公开(公告)号：CN101266821A

公开(公告)日：2008-09-17

申请号：CN200810081210.2

申请日：2004-04-14

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 黃盛凞 ,  高祯完

IPC: G11B20/18 ,  G11B7/0045

Abstract: 提供一种从光学记录介质再现数据的方法，所述光学记录介质包括导入区、数据区、导出区、临时缺陷管理区以及缺陷管理区，所述方法包括：从设置在导入区或导出区中的临时缺陷管理区再现临时盘定义结构，所述临时盘定义结构包括在缺陷管理开/关模式被选择之后在数据区中分配的备用区的大小的信息，其中，所述缺陷管理开/关模式是允许再现设备识别在数据被记录到所述记录介质中的同时缺陷管理是否将被执行的信息。

公开(公告)号：CN100411051C

公开(公告)日：2008-08-13

申请号：CN200510069441.8

申请日：2005-05-10

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 黃盛凞 ,  高祯完

IPC: G11B20/18 ,  G11B7/00

CPC classification number: G11B20/1816 ,  G11B20/00086 ,  G11B20/00094 ,  G11B20/00949

Abstract: 一种记录/再现块被记录在其上的记录介质，一种将数据记录在记录介质上和/或从记录介质再现数据的设备，和一种在记录介质上记录数据/从记录介质再现数据的方法。记录/再现单元块包括在盘检验中使用的无效数据，和指示无效数据被包括在记录/再现单元块中的标识符，无效数据在对记录介质的一部分或整个记录介质进行盘检验期间被使用。

公开(公告)号：CN101079272A

公开(公告)日：2007-11-28

申请号：CN200710126968.9

申请日：2004-04-14

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 黃盛凞 ,  高祯完

IPC: G11B7/0045 ,  G11B20/18

Abstract: 一种由设备使用和/或在计算机可读介质上编码的记录方法，包括：选择缺陷管理开模式或缺陷管理关模式，所述缺陷管理开模式或缺陷管理关模式指示在数据被记录在记录介质中的同时缺陷管理是否将被执行；如果缺陷管理开模式被选择，那么在对记录介质执行缺陷管理的同时将数据记录在该记录介质中；以及如果缺陷管理关模式被选择，那么在没有缺陷管理的情况下将数据记录在该记录介质中。