半导体发光装置
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111009601A

    公开(公告)日:2020-04-14

    申请号:CN201910628665.X

    申请日:2019-07-12

    Abstract: 半导体发光装置包括第一半导体层,其在衬底上并具有第一导电类型;有源层,其在第一半导体层上;第二半导体层,其在有源层上并具有第二导电类型,第二半导体层掺杂有镁,并且具有基本平行于衬底的上表面的上表面以及相对于衬底的上表面倾斜的侧表面;以及第三半导体层,其在第二半导体层上并具有第二导电类型,第三半导体层掺杂有不同于第二半导体层的镁浓度的镁浓度,并且第三半导体层具有基本平行于衬底的上表面的上表面,以及相对于衬底的上表面倾斜的侧表面。

    开关控制电压发生器、带隙基准发生器及其开关电压产生方法

    公开(公告)号:CN119311069A

    公开(公告)日:2025-01-14

    申请号:CN202410929457.4

    申请日:2024-07-11

    Abstract: 半导体器件,包括产生基准电压的带隙基准发生器;开关控制电压发生器,其基于所述基准电压产生第一基准电流,并且通过将第一基准电流分发给第一路径和第二路径来产生自适应开关电平电压,第一路径包括第一电阻器,并且第二路径包括串联连接的第二电阻器和第一双极结型晶体管;以及开关控制器,其基于自适应开关电平电压产生用于控制包括在带隙基准发生器中的开关的开关控制信号。自适应开关电平电压具有比第一双极结型晶体管的基极‑发射极电压的相对于温度的斜率大的相对于温度的斜率。

    内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路

    公开(公告)号:CN113049129A

    公开(公告)日:2021-06-29

    申请号:CN202011054017.7

    申请日:2020-09-29

    Abstract: 一种温度测量电路,包括:带隙基准电路,被配置为生成与工作温度无关的固定的带隙基准电压;基准电压生成器电路,被配置为通过调整所述带隙基准电压生成测量基准电压;感测电路,被配置为基于偏置电流生成温变电压,其中,所述温变电压根据所述工作温度变化;模数转换器电路,被配置为基于所述测量基准电压和所述温变电压生成指示所述工作温度的第一数字代码;以及模拟内置自测试(BIST)电路,被配置为生成多个标志信号,其指示所述带隙基准电压、所述测量基准电压和与所述偏置电流相对应的偏置电压中的每一个是否包括在预定范围内。

    CMOS温度传感器
    20.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110243485A

    公开(公告)日:2019-09-17

    申请号:CN201811283439.4

    申请日:2018-10-31

    Abstract: 提供一种CMOS温度传感器。所述CMOS温度传感器,包括:带隙基准电路,使用与温度成反比的第一电压和与温度成正比的第二电压输出与温度无关的恒定的带隙基准电压,并使用第二电压产生与温度成正比的第一电流;基准电压产生器,复制第一电流并输出使用第一电压和复制的第一电流产生的基准电压;温度信息电压产生器,复制第一电流并输出与温度成正比的温度信息电压。

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