境筛选试验测试系统及其方法。无人值守环境筛选试验测试系统由环境试验设备、多通道自动换线装置、测试设备和管理服务器组成。其中，环境试验设备用于模拟被测产品的不同温度、湿度、气压等使用环境；多通道自动换线装置用于切换测试线缆，以实现多个产品的同时测试；测试设备用于对被测产品的详细性能参数进行检测；管理服务器用于将生产线中的测试设备、环境试验设备、被测产品、试验状态等进行集中管理，根据预置的测试流程引导测试设备及环境试验设备进行自动化测试，同时记录各设备的运行状况、各测试任务的过程情况，并将测试数据存入数据库。本发明能有效减少人工操作工作量，提高生产线资源利用率、生产效率、自动化和信息化水平。
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公开(公告)号：CN110879784B
公开(公告)日：2023-11-14
申请号：CN201911156821.3
申请日：2019-11-22
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开了一种雷达测试数据处理装置及其方法，该装置包含依次连接的：测试详情数据获取模块，用于根据已知的数据存储路径，读取测试数据文件，获取测试数据；数据设定模块，用于数据处理的设置；数据获取模块，用于根据所述数据设定模块的设置从所述测试数据中提取对应的测试数据；数据处理模块，用于对提取的测试数据进行处理分析；输出显示模块，用于输出所述数据处理模块的分析结果。其优点是：该装置将测试详情数据获取模块、数据设定模块、数据获取模块、数据处理模块和输出显示模块等相结合，解决了现有技术中的测试数据处理效率低、分析不深入、数据有效使用率低的技术问题。
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公开(公告)号：CN111351596B
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN202010317260.7
申请日：2020-04-21
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01K7/34
Abstract: 本发明公开了一种测量温度的电容式传感器，为圆柱体形状，包含：圆柱状的内电极；套设于内电极外周的外电极；夹设在内电极和外电极之间的电介质薄膜；所述的内电极的热膨胀系数大于外电极的热膨胀系数；所述的电介质薄膜的厚度需小于等于外电极半径的1/100；当外周温度发生变化时，电介质薄膜因受到内电极的膨胀挤压而使其厚度发生改变，使得电容式传感器的电容值发生改变。本发明具有灵敏度高，结构简单，适用场景多等优点；且电容式传感器的感温介质具有多样选择性。
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公开(公告)号：CN110879784A
公开(公告)日：2020-03-13
申请号：CN201911156821.3
申请日：2019-11-22
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明公开了一种雷达测试数据处理装置及其方法，该装置包含依次连接的：测试详情数据获取模块，用于根据已知的数据存储路径，读取测试数据文件，获取测试数据；数据设定模块，用于数据处理的设置；数据获取模块，用于根据所述数据设定模块的设置从所述测试数据中提取对应的测试数据；数据处理模块，用于对提取的测试数据进行处理分析；输出显示模块，用于输出所述数据处理模块的分析结果。其优点是：该装置将测试详情数据获取模块、数据设定模块、数据获取模块、数据处理模块和输出显示模块等相结合，解决了现有技术中的测试数据处理效率低、分析不深入、数据有效使用率低的技术问题。
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