-
公开(公告)号：CN104155011A
公开(公告)日：2014-11-19
申请号：CN201410350553.X
申请日：2014-07-22
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01J9/02
Abstract: 本发明提供一种二维干涉图的相位提取方法，具体过程为：设定参考频率，基于所述参考频率生成含一定相移量的多幅参考干涉图，将所述参考干涉图称为虚光栅；将待处理干涉图与每一虚光栅相乘，得到多幅莫尔条纹图；对每一幅莫尔条纹图进行傅里叶变换，得到莫尔条纹图的频谱；采用低通滤波器滤出每一频谱中的低频部分，再对低频部分进行逆傅里叶变换，得到多幅低频莫尔条纹强度图；对多幅低频莫尔条纹强度图进行移相计算，获取待处理干涉图x方向和y方向所要求的相位。该方法能够处理所采集到的二维干涉图，不仅具有较高的提取精度，而且具有较强的抗噪性。
Search Results
91
records
(took 0.022 seconds)
筛选
AND
AND
过滤
NOT
NOT
Scan to Join
