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公开(公告)号：CN105067570A
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201510424311.5
申请日：2015-07-17
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种双轴激光差动共焦LIBS、拉曼光谱-质谱成像方法与装置，属于共焦显微成像、质谱成像及光谱测量技术领域。本发明将双轴差动共焦显微成像技术与光谱、质谱探测技术结合，利用经超分辨技术处理的双轴差动共焦显微镜的微小聚焦光斑对样品进行高空间分辨形态成像，利用质谱探测系统对样品微区带电分子、原子等进行质谱探测，利用光谱探测系统对聚焦光斑激发光谱(拉曼光谱、诱导击穿光谱)进行微区光谱探测，利用激光多谱探测的优势互补和结构融合实现样品微区完整组分信息与形态参数的高空间分辨和高灵敏成像与探测。本发明可为生物、材料等领域物质组分及形态成像探测提供一条全新的有效技术途径。
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公开(公告)号：CN105021577A
公开(公告)日：2015-11-04
申请号：CN201510350369.X
申请日：2015-06-23
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光谱测量及成像技术领域，涉及一种激光共焦诱导击穿光谱-拉曼光谱成像探测方法及装置，可用于样品的微区组分与形态参数的高空间分辨成像与探测。该方法与装置利用激光诱导击穿光谱探测样品组分的元素组成信息，利用拉曼光谱探测样品的化学键与分子结构信息，利用共焦技术探测样品表面形貌信息，并通过轴向定焦保证聚焦到样品表面的光斑最小从而提高光谱激发效率，三者联用可实现结构共用和功能互补，构成一种“图谱合一”的高空间分辨的光谱成像探测方法及装置，本发明具有高空间分辨，物质组分信息丰富和测量聚焦光斑尺寸可控等优点，在矿产、冶金、空间探测、环境监测、生物医疗等领域有广泛的应用前景。
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公开(公告)号：CN103926001B
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201410086449.4
申请日：2014-03-10
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种高速多光谱无限远动态目标发生方法与装置。该方法与装置在目标发生方法中融入动态扫描技术，利用宽光谱光源系统、滤色系统、靶标系统和消色差准直系统结合生成多光谱的无限远目标，利用动态扫描技术对生成的无限远目标进行角度变换产生动态目标，实现目标发生与动态扫描功能上的结合和结构上的分离，构成一种可发生多波长多形状动态目标的目标发生方法与装置。本发明具有发生目标光谱宽、形状多样、扫描范围大、高速动态等优点，将为卫星、导弹跟踪装置以及其他军用、民用跟踪瞄测设备提供多功能高性能的目标发生源。
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公开(公告)号：CN104833486A
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201510240387.2
申请日：2015-05-13
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种多次反射式激光差动共焦长焦距测量方法与装置。该方法通过在被测镜后引入平行平晶和反射镜对聚焦光束进行多次反射，利用激光差动共焦光强响应曲线过零点与会聚点精确对应这一特性，对多次折返后不同反射次数的会聚点进行高精度定焦，再由测长干涉仪精确测得反射镜位置信息，继而实现长焦距高精度测量。本发明提出的差动共焦定焦原理与多次反射式折返原理相结合的方法，极大程度压缩了测量光路，大幅缩短了测量距离，从而减少了仪器结构，抗高了抗环境干扰能力，可用于长焦距透镜或光学系统焦距的高精度测量。
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公开(公告)号：CN103411957B
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201310370396.4
申请日：2013-08-22
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01N21/65
Abstract: 本发明属于光谱测量技术领域，涉及一种高空间分辨双轴共焦图谱成像方法与装置。本发明的核心思想是将双轴共焦显微和光谱探测技术有机融合，利用常被遗弃的瑞利光进行辅助探测，提高系统的空间分辨力，并且具有三维尺度层析图像、光谱探测及微区图谱层析成像三种探测模式。本发明具有空间分辨力高，定位准确，光谱探测灵敏度高等优点，在生物医学、物理材料学、石油化工、环境科学等领域有广泛的应用前景，为微区三维几何位置与光谱的高空间分辨探测提供了新途径。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104698069A
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201510117044.7
