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公开(公告)号:CN119366112A
公开(公告)日:2025-01-24
申请号:CN202380046592.8
申请日:2023-05-22
Applicant: 高通股份有限公司
IPC: H03K17/00 , H03K17/16 , H03K17/95 , H03K17/955
Abstract: 用于集成电路(IC)封装通过输入/输出引脚自动地检测外部部件参数和寄生效应的装置和技术。示例IC封装总体上包括用于耦合到在IC封装外部的部件的引脚,以及电阻检测器、电感检测器或电容检测器中的至少一者,其耦合到该引脚并且被配置为分别检测针对在IC封装外部的部件的集总参数模型的电阻、电感或电容中的至少一项。电阻检测器、电感检测器或电容检测器还可以被配置为检测与该部件、该引脚或在该部件与该引脚之间的连接中的至少一项相关联的寄生效应。
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公开(公告)号:CN104604078B
公开(公告)日:2018-01-16
申请号:CN201380046369.X
申请日:2013-09-04
Applicant: 高通股份有限公司
IPC: H02J7/00
CPC classification number: H02J7/0052 , H02J7/0031 , H02J7/0034 , H02J2007/0037 , Y10T307/625
Abstract: 本发明揭示电池充电电路,其具有第一检测电路和第二检测电路,用于检测何时终止激活的电压崩溃保护操作。所述第一检测电路可以是模拟设计,并且所述第二检测电路可以包含数字电路。
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公开(公告)号:CN104604078A
公开(公告)日:2015-05-06
申请号:CN201380046369.X
申请日:2013-09-04
Applicant: 高通股份有限公司
IPC: H02J7/00
CPC classification number: H02J7/0052 , H02J7/0031 , H02J7/0034 , H02J2007/0037 , Y10T307/625
Abstract: 本发明揭示电池充电电路,其具有第一检测电路和第二检测电路,用于检测何时终止激活的电压崩溃保护操作。所述第一检测电路可以是模拟设计,并且所述第二检测电路可以包含数字电路。
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