公开(公告)号：CN103576076A

公开(公告)日：2014-02-12

申请号：CN201210352772.2

申请日：2012-07-27

Applicant: 飞思卡尔半导体公司

Inventor： 万国平 ,  章沙雁 ,  张旺根

IPC: G01R31/28 ,  G11C29/12

CPC classification number: G01R31/318536 ,  G01R31/318558 ,  G01R31/3187 ,  G11C29/32 ,  G11C29/40

Abstract: 本发明公开涉及用于执行扫描测试的系统和方法。更具体而言，一种用于对集成电路执行扫描测试的系统包括旁路信号发生器和第一扫描旁路电路，所述集成电路诸如可被封装为不同封装类型并且具有被使能的不同特征的片上系统(SoC)。旁路信号发生器基于芯片封装信息生成第一旁路信号。第一旁路信号指示与所述SoC的第一非通用电路块关联的第一扫描链是否要被旁路。第一扫描链响应于第一旁路信号而被旁路。通过基于封装信息使能部分扫描测试，可以避免由确定SoC存在故障的全扫描测试导致的无意的产率损失。