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公开(公告)号：CN102590234A
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：CN201110391895.2
申请日：2009-05-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 公开了一种基于直线轨迹扫描的双能欠采样物质识别系统和方法。利用直线轨迹扫描过程中由整层的低能探测器阵列获得的低能投影数据对被检测物体进行CT重建，在CT重建图像中运用区域图像分割方法按照衰减系数对此断层图像进行区域分割并进行标记。同时，利用设置在部分低能探测器后的少数几个高能探测器得到的投影数据实现双能量物质识别成像。由于利用直线轨迹，不需要旋转，因此机械设计简单，检查通关率高；由于仅使用少量几个的双能探测器，系统成本低。
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公开(公告)号：CN102435620A
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN201110390869.8
申请日：2007-10-05
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/087
Abstract: 本发明公开了一种通过双能CT成像来对液态物品进行快速安全检查的方法及设备。首先借助CT扫描和双能重建方法，获得包含被检液体物理属性的一层或多层CT图像；然后通过图像处理和分析方法，从CT图像中获取每一件被检液体的物理属性值；最后根据物理属性值判断被检液态物品是否为危险品。其中，CT扫描方法既包括常规的断层CT扫描技术，也可用螺旋CT扫描技术实现；在使用常规断层CT扫描技术时，既可设置一系列特定的位置进行扫描，也可借助DR图像由操作员指定扫描位置，还可以通过对DR图像的自动分析来确定液体部分的位置，引导CT扫描。
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公开(公告)号：CN101900696B
公开(公告)日：2012-01-04
申请号：CN200910085925.X
申请日：2009-05-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/087
CPC classification number: A61B6/4035 , A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/482 , A61B6/5205 , G06T11/005 , G06T11/008 , G06T2211/408
Abstract: 公开了一种双能欠采样物质识别方法和系统。利用CT图像重建方法获得被检测物体的CT图像，同时获得少量的双能欠采样投影，并根据此双能投影数据查表求出光电系数积分和康普顿系数积分。利用图像处理技术对已获得的被检测物体CT图像进行区域分割并将分割后的区域进行标记，再计算已获得的少量双能投影射线穿过各个标记区域的长度。利用双能前处理双效应分解重建方法建立方程组以便计算康普顿系数和光电系数，进而求出各分块区域物质原子序数和电子密度。利用物质原子序数可以识别出被检查物体中的物质类型。
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公开(公告)号：CN101900696A
公开(公告)日：2010-12-01
申请号：CN200910085925.X
申请日：2009-05-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/087
CPC classification number: A61B6/4035 , A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/482 , A61B6/5205 , G06T11/005 , G06T11/008 , G06T2211/408
Abstract: 公开了一种双能欠采样物质识别方法和系统。利用CT图像重建方法获得被检测物体的CT图像，同时获得少量的双能欠采样投影，并根据此双能投影数据查表求出光电系数积分和康普顿系数积分。利用图像处理技术对已获得的被检测物体CT图像进行区域分割并将分割后的区域进行标记，再计算已获得的少量双能投影射线穿过各个标记区域的长度。利用双能前处理双效应分解重建方法建立方程组以便计算康普顿系数和光电系数，进而求出各分块区域物质原子序数和电子密度。利用物质原子序数可以识别出被检查物体中的物质类型。
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公开(公告)号：CN101900695A
公开(公告)日：2010-12-01
申请号：CN200910085924.5
申请日：2009-05-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/087 , A61B6/032 , A61B6/4035 , A61B6/4241 , A61B6/4266 , A61B6/482 , G01N2223/419 , G01N2223/423 , G06T11/005 , G06T11/008 , G06T2211/408
Abstract: 公开了一种伪双能欠采样物质识别系统及其方法。该系统利用基于CT图像的双能投影欠采样物质识别方法，在第二层探测器中仅利用少量的探测器进行双能数据采样，并将该方法中解方程组的部分进行优化，有效的实现了低成本，快速度的双能物质识别成像。具有应用于安全检查，无损检测，医疗诊断等领域的潜力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101900694A
