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公开(公告)号:CN107301946A
公开(公告)日:2017-10-27
申请号:CN201710243397.0
申请日:2017-04-14
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H01L21/30625 , B24B37/20 , B24B53/017 , H01L21/02057 , H01L21/02065 , H01L21/02074 , H01L21/67046 , H01L21/67051 , H01L21/67173 , H01L21/67219 , H01L21/67023
Abstract: 提供一种用于从基板去除粒子的清洁装置。该清洁装置包括:第一清洁单元,包括将第一化学液体和第一喷雾供应到基板的第一双喷嘴,第一喷雾包括溶解第一化学液体的第一液体;以及第二清洁单元,包括将不同于第一化学液体的第二化学液体和第二喷雾供应到基板的第二双喷嘴,第二喷雾包括溶解第二化学液体并且与第一液体相同的第二液体。
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公开(公告)号:CN104051299A
公开(公告)日:2014-09-17
申请号:CN201410090605.4
申请日:2014-03-12
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L21/67
CPC classification number: H01L21/67126 , H01L21/67751 , H01L21/68785
Abstract: 本发明提供了基板处理装置、基板处理系统以及处理基板的方法。该基板处理系统可以包括构造为用超临界流体处理基板的处理装置以及构造为提供超临界流体到处理装置的供给装置。处理装置可以包括超临界工艺区和预超临界工艺区,在该超临界工艺区中基板用超临界流体处理,在预超临界工艺区中超临界流体膨胀然后被提供到超临界工艺区中以在超临界工艺区中产生超临界状态。
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公开(公告)号:CN118685773A
公开(公告)日:2024-09-24
申请号:CN202410334456.5
申请日:2024-03-22
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 蚀刻组合物可包括氧化剂、铵盐、水性溶剂和促进剂,所述铵盐包括铵阳离子和有机阴离子,所述促进剂包括第一促进剂和第二促进剂,所述第一促进剂和所述第二促进剂彼此不同,并且所述第一促进剂和所述第二促进剂各自包括由下式A表示的基团、由下式B表示的基团和由下式C表示的基团的至少一个,其中Y1、T1、T1a和A1如本说明书中所定义的。可使用该蚀刻组合物进行蚀刻含金属的膜的方法,并且可使用该蚀刻组合物进行制造半导体器件的方法。#imgabs0#
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公开(公告)号:CN107301946B
公开(公告)日:2023-09-26
申请号:CN201710243397.0
申请日:2017-04-14
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供一种用于从基板去除粒子的清洁装置。该清洁装置包括:第一清洁单元,包括将第一化学液体和第一喷雾供应到基板的第一双喷嘴,第一喷雾包括溶解第一化学液体的第一液体;以及第二清洁单元,包括将不同于第一化学液体的第二化学液体和第二喷雾供应到基板的第二双喷嘴,第二喷雾包括溶解第二化学液体并且与第一液体相同的第二液体。
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公开(公告)号:CN111410963B
公开(公告)日:2023-07-21
申请号:CN202010025962.8
申请日:2020-01-07
Applicant: 三星电子株式会社 , 东友精细化工有限公司
IPC: C09K13/00 , H01L21/306
Abstract: 一种硅层刻蚀剂组合物、制备其的方法及形成图案的方法,所述组合物包含约1重量%到约20重量%的烷基氢氧化铵;约1重量%到约30重量%的胺化合物;约0.01重量%到约0.2重量%的包括疏水基团及亲水基团两者的非离子表面活性剂;以及水,所有重量%都是基于所述硅层刻蚀剂组合物的总重量。
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公开(公告)号:CN110120358A
公开(公告)日:2019-08-13
申请号:CN201910034834.7
申请日:2019-01-15
Abstract: 公开了清洁组合物、清洁装置和制造半导体器件的方法,清洁组合物包括:表面活性剂;去离子水;以及有机溶剂,其中,表面活性剂以约0.28M至约0.39M的浓度或约0.01至约0.017的摩尔分数包括在清洁组合物中,其中,有机溶剂以约7.1M至约7.5M的浓度或约0.27至约0.35的摩尔分数包括在清洁组合物中。
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公开(公告)号:CN110060942A
公开(公告)日:2019-07-26
申请号:CN201811608953.0
申请日:2014-03-12
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L21/67 , H01L21/677 , H01L21/687
Abstract: 本公开提供了基板处理装置、基板处理系统以及处理基板的方法。该基板处理系统可以包括构造为用超临界流体处理基板的处理装置以及构造为提供超临界流体到处理装置的供给装置。处理装置可以包括超临界工艺区和预超临界工艺区,在该超临界工艺区中基板用超临界流体处理,在预超临界工艺区中超临界流体膨胀然后被提供到超临界工艺区中以在超临界工艺区中产生超临界状态。
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公开(公告)号:CN109148328A
公开(公告)日:2019-01-04
申请号:CN201810631977.1
申请日:2018-06-19
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H01L21/67
CPC classification number: H01L21/67034 , H01L21/02057 , H01L21/67126 , H01L21/67178 , H01L21/6719 , H01L21/67201
Abstract: 公开了工艺腔以及包括该工艺腔的衬底处理装置。工艺腔包括第一壳体和在第一壳体上的第二壳体。第一壳体包括第一外壁、面对第一外壁的第一分隔壁以及连接第一外壁和第一分隔壁的第一侧壁。第二壳体包括第二外壁、在第二外壁和第一分隔壁之间的第二分隔壁以及连接第二外壁和第二分隔壁的第二侧壁。第一外壁和第二外壁中的每个具有比第一分隔壁的厚度和第二分隔壁的厚度大的厚度。
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公开(公告)号:CN114868455B
公开(公告)日:2024-12-13
申请号:CN202180007479.X
申请日:2021-01-05
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 公开了一种用户设备(UE),包括:与第一蜂窝网络相对应的第一用户识别模块、与第二蜂窝网络相对应的第二用户识别模块、无线通信电路、以及可操作地连接到第一用户识别模块、第二用户识别模块和无线通信电路的处理器。其中处理器被配置为:控制UE通过无线通信电路,利用第一用户识别模块的第一识别信息与支持EUTRA NR双连接(EN‑DC)的第一蜂窝网络执行数据通信;检测触发通过第二蜂窝网络的数据通信的活动;以及响应于检测到该活动,通过无线通信电路利用第二用户识别模块的第二识别信息与第二蜂窝网络连接数据通信,并且维持对UE能力的与第一蜂窝网络相关联的EN‑DC的支持。
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