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公开(公告)号：CN120046680A
公开(公告)日：2025-05-27
申请号：CN202411936111.3
申请日：2024-12-25
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所 , 华东师范大学
IPC: G06N3/08 , G06N3/0442 , G06N3/045 , G06N3/0464 , G01N21/25 , G01J3/28
Abstract: 本申请提供了一种训练神经网络的方法及基于神经网络的光谱重构方法，该方法包括：获取训练样本，其中，训练样本包括多个理论光谱以及每个理论光谱所对应的光响应强度。将训练样本输入到初始神经网络中，输出预测光谱，其中，初始神经网络包括残差网络层、循环神经网络层、自注意力机制层和全连接层。基于预测光谱以及光响应强度所对应的理论光谱，确定损失函数值。基于损失函数值对初始神经网络进行训练，直至满足训练截止条件，得到训练好的神经网络，以便后续利用训练好的神经网络进行光谱重构。通过利用理论光谱以及理论光谱对应的实际的光响应强度训练神经网络，以便利用神经网络进行光谱重构，提高重构光谱的效率和准确性。
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公开(公告)号：CN119310753A
公开(公告)日：2025-01-14
申请号：CN202310863621.1
申请日：2023-07-13
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本申请实施例提供的分光器件，包括：光栅，用于过滤第一入射光，光栅对第一入射光的特定方向的偏振光的透射率大于对第一入射光的其他方向的偏振光的透射率；与光栅层叠设置的滤光片，用于过滤第二入射光，滤光片对第二入射光中至少一个特定波长的光的透射率大于对第二入射光的其他波长的光的透射率。本申请通过将光栅与滤光片层叠设置，利用光栅的偏振分光作用及滤光片的光谱分光作用，实现对入射光的光谱和偏振同时分光；并且，将光栅与滤光片集成于一体，体积小，结构紧凑，稳定性强，易于集成，从而解决了现有技术中同时获取光谱信息和偏振信息的组装系统体积庞大、结构分立、稳定性差、难以集成的问题。
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公开(公告)号：CN111534429A
公开(公告)日：2020-08-14
申请号：CN202010441661.3
申请日：2020-05-22
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于等温扩增的一体化核酸提取和扩增检测系统，包括内嵌等温扩增腔的囊袋式核酸提取扩增芯片和控制检测器。所述囊袋式核酸提取扩增芯片包括核酸萃取腔、一号清洗液腔、二号清洗液腔、三号清洗液腔、洗脱液腔、废液腔和等温扩增腔，分别用于存放核酸提取、扩增所需的液体。所述控制检测器包括推杆控制器、可控交变电磁铁、温度控制器和荧光检测器，推杆控制器控制液体流向，可控交变电磁铁搅拌和吸附磁珠，温度控制器控制核酸提取和反应所需的温度，荧光检测器检测等温扩增反应后荧光。本发明实现了一种基于等温扩增的一体化、封闭式、全自动的核酸快速提取、扩增检测系统，避免了交叉污染，方便快速更换被检测样品。
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公开(公告)号：CN110031098A
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201910246109.6
申请日：2019-03-29
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于集成微腔的光谱探测芯片及重构方法，本发明的光谱探测芯片是在普通阵列探测器芯片上，通过纳米压印技术和镀膜技术制作多通道集成分光结构，使得原探测器芯片上不同像元对入射光的响应不同，再利用光谱重构的方法还原出样品光谱。本发明的光谱探测芯片将分光和探测集于一体，使探测器本身就具备了光谱分辨能力，实现芯片级光谱仪器，具有体积小、成本低、分辨率高、制作方便等优点，在光谱分析领域具有重要的应用价值。
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公开(公告)号：CN105157585B
公开(公告)日：2017-10-13
申请号：CN201510606559.3
申请日：2015-09-22
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种同时获取薄膜折射率与厚度的双标准干涉片拟合法，它只需将待测薄膜镀制在两种镀有一层已经形成干涉但不同折射率薄膜的标准干涉片上，即可通过同时拟合两种标准干涉片镀膜前后的透(或反)射光谱，同时精确地获取待测薄膜的厚度与折射率，膜厚测量极限高达1nm，相对于传统方法30nm测量极限具有很大提高。另外，该方法由于同时对两种标准干涉片进行拟合，可以极大地减小测试系统的误差，显著降低对测试系统性能的要求和成本。而且，本发明方法适用于镀膜系统的在线检测与监控，可以在工业生产或者科学研究中推广使用。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106768352A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611059137.X
