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公开(公告)号：CN207623289U
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201721711988.8
申请日：2017-12-11
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本实用新型公开了一种光学元件抛光表面质量声发射检测装置，它包括基座、设置在基座上的用于安装光学元件的元件定位装置、能够带动光学元件转动的调速电机，光学元件抛光表面质量声发射检测装置还包括设置在光学元件上方的声发射传感器、与声发射传感器相固定连接且用于对光学元件进行切削的抛光头。本实用新型通过合理的设计，构建了一种光学元件抛光表面质量声发射检测装置，克服了现有实验装置传感器位置固定、信号干扰大、衰减快和易受多普勒效应等缺点。
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