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公开(公告)号：CN113537236B
公开(公告)日：2023-04-21
申请号：CN202110686316.0
申请日：2021-06-21
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06V10/764 , G06V10/44 , G06V10/56 , G06V10/26 , G06V10/28 , G06V10/74 , G06V10/762
Abstract: 本发明公开了一种用于航天器损伤红外检测的热扩散效应缺陷定量识别方法，首先，对红外重构图像在L*a*b*颜色空间进行聚类，保留符合缺陷对应的高亮颜色信息类，进行二值化、形态学开闭运算操作，得到红外重构缺陷分割图像以及各个缺陷特征区域的像素点数量；然后提取缺陷边缘像素点；最后对边缘像素点对应的瞬态热响应曲线与质心位置瞬态热响应曲线，基于温度变化序列构建的加权因子序列以及温度值最高的帧构建的权重序列计算其欧式距离，并据此判断边缘点是否是热扩散点，在各个缺陷特征区域的像素点数量中扣除，得到实际像素点数量并转换为面积，完成缺陷定量识别。实验结果证明，对热扩散区域进行判定后的缺陷计算面积更接近于真实缺陷大小。
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公开(公告)号：CN115963312A
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN202310054173.0
申请日：2023-02-03
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R21/133 , G01R19/25 , G01R25/00
Abstract: 本发明公开了一种周期波形统计参数测量方法及装置，采用阶梯相位延迟采样的方法，采样点采样周期相对于初始采样点采样周期T0呈现阶梯型变化，逐渐增大再逐渐减小，或逐渐减小再逐渐增大，并回到初始采样点采样周期T0，然后再进行第二次循环，以此类推，从而实现了变采样率采样。用采样点采样周期阶梯型变化的采样时钟对被测的周期波形进行一段时间的连续采样得到一个数据集，并对这些采样点数据按照统计参数计算方法直接进行计算，则可得到准确的结果，从而避免了固定采样率系统中，对于频率为采样率整分数或整倍数的周期波形，采样点相位固定，从而无法获取波形更多相位点幅度信息的问题。同时，该处理流程简单，系统资源占用少，响应速度相对于顺序等效采样方法大幅提高。
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公开(公告)号：CN109285118B
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN201811123687.2
申请日：2018-09-26
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种添加附件层的红外热图像拼接方法，首先在同一位置分别对附加层和被测试件进行加热，采集并记录热图像数据，直至整个被测试件采集完成；接着对附加层和被测试件对应的所有红外热图像进行直方图均衡化提高图像质量，再用中值滤波方法进行图像去噪，利用相位相关法对附加层的红外热图像进行处理，得到这两幅相邻附加层红外热图像间的水平位移和竖直位移，这个位移即为对应的相邻两幅被测试件红外热图像间的水平位移和竖直位移，最后利用这个位移量得到相邻两幅被测试件层红外热图像间的重叠区域，并采用渐出渐入法对重叠区域进行融合，最终得到一幅完整的红外热图像。
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公开(公告)号：CN115656297A
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202211309205.9
申请日：2022-10-25
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01N27/414
Abstract: 本发明公开了一种基于复合半导体沟道的EGT及其制备方法，主要包括衬底、源极、复合半导体层、漏极、封装层、电解质层以及栅极；在制备过程中，采用垂直结构的方式先制备衬底，并对衬底进行清洗并干燥；接着依次在衬底上制备源极，在源极上制备复合半导体层，在多孔半导体层上制备漏极，在衬底上制备封装层，并暴露出位于漏极与源极重叠部分，在漏极上方制备电解质层，最后制备与电解质层相连的栅极。
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公开(公告)号：CN113189513B
公开(公告)日：2022-10-21
申请号：CN202110472729.9
申请日：2021-04-29
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于纹波的冗余电源均流状态识别方法，先采集各个电源在不同时刻的电流和纹波，以及冗余模块输出端的总纹波，再计算各个电源在不同时刻的功率和单边功率谱，以及总纹波的单边功率谱；然后获取各电源纹波的单边功率谱最大值处的频率以及总纹波的单边功率谱上满足峰值条件对应的频率；接着进行功率曲线的拟合以及神经网络模型的搭建与训练，并通过神经网络预测出电源标签概率值张量，进而完成冗余电源均流状态识别。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113012103B
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN202110176871.9
申请日：2021-02-07
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06T7/00 , G06T7/13 , G06K9/62 , G01N21/88 , G01N21/958 , G06V10/762
Abstract: 本发明公开了一种大口径望远镜镜片表面疵病定量检测方法，首先在聚类目标函数中添加权重项、正则项以及类间离散度惩罚项来对其进行优化，采用迭代的方法，对光学疵病图像进行分类处理，去除噪声的同时使得疵病轮廓得到增强；然后经过分类处理后的图像，采用测地线主动轮廓模型通过水平集函数演化并取零水平集分割出疵病图像；最后对提取出来的疵病图像进行量化，对疵病图像采用二值链码技术对其疵病轮廓线进行标记，从而实现对疵病区域面积、重心、长短径和周长的量化。本发明将优化聚类目标函数进行迭代、主动轮廓模型进行疵病图像分割以及疵病量化相结合，来增强卫星望远镜镜片表面疵病的损伤特征，显现其轮廓特征信息，提高了检测精度的同时完成对疵病的量化分析。
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公开(公告)号：CN112132802B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN202010994424.X
申请日：2020-09-21
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于自学习拼接算法的航天器撞击损伤检测方法，首先基于温度变化特征分离出突显缺陷特征的损伤温度重构图像；然后采用SIFT特征点检测算法实现特征点的快速检测同时生成损伤温度特征向量，再利用PCA算法对损伤温度特征向量进行降维，提高算法速度；基于损伤温度特征向量的余弦值作为相似性度量，实现特征点的粗匹配；最后搭建自优化匹配优化网络，获得优化后的精确匹配点对集合，并估计出几何变换矩阵的参数，实现图像拼接。本发明实现对缺陷模式特征的自学习过程，实现对数据特征的进一步压缩提取，从而实现适应性和鲁棒性更强的优化匹配结果，使各检测区域的损伤温度重构图像有效融合，实现对航天器表面大范围的快速损伤检测和损伤程度的初步判断。
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公开(公告)号：CN112560328B
公开(公告)日：2022-04-19
申请号：CN202011294967.7
申请日：2020-11-18
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于表面微应变信号的IGBT键合引线故障诊断方法，首先利用仿真软件对IGBT的电‑热‑力场进行仿真，得到不同故障状态的IGBT表面键合线各引脚处的微应变信号；利用时频域分析的方法对故障的特征进行分析，并选取能明显表征差异的参数指标作为特征向量；利用支持向量机的原理，将特征向量和分类标签组成样本集，利用OVA方法每次将样本看作两大类，对其进行二次规划和最优化问题求解，再利用对偶问题求出满足KKT条件的最优解，并引入核函数使其在高维线性空间中进行分类，找到支持向量即距离超平面最近的样本点代入最优解，找到分类模型的决策函数，最后将样本集输入模型，进行训练和预测，从而完成IGBT键合引线故障诊断。
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