一种定标偏振激光雷达增益比的方法

    公开(公告)号:CN106597414A

    公开(公告)日:2017-04-26

    申请号:CN201610906179.6

    申请日:2016-10-18

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开一种定标偏振激光雷达增益比的方法,具体是在偏振激光雷达接收系统中的偏振分光棱镜之前放置一片半波片;半波片的快轴可以任意朝向,分别记录此时偏振分光棱镜反射通道和透射通道探测器接收到的光强和将半波片绕入射光旋转45°,再次分别记录此时反射通道和透射通道探测器接收到的光强和将半波片旋转前后两个探测器接收到的光强代入即可得到偏振激光雷达的增益比G。该定标方法严格符合穆勒矩阵‑斯托克斯矢量理论,可以直接得到偏振激光雷达系统的增益比;该定标方法具有很好的鲁棒性,其定标结果不受发射激光非理想线偏振性、大气条件、位于半波片之前光学元件非理想偏振特性等的影响;该定标方法精度高而且操作极其简捷。

    多谐波外差锁定视场展宽迈克尔逊干涉仪的装置

    公开(公告)号:CN105891801A

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201610216993.5

    申请日:2016-04-07

    Applicant: 浙江大学

    CPC classification number: G01S7/48

    Abstract: 本发明公开了一种多谐波外差锁定视场展宽迈克尔逊干涉仪的装置。本发明通过相位调制的方式产生等频率间距的多谐波成分,这些谐波分量被FWMI透过率函数调制后发生外差过程,从而能生成反映FWMI谐振频率漂移大小和方向信息的反馈信号。在反馈控制的不断作用下,FWMI的谐振频率会趋于激光器中心频率并稳定下来,这时反馈控制信号将回到0,从而完成频率锁定。本发明能自动补偿因为环境温度等原因带来的FWMI谐振频率漂移,且锁定精度高,锁定过程智能迅速,为FWMI光谱滤光器在HSRL中的高稳定运行创造了根本保障,对提高HSRL大气探测的精度具有极大的促进作用。

    一种迈克尔逊干涉型光谱滤波器谐振频率锁定装置及方法

    公开(公告)号:CN103809166B

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201410025286.9

    申请日:2014-01-20

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种迈克尔逊干涉型光谱滤波器谐振频率锁定装置及方法。本发明包括激光器分束系统、Michelson干涉型滤波器系统和光电探测系统;激光器分束系统包括激光器、准直扩束器、第一分光镜、第一反射镜、第二反射镜、第二分光镜、第三反射镜;Michelson干涉型滤波器系统包括立方分光棱镜、第四反射镜、第五反射镜;光电探测系统包括透镜、第一光电倍增管、第二光电倍增管、第三光电倍增管、差分放大器、示波器;具体步骤:1.计算两束探针光束的入射角;2.调节两束探针光束的入射角;3.查看示波器,判断锁频状态;本发明实现简单,能够避免传统锁频方法对电路和光路的复杂要求,从而具有较强的系统稳定性和鲁棒性。

    大口径球面光学元件表面疵病检测系统及其方法

    公开(公告)号:CN104215646B

    公开(公告)日:2016-06-29

    申请号:CN201410479580.7

    申请日:2014-09-18

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种大口径球面光学元件表面疵病检测系统及其方法。本发明包括XY二维导轨、二维旋转系统、大口径球面光学元件、环形照明光源、Z向导轨、显微镜、CCD1、光学自准直定中仪、CCD2;大口径球面光学元件固定于二维旋转系统上,二维旋转系统安装于XY二维导轨上,实现大口径球面光学元件的多轴联动;CCD1连接到显微镜上并固定于环形照明光源上,环形照明光源及光学自准直定中仪固定于Z向导轨上,并随Z向导轨沿Z轴方向平动,CCD2连接到光学自准直定中仪上。本发明实现了大口径球面元件表面疵病的子孔径采样过程,对全口径疵病灰度图像进行数字化特征提取后,从而实现疵病的自动化定量检测。

    球面光学元件表面缺陷评价方法

    公开(公告)号:CN105092607A

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201510535230.2

    申请日:2015-08-27

    Abstract: 本发明公开了一种球面光学元件表面缺陷评价方法。本发明基于显微散射暗场成像原理,对球面光学元件表面进行子孔径图像扫描,之后利用图像处理方法得到表面缺陷信息。本发明充分利用球面子孔径图像全局校正、三维拼接、二维投影、数字化特征提取等评价球面缺陷。利用缺陷定标数据,定量给出缺陷的尺寸和位置信息。本发明实现了球面光学元件表面缺陷的自动化定量检测,极大地提高了检测效率及检测精度,避免了因个人主观因素对检测结果的影响,最终为球面光学元件的使用与加工提供可靠的数值依据。

