公开(公告)号：CN206096193U

公开(公告)日：2017-04-12

申请号：CN201621138117.7

申请日：2016-10-19

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 李兴冀 ,  马国亮 ,  刘超铭 ,  杨剑群 ,  吕钢

IPC: G01R1/04

Abstract: 一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，属于电性能测试领域，解决了现有的宇航级电子元器件的空间环境效应研究的测试结果不准确，周期长和成本高的问题。所述环境箱密封防震隔热设置，在环境箱的上表面上设置有辐照窗口，在环境箱的内部设置有升降平台，在所述升降平台上设置有控温平台，在所述控温平台上设置有测试卡具，所述控温平台用于对待测的电子元器件进行冷却、加热或冷热循环处理，所述测试卡具用于将待测的电子元器件固定在控温平台上，被固定的电子元器件与辐照窗口上下相对，在所述环境箱的表面上还设置有通气孔和真空插头，所述被固定的电子元器件与真空插头通过导线相连。本新型适用于宇航级电子元器件的空间环境效应研究。

公开(公告)号：CN209911108U

公开(公告)日：2020-01-07

申请号：CN201920788652.4

申请日：2019-05-29

Applicant: 哈尔滨工业大学

Inventor： 吕钢 ,  董尚利 ,  耿洪滨 ,  刘勇 ,  刘海

IPC: G01N3/02

Abstract: 本实用新型属于霍普金森杆实验装置技术领域，具体涉及一种用于分离式霍普金森杆实验的试件低温控制装置，包括氮气源和保温壳，保温壳通过保温管道与氮气源连接；设有氮气控制机构；保温壳的两端分别开有通孔用于霍普金森杆穿过；还包括保温气囊，保温气囊套在保温壳外部，保温气囊有三个口，其中两个为端部口，另外为顶口；所述的顶口边缘密封固定在保温壳上，并且保温管道从顶口内穿过；所述的端部口分别密封固定在套环上，所述的套环密封固定在霍普金森杆上，并位于保温壳外部。本实用新型通过保温气囊，得到一个密封的实验环境，在密封区域内温度各处相差不大，可以准确的控制试件的低温条件。