表面粗糙度测量装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104121872B

    公开(公告)日:2018-04-13

    申请号:CN201310150620.9

    申请日:2013-04-26

    Abstract: 本发明涉及一种表面粗糙度测量装置,该装置包括含有一根主发射光纤及若干收集光纤的光纤束、一根副发射光纤、一个用于容置该光纤束及副发射光纤且开设有接触待测物体的测量口的光学腔、容置于光学腔内的主副反射镜、及外部电路。该主反射镜用于将该主发射光纤发射的光线反射至该测量口的一个测试点上,还用于将待测物体反射后的光线反射至该收集光纤中。该副反射镜用于将该副发射光纤发射的光线反射至该测量口的该测试点上。该外部电路用于选择性将一束激光发射至该主发射光纤及副发射光纤,用于接收该若干收集光纤收集的光线,及用于根据接收的光线计算该待测物体的表面粗糙度。

    用来测量几何特征的测量系统和测量方法

    公开(公告)号:CN105509639A

    公开(公告)日:2016-04-20

    申请号:CN201410493810.5

    申请日:2014-09-24

    CPC classification number: G01B11/303 G01B11/02 G01B11/24 G01N21/84 G06T7/60

    Abstract: 本发明公开了用来测量几何特征的测量系统和测量方法。该测量系统包括:发光单元,用来发出准直光束;前透镜,用来反射部分所述准直光束来发射结构光的前聚焦光环至被测对象来获得来自所述被测对象的前反射光环,并且用来允许部分准直光束通过;后透镜,在光传播路径上位于所述前透镜的下游,用来反射至少部分通过所述前透镜的所述准直光束来发射所述结构光的后聚焦光环至所述被测对象来获得来自所述被测对象的后反射光环;成像单元,用来记录所述前反射光环和所述后反射光环的组合图像;及处理单元,连接于所述成像单元,用来根据所述组合图像获得所述被测对象的至少一个几何特征。本发明还涉及一种用来测量被测对象的几何特征的测量方法。

    用来测量几何特征的测量系统和测量方法

    公开(公告)号:CN105509639B

    公开(公告)日:2019-01-01

    申请号:CN201410493810.5

    申请日:2014-09-24

    Abstract: 本发明公开了用来测量几何特征的测量系统和测量方法。该测量系统包括:发光单元,用来发出准直光束;前透镜,用来反射部分所述准直光束来发射结构光的前聚焦光环至被测对象来获得来自所述被测对象的前反射光环,并且用来允许部分准直光束通过;后透镜,在光传播路径上位于所述前透镜的下游,用来反射至少部分通过所述前透镜的所述准直光束来发射所述结构光的后聚焦光环至所述被测对象来获得来自所述被测对象的后反射光环;成像单元,用来记录所述前反射光环和所述后反射光环的组合图像;及处理单元,连接于所述成像单元,用来根据所述组合图像获得所述被测对象的至少一个几何特征。本发明还涉及一种用来测量被测对象的几何特征的测量方法。

    表面粗糙度测量装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105378427A

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201480023764.0

    申请日:2014-04-25

    Abstract: 一种表面粗糙度测量装置,其在一个实施例中包括主发射纤维和辅助发射纤维、多个收集纤维、光学壳体、主反射镜和辅助反射镜,以及外部电路。光学壳体包括纤维,并且限定用于光学地接触物体的表面的孔口。主反射镜布置在光学壳体中,用于将从主发射纤维发射的光反射至孔口的检测点,并且将由物体反射的光反射至收集纤维。辅助反射镜布置在光学壳体中,用于将从辅助发射纤维发射的光反射至检测点。外部电路用于生成激光束至主发射纤维和辅助发射纤维,收集来自收集纤维的反射光,并且基于收集的反射光来计算物体的表面粗糙度。

    表面粗糙度测量装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104121872A

    公开(公告)日:2014-10-29

    申请号:CN201310150620.9

    申请日:2013-04-26

    Abstract: 本发明涉及一种表面粗糙度测量装置,该装置包括含有一根主发射光纤及若干收集光纤的光纤束、一根副发射光纤、一个用于容置该光纤束及副发射光纤且开设有接触待测物体的测量口的光学腔、容置于光学腔内的主副反射镜、及外部电路。该主反射镜用于将该主发射光纤发射的光线反射至该测量口的一个测试点上,还用于将待测物体反射后的光线反射至该收集光纤中。该副反射镜用于将该副发射光纤发射的光线反射至该测量口的该测试点上。该外部电路用于选择性将一束激光发射至该主发射光纤及副发射光纤,用于接收该若干收集光纤收集的光线,及用于根据接收的光线计算该待测物体的表面粗糙度。

    风力涡轮叶片的检测系统和方法

    公开(公告)号:CN103226060B

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201210021267.X

    申请日:2012-01-31

    CPC classification number: G01B11/14 G01B11/167 G01B11/26

    Abstract: 本发明涉及一种可用于对运行中的风力涡轮机的叶片进行检测的检测系统和方法。该检测系统包括光投射单元、成像单元及处理单元。光投射单元可产生并投射光图样到运行中的风力涡轮机的叶片上。成像单元可在所述叶片的转动过程中对由投射到所述叶片上的所述光图样在所述叶片上所产生的多个扫描图案进行成像。处理单元可对来自于所述成像单元的所述成像的多个扫描图案进行处理以对所述叶片的偏转状态进行检测。

    三角法距离测量系统和方法

    公开(公告)号:CN103363951B

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201210103611.X

    申请日:2012-04-10

    Abstract: 本发明涉及一种三角法距离测量系统及其方法。该测量系统包括光源、光学单元及接收装置。光源可用来投射光线到物体上的点上。光学单元可转动的在绕着所述投射光线的复数个位置上捕获来自所述点的相应的反射光线。接收装置可对来自所述光学单元的所述反射光线进行感应处理以进行复数次所述点的测量来获得该点的距离。

    检测系统和方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104101610A

    公开(公告)日:2014-10-15

    申请号:CN201310124986.9

    申请日:2013-04-11

    Abstract: 本发明涉及一种用于检测旋转电机中的定子端部绕组的检测系统和方法。该检测系统包括用于产生光线的光源、复数个光纤束、成像装置、光学单元及处理装置。该复数个光纤束中的每一个光纤束包括复数个照明光纤和复数个成像光纤,所述照明光纤可用于把来自所述光源的光线传输并投射到所述定子端部绕组上以产生散射光,所述成像光纤可用于传输来自所述定子端部绕组的所述散射光。该成像装置用于接收所述成像光纤传输的所述散射光以产生所述定子端部绕组的图像数据。该光学单元设置在所述光纤束和所述定子端部绕组间且用于把来自所述照明光纤的光线传输到所述定子端部绕组上。该处理装置用于处理所述图像数据。

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