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公开(公告)号:CN105403580A
公开(公告)日:2016-03-16
申请号:CN201511001491.2
申请日:2015-12-28
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G21K1/043 , G01V5/0016 , G21K1/04 , G01N23/04 , G01N2223/03 , G01N2223/1013 , G01N2223/1016 , G01N2223/106 , G01N2223/316 , G01N2223/3301 , G01N2223/3302 , G01N2223/66
Abstract: 本发明公开了一种准直器和具有该准直器的检查系统,该准直器包括:准直器主体,该准直器主体包括第一部分和第二部分,在所述第一部分与所述第二部分之间形成有准直缝,所述准直缝在其纵向方向上具有第一端部和第二端部;以及遮挡部件,该遮挡部件能够相对于所述准直器主体运动,以使得从所述准直缝射出的射线束的夹角及仰角变化。本发明还公开了一种具有该准直器的用于扫描车辆的检查系统和扫描车辆的检查方法。
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公开(公告)号:CN102103092B
公开(公告)日:2013-03-20
申请号:CN201010621649.7
申请日:2007-12-29
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种探测器装置,包括:调节定位基座,其包括:可固定连接到环形旋转圆盘上的水平板;以及从所述水平板上延伸并大体与所述水平板垂直的垂直板,探测器模块,其可固定地安装到所述调节定位基座的所述垂直板上以接收来自辐射源的辐射,其中在探测器模块安装到其上的垂直板的面对所述辐射源的表面的剩余部分上设置有防止辐射射线穿透其中的防辐射穿透材料,所述垂直板上设置有所述探测器模块的一侧顶部设置有锯齿形结构,该锯齿形结构由凸部和凹部组成,所述凹部用于容纳探测器模块的传输导线。另外,本发明还提供一种具有上述探测器装置的CT检查系统。
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公开(公告)号:CN101470086B
公开(公告)日:2012-11-28
申请号:CN200710308551.4
申请日:2007-12-29
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4266 , A61B6/4291 , A61B6/482 , G21K1/025
Abstract: 本发明公开了一种探测器装置,包括:调节定位基座,其包括:可固定连接到一环形旋转台或圆盘上的水平板;以及从所述水平板上延伸并大体与所述水平板垂直的垂直板,其中所述垂直板在其一侧设置有水平通长凹槽;探测器模块,其可固定地安装到调节定位基座的所述水平通长凹槽中。通过采用本发明的技术方案,探测器装置的结构紧凑,并且可以实现对探测器装置的精确调节和定位。另外,本发明还提供一种具有上述探测器装置的CT检查系统。
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公开(公告)号:CN101629917B
公开(公告)日:2011-09-14
申请号:CN200810116760.3
申请日:2008-07-16
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/087 , G01T1/22
Abstract: 本发明公开了一种测量物质有效原子序数的装置,所述装置包括:X射线源,向被测物体发射不同能量的X射线;切伦科夫探测器,接收通过所述被测物体的X射线,并生成第一电信号;能量沉积类探测器,接收通过所述被测物体的X射线,并生成第二电信号;处理器,用于根据所述第一电信号和第二电信号,获取所述被测物体的有效原子序数。本发明还公开了一种测量物质有效原子序数的方法。本发明通过将切伦科夫探测器和能量沉积类探测器相结合测量物质有效原子序数的方法,相对于能量较低的X的光子,能量较高的X射线光子在切伦科夫探测器探测时更容易形成较大的信号,从而增强了获取的物质有效原子序数的分辨效果。
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公开(公告)号:CN102103092A
公开(公告)日:2011-06-22
申请号:CN201010621649.7
申请日:2007-12-29
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种探测器装置,包括:调节定位基座,其包括:可固定连接到环形旋转圆盘上的水平板;以及从所述水平板上延伸并大体与所述水平板垂直的垂直板,探测器模块,其可固定地安装到所述调节定位基座的所述垂直板上,其中所述垂直板的一侧顶部设置有锯齿形结构,该锯齿形结构由凸部和凹部组成,所述凹部用于容纳探测器模块的传输导线。通过采用本发明的技术方案,探测器装置的结构紧凑,并且可以实现对探测器装置的精确调节和定位。另外,本发明还提供一种具有上述探测器装置的CT检查系统。
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公开(公告)号:CN1779451B
公开(公告)日:2010-04-28
