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公开(公告)号：CN107179049A
公开(公告)日：2017-09-19
申请号：CN201710388019.1
申请日：2017-05-27
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01B11/00
CPC classification number: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种高精度轴系旋转精度的光学测量装置及方法，该发明利用光学方法来测量转台旋转精度,利用光轴来不断逼近机械转轴并通过对光轴跳动量的测量来获得机械转轴精度。具体是利用平行光穿过机械转轴，并成像于随转轴转动的检测相机的焦面上,机械转轴转动时检测相机的成像点会随之运动，运动轨迹接近与圆形,圆心位置则对应机械转轴，通过调节平行光的方向使得成像点接近圆心,通过多次调节及逼近最终使得成像光斑质心随转轴转动变化最小,该质心变化量与成像相机焦距的比值即为转轴的旋转精度,且机械转轴与光轴重合。本发明装置结构简单、成本低廉、标定方法简单。
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公开(公告)号：CN104808346B
公开(公告)日：2017-08-15
申请号：CN201510145496.6
申请日：2015-03-31
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种线性色散组合棱镜分光器件，由两块特殊选材、侧面镀膜的棱镜按照“底面相贴，镀膜面相对”的方式组合而成，特别适用于光谱分析、光谱检测及其相关领域。该发明基于控制变量法和微分方程思想，依据第一块棱镜材料的色散特性，通过控制光线的传播方向、棱镜的形状，利用第二块棱镜的非线性色散对第一块棱镜的非线性色散进行补偿，得到线性色散组合棱镜分光器件。该组合棱镜克服了单个棱镜色散非线性的缺陷，具有自由光谱范围宽、光能利用率高、通用性好、结构简单、价格低廉等优点。
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公开(公告)号：CN106644066A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611061344.9
申请日：2016-11-25
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/0205
Abstract: 本发明公开了一种成像光谱仪的杂光抑制方法。该方法针对基于集成滤光片分光且采用分色片进行谱段分离的成像光谱仪。分色片在系统视场光阑附近，分A、B区镀分色膜，入射光谱覆盖λa1～λb4。λab是双通道分界波长；λac、λbc分别是反射表面和透射表面薄膜分界线对应的波长。A区域λa1～λa3反射，λb1～λb3透射，反射光谱下降沿在λac之后，透射光谱上升沿在λab之前；B区域λa2～λa4反射，λb2～λb4透射，反射光谱下降沿在λab之后，透射光谱上升沿在λbc之前。经集成滤光片后，反射通道为λa1～λab，透射通道为λab～λb4。本发明对于集成滤光片分光的成像光谱仪，解决了普通分色片过渡区有带内杂光且光学效率低的问题，也降低了分光薄膜的研制难度。
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公开(公告)号：CN105511075A
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201610019756.X
申请日：2016-01-13
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种大视场摆扫二维像移补偿双通道成像仪光学系统，包括前向像移补偿镜、离轴三反无焦望远镜、第二折转镜、横向像移补偿镜、第三折转镜、分色片、通道一成像镜组、通道一像面、通道二成像镜组和通道二像面。整个光路以光轴为对称轴近似呈轴对称排布可有效减小航空相机摆扫时的转动惯量，无焦望远镜采用离轴三反的设计可避免中心遮挡保证相机的空间分辨率，望远镜具有实的入瞳和出瞳可以放置二维像移补偿镜。本发明具有大视场大相对口径、光路转动惯量小、结构紧凑、加工装调技术成熟等优点，可用于无人机和飞机吊舱等平台的高分辨率面阵摆扫航空光学相机中。
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公开(公告)号：CN104808346A
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：CN201510145496.6
申请日：2015-03-31
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
CPC classification number: G02B27/1006 , G02B5/04
Abstract: 本发明公开了一种线性色散组合棱镜分光器件，由两块特殊选材、侧面镀膜的棱镜按照“底面相贴，镀膜面相对”的方式组合而成，特别适用于光谱分析、光谱检测及其相关领域。该发明基于控制变量法和微分方程思想，依据第一块棱镜材料的色散特性，通过控制光线的传播方向、棱镜的形状，利用第二块棱镜的非线性色散对第一块棱镜的非线性色散进行补偿，得到线性色散组合棱镜分光器件。该组合棱镜克服了单个棱镜色散非线性的缺陷，具有自由光谱范围宽、光能利用率高、通用性好、结构简单、价格低廉等优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104749774A