    一种遥感区分灰霾类别的激光雷达装置

    公开(公告)号:CN103344964B

    公开(公告)日:2015-04-15

    申请号:CN201310244160.6

    申请日:2013-06-18

    Applicant: 浙江大学

    CPC classification number: Y02A90/19

    Abstract: 本发明公开了一种遥感区分灰霾类别的激光雷达装置。本发明包括两个偏振高光谱分辨率激光雷达系统和一个灰霾类别识别系统。两个偏振高光谱分辨率激光雷达系统分别为工作在532nm波段的偏振高光谱分辨率激光雷达系统和工作在1064nm波段的偏振高光谱分辨率激光雷达系统。偏振高光谱分辨率激光雷达系统包括发射系统、接收系统、锁频系统、数据采集及处理系统。灰霾类别识别系统包括灰霾样本库模块、判别函数计算模块和灰霾成分输出模块。本发明配合基于模式识别的灰霾组分识别方法,无需将装置置于灰霾之中即可对灰霾的类别进行高精度遥感。

    一种遥感区分灰霾类别的激光雷达装置

    公开(公告)号:CN103344964A

    公开(公告)日:2013-10-09

    申请号:CN201310244160.6

    申请日:2013-06-18

    Applicant: 浙江大学

    CPC classification number: Y02A90/19

    Abstract: 本发明公开了一种遥感区分灰霾类别的激光雷达装置。本发明包括两个偏振高光谱分辨率激光雷达系统和一个灰霾类别识别系统。两个偏振高光谱分辨率激光雷达系统分别为工作在532nm波段的偏振高光谱分辨率激光雷达系统和工作在1064nm波段的偏振高光谱分辨率激光雷达系统。偏振高光谱分辨率激光雷达系统包括发射系统、接收系统、锁频系统、数据采集及处理系统。灰霾类别识别系统包括灰霾样本库模块、判别函数计算模块和灰霾成分输出模块。本发明配合基于模式识别的灰霾组分识别方法,无需将装置置于灰霾之中即可对灰霾的类别进行高精度遥感。

    用于球面光学元件表面疵病暗场检测的照明系统及方法

    公开(公告)号:CN103293162A

    公开(公告)日:2013-09-11

    申请号:CN201310241705.8

    申请日:2013-06-17

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种用于球面光学元件表面疵病暗场检测的照明系统及方法。本发明包括球面光源、光源支架、待测光学元件、光学元件多维夹持装置、显微成像系统、电荷耦合元件、计算机、电机。球面光源包括均匀面光源和变焦透镜组镜筒,多个球面光源环形等间距安装在光源支架上,变焦调节组件包括变焦透镜组镜筒、前固定镜组、变焦镜组、后固定镜组、变焦镜筒、齿轮、滑轨。光源支架下方设置有待测光学元件和夹持装置,上方设置有显微成像系统和电荷耦合元件,显微成像系统的光轴、多个光源组成的环形面的圆心和待测光学元件的球心共轴。本发明对球面光学元件表面疵病检测的暗场照明,所成像为暗背景上的亮疵病像,对比度好,易于后续图像处理。

    中心遮挡情况下的大口径偏折型径向剪切干涉检测装置及其方法

    公开(公告)号:CN102645316A

    公开(公告)日:2012-08-22

    申请号:CN201210121717.2

    申请日:2012-04-24

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种中心遮挡情况下的大口径偏折型径向剪切干涉检测装置及其方法。本发明的技术特点是在传统径向剪切干涉检测方法的基础上,通过提高望远镜系统的剪切率,并利用反射镜在竖直方向的倾斜将缩束光斑移至扩束光斑的边缘区域,使缩束光斑脱离扩束光斑中因目标物遮挡所形成的阴影处形成干涉,实现了有目标物中心遮挡情况下对特定空间区域的径向剪切干涉检测。本发明的优点在于解决了采用传统径向剪切干涉方法无法对含有目标物中心遮挡的区域进行波前检测的难题,同时,由于干涉区域移至扩束光斑边缘,使得干涉图的处理可以采用较为简单的相位解包方法,而非径向剪切波面迭代重构,在一定程度上简化了干涉图的处理过程,缩短了处理时间。

    大口径精密光学元件表面缺陷检测的旋转照明方法及装置

    公开(公告)号:CN101644657B

    公开(公告)日:2011-03-23

    申请号:CN200910102400.2

    申请日:2009-09-03

    Applicant: 浙江大学

    Inventor: 杨甬英 高鑫 刘东

    Abstract: 本发明公开了一种大口径精密光学元件表面缺陷检测的照明方法及装置。由于疵病方向的任意性,装置中须设置足够数量的照明光源,使元件表面任意方向疵病都能得到良好的照明。本发明通过采用旋转光源,解决了足够数量大口径照明光源和较小装置质量难以共存的难题。本发明技术特点在于:采集某视场内疵病图像时,将固定有少量照明光源筒的光源支架进行多次旋转,分别采集光源支架处于不同位置的疵病图像,这些图像叠加后的图像将包含此视场内全部疵病,相当于使用了更多数量的照明光源筒,装置质量小;设计了与旋转照明方式相对应的图像叠加算法;设计了可实现旋转光源的紧凑的机械结构。本发明为精密光学元件表面缺陷检测提供了一种实用的照明方法。

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