申请号:CN200410009895.1
申请日:2004-11-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/203 , G01N23/00 , G01N35/00
CPC classification number: G01N23/20066 , G01N23/203 , G01N2223/637 , G01V5/0025
Abstract: 一种用放射源对液体进行背散射安全检测的方法及其装置,涉及辐射检测技术领域。本发明包括使用放射源、准直器、探测器、数据采集器及计算机数据处理器,其主要步骤为:1)将被检的液体物品放置在可转动的平台上;2)由放射源发出射线穿透液体物品的包装层后在液体表层发生康普顿散射;3)散射光子经过准直器后被探测器接收;4)探测器将接收的数据传输到数据采集器;5)数据采集器将放大成形的数据传输到计算机数据处理器进行处理并得到所测物品的液体密度,再将结果与现有数据库中危险品的密度作比较,若发现与危险品密度一致则报警。同现有技术相比,本发明使用方便、检测迅速准确、抗干扰性强、安全可靠、易于防护。
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公开(公告)号:CN1779444B
公开(公告)日:2010-04-14
申请号:CN200410009897.0
申请日:2004-11-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 一种用射线源对液体进行CT安全检测的方法及其装置,涉及辐射成像检测技术领域。本发明包括使用射线源、探测器及数据采集器、计算机数据处理器;其主要步骤为:1)将被检的液体物品放置在可旋转的转动平台上;2)由射线源发出射线穿过液体物品并由正对射线光束的探测器及数据采集器接收并形成投影数据;3)投影数据传输到计算机数据处理器进行处理并得到所测物品的液体密度,再将结果与现有数据库中危险品的密度作比较,然后直观显示被检的液体物品检测信息。同现有技术相比,本发明体积小、抗干扰性强、检测的准确性高、易于屏蔽、使用安全可靠。
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公开(公告)号:CN101577284A
公开(公告)日:2009-11-11
申请号:CN200810106279.6
申请日:2008-05-09
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: H01L27/144 , H01L27/146 , G01T1/24 , H04N5/32
CPC classification number: G01T1/242 , H01L31/085
Abstract: 本申请公开了一种用于测量辐射的半导体探测器和成像装置,其中半导体探测器包括:半导体介质,该半导体介质可以吸收待测量的至少一个能量段的辐射;阳极电极,该阳极电极设置在半导体介质的一个表面上;阴极电极,该阴极电极设置在与所述一个表面相对的半导体介质的另一个表面上;以及信号处理电路,该信号处理电路与所述阳极电极和阴极电极连接,并将检测到的信号处理为表示辐射的能量沉积量的数值,其中,所述半导体介质接收沿着平行于电极平面的方向入射的辐射,并且,所述阳极电极和所述阴极电极沿着辐射的入射方向分成多个间隔开的子电极对,分别用于检测相应能量段的辐射的能量沉积量。
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公开(公告)号:CN108037542B
公开(公告)日:2025-01-07
申请号:CN201711444399.2
申请日:2017-12-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V5/22
Abstract: 本发明提出一种车辆检测系统。本发明的车辆检测系统包括横探测器臂、两个竖探测器臂、辐射源、多个横探测器和多个竖探测器。横探测器臂能设于地面。两个竖探测器臂设于横探测器臂两端部。辐射源位于横探测器臂上方。多个横探测器设于横探测器臂内并沿横探测器臂的长度方向平铺,用于接收辐射源发出的射线。多个竖探测器对称设于两个竖探测器臂上,且每个竖探测器朝向辐射源的中心点方向设置,用于接收辐射源发出的射线。
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公开(公告)号:CN118501927A
公开(公告)日:2024-08-16
申请号:CN202310134373.7
申请日:2023-02-09
Applicant: 同方威视科技(北京)有限公司 , 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01T7/00
Abstract: 本公开提供了一种放射性探测器的能量刻度确定方法、装置、设备和介质,该方法包括:获取多个已知核素的本底能谱,其中,本底能谱是放射性探测器对多个已知核素进行探测得到的;对本底能谱进行差分处理,得到道址‑差分图,其中,道址‑差分图包括从多个全能峰信息中确定的多个有效峰信息;根据道址‑差分图确定目标系数,其中,目标系数表征初始能量道址函数式中的一个刻度系数;根据道址‑差分图和初始能量道址函数式,确定目标能量道址函数式,其中,目标能量道址函数式表征放射性探测器的能量刻度。
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