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201510145359.2
申请日：2015-03-31
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
CPC classification number: G02B17/0621 , G02B27/0012
Abstract: 本发明公开了一种离轴三反推帚式激光三维成像发射系统，根据发射光纤芯径、单元发散角和激光发射的总视场设计离轴三反扩束望远镜，实现多元激光的并行扩束发射。该激光发射光学系统由发射光纤阵列、平面折转镜以及离轴三反望远镜组成，平面折转镜的作用是减小系统光路的总长度。本发明的特点在于使用一个离轴三反系统实现多元激光的并行扩束发射，各元激光以大小相等的发散角发射，并且能实现很小的发散角，在地面上形成大小相等、间隔均匀的足印光斑。本发明可用于航空航天的多波束推帚式激光三维成像领域。
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公开(公告)号：CN102611508B
公开(公告)日：2014-08-13
申请号：CN201210072962.9
申请日：2012-03-19
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: H04B10/70
Abstract: 本发明公开了一种兼容量子光接收与发射的量子通信系统，它采用孔径分割的方式来实现同时兼容量子收发的功能，适用于自由空间量子通信及光通信领域。该光学终端由主望远镜、跟踪反射镜、跟踪光与量子光分色片、跟踪模块、量子收发孔径分割反射镜、量子接收处理单元及量子发射单元构成，跟踪模块通过跟踪光的成像光斑位置变化来控制跟踪反射镜的方向变化，从而保证发射端与接收端的高精度对准，通过孔径分割反射镜来实现同时兼容量子收发的功能，满足兼容量子接收与发射的设计要求。
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公开(公告)号：CN103900688A
公开(公告)日：2014-07-02
申请号：CN201410120502.8
申请日：2014-03-28
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J3/02
Abstract: 本发明公开了一种基于自由曲面的成像光谱仪分光系统，该系统由入射狭缝，自由曲面准直反射镜，平面衍射光栅以及自由曲面成像反射镜和像面探测器组成。本发明的特点在于使用高性能且工艺成熟的平面光栅，配以高自由度的非旋转对称自由曲面，实现结构简单、紧凑、小像差、低畸变、高效率的分光系统。系统中采取孔径离轴的方式达到无光线遮拦的目的，各光学元件之间不存在相对的角度旋转，可以较方便简易地实现装调，缩短研制的周期。本发明基于自由曲面的分光系统的设计的实施例在8-12.5μm的长波红外谱段实现了很好的光谱成像，在保证系统简单、紧凑的前提下，较好地校正了球差、彗差、像散、光谱畸变和谱线弯曲等。本发明可以应用于航天、航空的高光谱成像领域。
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公开(公告)号：CN103234632A
公开(公告)日：2013-08-07
申请号：CN201310098338.0
申请日：2013-03-26
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
CPC classification number: G01J3/0208 , G01J3/0243 , G01J3/14 , G01J3/18 , G01J3/36
Abstract: 本发明公开一种高分辨率宽视场的推帚式光谱成像仪光学系统，由一个离轴三反射镜望远物镜和一个基于棱镜－光栅－棱镜分光的光谱仪构成，其中基于棱镜－光栅－棱镜分光的光谱仪包含狭缝、准直镜、色散器件、会聚镜和面阵探测器，视场光栏狭缝置于望远物镜的焦面上。本发明可以根据实际需求设计成多个通道共用一个望远物镜，地表目标进入望远物镜中，在后方经分色镜分光，各自通过光谱仪成像，因此根据需要可以实现不同的光谱宽度，同时也使系统更加紧凑、轻量化，灵活且实用性强。通过本发明可有效解决当前推帚式成像光谱仪普遍视场不大，分辨率低、作业效率不高的问题，设计出高分辨率宽视场的光谱成像系统。
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公开(公告)号：CN102620907A
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：CN201210073614.3
申请日：2012-03-19
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种测量光学器件相位延迟角度的方法，该检测装置由检测光源、起偏偏振片、1/4波片、待检光学器件、偏振光方位角探测组件组成，通过测量检测光源通过待测相位延迟器件前后的状态变化，从而获知待测器件的相位延迟角度。它适用于偏振光学系统、椭圆偏振测量领域、激光技术等与偏振相关的测量与检测领域。该方法的原理描述如下：长轴处于水平或竖直方向的椭圆偏振光通过不同相位延迟角度的光学器件时，其透射或反射偏振光的长轴方向会有所不同，通过测量透射或反射光的长轴方位角度来反推出待测器件的相位延迟角度，从而实现对待测器件偏振特性的测量。
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