申请日：2015-03-17
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01N27/64
Abstract: 本发明涉及一种高空间分辨激光双轴差动共焦质谱显微成像方法与装置，属于共焦显微成像技术和质谱成像技术领域。本发明将双轴差动共焦成像技术、和质谱成像技术相结合，利用高空间分辨双轴差动共焦系统的聚焦光斑对样品进行轴向定焦与成像、利用高空间分辨双轴差动共焦系统的聚焦光斑对样品进行解吸电离来进行质谱成像，进而实现样品微区图像与组分的高空间分辨成像。装置包括点光源、准直透镜、环形光发生系统和测量物镜，还包括沿采集光轴方向放置的采集透镜、聚焦透镜、中继放大透镜和强度探测器，以及用于探测等离子体羽组分的电离样品吸管和质谱探测系统，入射光轴和采集光轴的夹角为2θ。可为生物质谱高分辨成像提供一个全新的有效技术途径。
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公开(公告)号：CN104697982A
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201510117075.2
申请日：2015-03-17
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种高空间分辨激光差动共焦质谱显微成像方法与装置，属于共焦显微成像技术和质谱成像技术领域。本发明将差动共焦成像技术、质谱成像技术和光谱探测技术相结合，利用高空间分辨差动共焦显微系统的聚焦光斑对试样进行轴向定焦与成像，利用高空间分辨差动共焦显微系统的同一聚焦光斑对样品进行解吸电离来进行质谱成像，进而实现样品微区图像与组分的高空间分辨成像。装置包括点光源、准直透镜、环形光发生系统、分光镜、中孔反射镜和中孔测量物镜，还包括用于探测聚焦光斑反射光强度信号的差动共焦强度探测器，以及用于探测等离子体羽组分的电离样品吸管和质谱探测系统。本发明可用于生物质谱的高分辨成像。
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公开(公告)号：CN104697981A
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201510117018.4
申请日：2015-03-17
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种高空间分辨激光分光瞳共焦质谱显微成像方法与装置，属于共焦显微成像技术和质谱成像技术领域。本发明将分光瞳共焦成像技术、质和光谱探测技术相结合，利用经超分辨技术处理的分光瞳共焦显微镜的微小聚焦光斑对样品进行高空间分辨形态成像，利用质谱探测系统对分光瞳共焦显微系统聚焦光斑解吸电离样品而产生的带电分子、原子等进行微区质谱成像，然后再通过探测数据信息的融合与比对获得完整的样品成分信息，实现被测样品微区高空间分辨和高灵敏形态与组分的成像与探测。本发明克服了现有共焦显微成像技术无法抑制焦面杂散光干扰的缺陷，抗杂散光能力强，可为生物质谱高分辨成像提供一个全新的有效技术途径。
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公开(公告)号：CN104677884A
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201510116865.9
申请日：2015-03-17
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01N21/71
Abstract: 本发明涉及一种高空间分辨激光分光瞳差动共焦质谱显微成像方法与装置，属于共焦显微成像技术和质谱成像技术领域。本发明将分光瞳差动共焦显微成像技术和质谱成像技术相结合，利用高空间分辨分光瞳差动共焦显微系统的聚焦光斑对样品进行轴向定焦与成像、利用高空间分辨分光瞳差动共焦显微系统的同一聚焦光斑对样品进行解吸电离来进行质谱成像，进而实现样品微区图像与组分的高空间分辨成像。本发明可实现样品微区的高空间分辨质谱探测和微区显微成像，有效地发挥分光瞳差动共焦系统高空间分辨的潜能，提高了激光质谱仪的空间分辨能力，抗杂散光能力强。本发明可为生物质谱高分辨成像提供一个全新的有效技术途径。
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公开(公告)号：CN104677864A
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201510116869.7
申请日：2015-03-17
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种高空间分辨激光分光瞳共焦光谱-质谱显微成像方法与装置，属于共焦显微成像技术、光谱成像技术和质谱成像技术领域。本发明将分光瞳共焦成像技术、质谱成像技术和光谱探测技术相结合，利用经超分辨技术处理的分光瞳共焦系统的微小聚焦光斑对样品进行高空间分辨形态成像，利用质谱探测系统对分光瞳共焦系统聚焦光斑解吸电离样品而产生的带电分子、原子等进行微区质谱成像，利用光谱探测系统对分光瞳共焦系统聚焦光斑解吸电离样品而产生的等离子体发射光谱信息进行光谱成像，然后再通过探测数据信息的融合与比对实现被测样品微区高空间分辨和高灵敏形态与组分的成像与探测。本发明可为生物质谱高分辨成像提供一个全新的有效技术途径。
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