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公开(公告)号：CN106324653A
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201610637585.7
申请日：2016-06-01
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01T1/20
Abstract: 在一个实施例中，提供了一种辐射检测器。所述辐射检测器包括闪烁体层，其将入射的辐射转换为更低能量的光量子。所述闪烁体层包括多个由一个或多个分隔物形成的像素，并且所述一个或多个分隔物形成了一条或多条穿过所述闪烁体层的辐射路径。所述辐射检测器还包括光电检测器层，其检测由闪烁体层内的多个像素生成的更低能量的光子，和接收由光电检测器层生成的信号的信号电子设备。所述辐射检测器还包括一个或多个阻挡层，其设置在光电检测器层和信号电子设备之间。所述一个或多个阻挡层中的每个阻挡层包括导电通孔，其包括阻挡来自一条或多条辐射路径的辐射以免到达信号电子设备的高Z材料。
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公开(公告)号：CN101357066B
公开(公告)日：2012-08-29
申请号：CN200810130209.4
申请日：2008-06-16
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01T1/2985 , H04N5/32
Abstract: 本发明公开了一种探测器阵列和系统，和用于CT探测器光学掩模。该掩模插在CT探测器的光电二极管阵列与闪烁体阵列之间。光学掩模沿着一个或多个轴延伸并有差别地吸收和/或反射从二极管阵列的光电二极管边缘的闪烁体发出的光，平铺芯片的边缘比芯片中心部分的吸收或反射少。通过选择性的吸收和/或反射，空间上改变从闪烁体到与相邻闪烁体相关联的光电二极管的可见光子迁移，部分地补偿了相邻光电二极管对/闪烁体单元间串扰信号的空间差。差分串扰的减小减少了描述受验者内部部分的重现数据的伪影，提高数据的诊断价值。
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公开(公告)号：CN1697178A
公开(公告)日：2005-11-16
申请号：CN200510067212.2
申请日：2005-04-19
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/032 , H01L2224/81 , H01L2924/381
Abstract: 本发明公开一种电子组件(100)，它具有一个第一层(110)和一个第二层(120)。此第一层(110)具有一个第一界面(112)和形成于其中的一些空腔(114)。第二层(120)具有一个界面(122)和一些处在第二界面(122)上的凸起(124)，这些凸起(124)与这些空腔(114)对齐且位于该空腔上。在这些空腔(114)上安置了一种导电连接材料，它将这些凸起(124)与相应的空腔(114)连起来。
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公开(公告)号：CN106324653B
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN201610637585.7
申请日：2016-06-01
Applicant: 通用电气公司
IPC: G01T1/20
Abstract: 在一个实施例中，提供了一种辐射检测器。所述辐射检测器包括闪烁体层，其将入射的辐射转换为更低能量的光量子。所述闪烁体层包括多个由一个或多个分隔物形成的像素，并且所述一个或多个分隔物形成了一条或多条穿过所述闪烁体层的辐射路径。所述辐射检测器还包括光电检测器层，其检测由闪烁体层内的多个像素生成的更低能量的光子，和接收由光电检测器层生成的信号的信号电子设备。所述辐射检测器还包括一个或多个阻挡层，其设置在光电检测器层和信号电子设备之间。所述一个或多个阻挡层中的每个阻挡层包括导电通孔，其包括阻挡来自一条或多条辐射路径的的辐射以免到达信号电子设备的高Z材料。
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公开(公告)号：CN101357066A
公开(公告)日：2009-02-04
申请号：CN200810130209.4
申请日：2008-06-16
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01T1/2985 , H04N5/32
Abstract: 本发明公开了一种探测器阵列和系统，和用于CT探测器光学掩模。该掩模插在CT探测器的光电二极管阵列与闪烁体阵列之间。光学掩模沿着一个或多个轴延伸并有差别地吸收和/或反射从二极管阵列的光电二极管边缘的闪烁体发出的光，平铺芯片的边缘比芯片中心部分的吸收或反射少。通过选择性的吸收和/或反射，空间上改变从闪烁体到与相邻闪烁体相关联的光电二极管的可见光子迁移，部分地补偿了相邻光电二极管对/闪烁体单元间串扰信号的空间差。差分串扰的减小减少了描述受验者内部部分的重现数据的伪影，提高数据的诊断价值。
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