申请日：2016-11-25
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明公开了一种红外窄带辐射源及其制备方法。该辐射源由多层膜结构组成，包括金属层、介质腔层和介质布拉格反射镜。介质腔层厚度和介质布拉格反射镜的厚度可以调节红外窄带辐射源的辐射中心波长。膜系的制备方法可以采用磁控溅射、离子束溅射、电子束蒸发、热蒸发、脉冲激光沉积、原子层沉积等其中的一种或者多种组合。这种红外窄带辐射源具有高辐射率，峰值辐射率接近100％，Q因子可达140以上、单色性好等突出性能优势，并且结构简单、易于大面积制备、波长可调、可制备在柔性衬底上等一系列优点，在红外窄带光源、气敏探测器、光电特征标识和新型红外光谱仪上有良好的应用前景。
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公开(公告)号：CN104261873B
公开(公告)日：2016-05-18
申请号：CN201410341407.0
申请日：2014-07-17
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明提出了一种调节二氧化钒薄膜相变温度的方法。对金属钒或低价态钒氧化物薄膜进行真空条件下通氧退火，通过改变退火过程中氧气分压来调节生成的二氧化钒薄膜的相变温度。这种调节相变的方式不依赖于衬底，既可以在晶体衬底上实现，也可以在非晶衬底上实现，是一种非常简单有效的二氧化钒薄膜相变温度调节方法，灵活性强、操作简便、成本低廉，并可与其它相变温度调节方法兼容和共同使用。
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公开(公告)号：CN105157585A
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：CN201510606559.3
申请日：2015-09-22
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种同时获取薄膜折射率与厚度的双标准干涉片拟合法，它只需将待测薄膜镀制在两种镀有一层已经形成干涉但不同折射率薄膜的标准干涉片上，即可通过同时拟合两种标准干涉片镀膜前后的透(或反)射光谱，同时精确地获取待测薄膜的厚度与折射率，膜厚测量极限高达1nm，相对于传统方法30nm测量极限具有很大提高。另外，该方法由于同时对两种标准干涉片进行拟合，可以极大地减小测试系统的误差，显著降低对测试系统性能的要求和成本。而且，本发明方法适用于镀膜系统的在线检测与监控，可以在工业生产或者科学研究中推广使用。
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公开(公告)号：CN103105190B
公开(公告)日：2015-06-24
申请号：CN201110358851.X
申请日：2011-11-14
Applicant: 常州光电技术研究所 , 中国科学院上海技术物理研究所 , 上海宇豪光电技术有限公司 , 江苏奥蓝工程玻璃有限公司 , 中科德孵镀膜科技(南通)有限公司
Abstract: 本发明公开了一种镀膜速率的精确标定方法及其应用，方法为：制备包括衬底和干涉膜的标准基片；制备方法为：在衬底上引入一层足以形成干涉的干涉膜；测量标准基片的透射谱或反射谱；将待测速率薄膜镀制在标准基片上一段时间；测量镀膜后的标准基片的透射谱或反射谱；比较镀膜前后透射谱或反射谱，根据峰位的变化量计算出镀膜厚度从而计算出镀膜速率。本发明在衬底上预先引入一层足以形成干涉的干涉膜，在此基础上，只要在标准基片上镀制厚度极薄的待测薄膜，即可引起干涉峰位的明显偏移，远远高于传统方法直接在衬底上镀制待测薄膜前后透射谱的强度变化，可以显著提升标定精度，特别适用于在线检测和实时监控，尤其适合对超低镀膜速率的精确标定。
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公开(公告)号：CN103105011B
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201310040103.6
申请日：2013-01-31
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所 , 上海德福光电技术有限公司
CPC classification number: Y02E10/40
Abstract: 本发明公开了一种适于中高温热利用的太阳能选择性吸收膜系及其制备方法。该太阳能选择性吸收膜系自下而上依次包括镀制在金属基底上的红外高反射银薄膜、铜薄膜、钛铝氮氧薄膜、氧化锌锡锑薄膜以及二氧化硅薄膜。本发明的吸收膜系太阳能吸收率大于96%，发射率小于2%，具有超低发射率，光热转换效率高的特点，同时膜系中的氧化锌锡锑材料镀膜速率高，利于提高生产效率。该膜系可广泛应用于太阳能光热转换的集热器，适合于太阳能热利用在建筑一体化产品方面的应用，尤其适合于中高温太阳能热利用产品的广泛使用。本发明的吸收膜系可通过工业化磁控溅射制备方法在大面积基底上连续镀制，实现低成本大规模高效生产。
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