公开(公告)日：2010-12-01
申请号：CN200910085923.0
申请日：2009-05-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 公开了一种基于直线轨迹扫描的双能欠采样物质识别系统和方法。利用直线轨迹扫描过程中由整层的低能探测器阵列获得的低能投影数据对被检测物体进行CT重建，在CT重建图像中运用区域图像分割方法按照衰减系数对此断层图像进行区域分割并进行标记。同时，利用设置在部分低能探测器后的少数几个高能探测器得到的投影数据实现双能量物质识别成像。由于利用直线轨迹，不需要旋转，因此机械设计简单，检查通关率高；由于仅使用少量几个的双能探测器，系统成本低。
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公开(公告)号：CN101071109B
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：CN200610076573.8
申请日：2006-05-08
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01N23/04 , G06T7/0004
Abstract: 本发明涉及辐射成像技术领域，尤其涉及一种多段直线轨迹成像的货物安全检查系统，该系统包括：射线发生单元，用于产生透射检查对象的射线束，该射线束透射检查对象后到达数据采集单元；机械传送单元，用于沿与数据采集单元接收平面平行方向传送检查对象；数据采集单元，用于接收透射检查对象射线束的透射数据，并将接收的透射数据组合成投影数据输出给成像单元；成像单元，用于将接收自数据采集单元的投影数据重建为图像，并将重建的图像输出给显示单元；显示单元，用于显示成像单元输入的图像。利用本发明，能够对检查对象进行快速成像，同时解决了大型物体旋转困难及传统透射成像安全检查系统成像时存在的物体重叠问题。
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公开(公告)号：CN100565336C
公开(公告)日：2009-12-02
申请号：CN200510123587.6
申请日：2005-11-21
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G03B42/02
Abstract: 公开了一种成像系统，包括：包括至少一个射线源的射线发生装置，用于产生射线；数据采集装置，包括面对所述射线源设置的探测器阵列并用于通过接收穿透待检查物体的射线来获得投影数据；传送装置，用于在检查过程中使位于射线源和探测器阵列之间的待检查物体与射线源和探测器阵列做相对直线运动；以及控制和图像处理装置，用于控制所述射线发生装置、所述数据采集装置和传送装置，并从所述投影数据重建待检查物体的图像。本发明的成像系统，采用直线轨迹扫描，使用直线滤波反投影算法重建断层或立体图像，真正实现立体成像。本成像系统具有检查速度快、不需要旋转、没有圆轨道锥束CT中的大锥角问题等优点。
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公开(公告)号：CN101403710A
公开(公告)日：2009-04-08
申请号：CN200710180652.8
申请日：2007-10-05
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/087 , G01N23/04
Abstract: 公开了一种通过双能CT成像来对液态物品进行快速安全检查的方法及设备。首先借助CT扫描和双能重建方法，获得包含被检液体物理属性的一层或多层CT图像；然后通过图像处理和分析方法，从CT图像中获取每一件被检液体的物理属性值；最后根据物理属性值判断被检液态物品是否为危险品。其中，CT扫描方法既包括常规的断层CT扫描技术，也可用螺旋CT扫描技术实现；在使用常规断层CT扫描技术时，既可设置一系列特定的位置进行扫描，也可借助DR图像由操作员指定扫描位置，还可以通过对DR图像的自动分析来确定液体部分的位置，引导CT扫描。
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公开(公告)号：CN101266216A
公开(公告)日：2008-09-17
申请号：CN200710064391.3
申请日：2007-03-14
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01T7/005 , G01T1/1648
Abstract: 公开了一种标定双能CT系统的方法和图像重建方法，以计算被扫描物体的原子序数图像和特征密度图像，以及任意能量下的衰减系数图像。本发明还消除了因为射线硬化引起的杯状伪影的影响。该标定双能CT系统的方法包括步骤：选定至少两种不同的材料；探测双能射线对所述至少两种不同的材料在不同厚度组合下的透射射线，以获得投影值；按照所述不同厚度组合和相应的投影值相互对应的方式创建查找表。该图像重建方法包括步骤：利用双能射线扫描被检物体，以获取双能投影值；根据预先创建的查找表计算与所述双能投影值相对应的基材料系数投影值；以及基于所述基材料系数投影值重建基材料系数分布图像。从而，基于基材料系数分布图像可以计算被检物体的原子序数图像、特征密度图像和衰减系数图像。与现有技术相比，本发明提出的方法具有校正过程简单、计算精度高、不受X射线硬化影响的优点。
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