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公开(公告)号：CN102217947A
公开(公告)日：2011-10-19
申请号：CN201010625184.2
申请日：2010-12-27
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/4035 , A61B6/032 , A61B6/4007 , A61B6/405 , A61B6/4241 , A61B6/482
Abstract: 本发明名称为“获取多能量CT成像数据的系统及方法”。一种CT系统(10)，包括：旋转机架(12)，具有用于接收要扫描的目标(22)的开口(48)，以及控制器(28)，配置成：对于第一时间时期(454)应用第一kVp(452)，对于第二时间时期(458)应用第二kVp(456)，其中第二时间时期(458)不同于第一时间时期(454)，在第一时间时期(454)的至少一部分期间获取第一非对称视图数据集(550)，在第二时间时期(458)的至少一部分期间获取第二非对称视图数据集(554)，以及使用所获取的第一和第二非对称视图数据集(550，554)来生成图像。
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公开(公告)号：CN101480341A
公开(公告)日：2009-07-15
申请号：CN200910003449.2
申请日：2004-11-26
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/4275 , A61B6/027 , A61B6/03 , A61B6/032 , A61B6/4014 , G01N23/046 , G01N2223/419 , G01T1/2985
Abstract: 本发明提供了固定式成像系统的结构。该结构可包括对分布式X射线放射源的各种类型的组合，其通常包括可寻址发射器元件，该发射器元件可被触发，以采用理想的序列和组合进行发射。源(30)可以是环形(54)、部分环形(58)，或线形(典型地沿Z轴)(56)等。这些组合是可以设想的。对应的检测器(46)也可以是与源相关的完整的环形检测器(52)或部分环形检测器(60)，以提供对成像体积充分的覆盖，并提供所采集数据的理想的数学完整性。
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公开(公告)号：CN105943069B
公开(公告)日：2019-07-12
申请号：CN201610239910.4
申请日：2010-12-27
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/4035 , A61B6/032 , A61B6/4007 , A61B6/405 , A61B6/4241 , A61B6/482
Abstract: 本发明名称为“获取多能量CT成像数据的系统及方法”。一种CT系统(10)，包括：旋转机架(12)，具有用于接收要扫描的目标(22)的开口(48)，以及控制器(28)，配置成：对于第一时间时期(454)应用第一kVp(452)，对于第二时间时期(458)应用第二kVp(456)，其中第二时间时期(458)不同于第一时间时期(454)，在第一时间时期(454)的至少一部分期间获取第一非对称视图数据集(550)，在第二时间时期(458)的至少一部分期间获取第二非对称视图数据集(554)，以及使用所获取的第一和第二非对称视图数据集(550，554)来生成图像。
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公开(公告)号：CN101480341B
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN200910003449.2
申请日：2004-11-26
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/4275 , A61B6/027 , A61B6/03 , A61B6/032 , A61B6/4014 , G01N23/046 , G01N2223/419 , G01T1/2985
Abstract: 本发明提供了固定式成像系统的结构。该结构可包括对分布式X射线放射源的各种类型的组合，其通常包括可寻址发射器元件，该发射器元件可被触发，以采用理想的序列和组合进行发射。源(30)可以是环形(54)、部分环形(58)，或线形(典型地沿Z轴)(56)等。这些组合是可以设想的。对应的检测器(46)也可以是与源相关的完整的环形检测器(52)或部分环形检测器(60)，以提供对成像体积充分的覆盖，并提供所采集数据的理想的数学完整性。
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公开(公告)号：CN105943069A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201610239910.4
申请日：2010-12-27
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/4035 , A61B6/032 , A61B6/4007 , A61B6/405 , A61B6/4241 , A61B6/482 , A61B6/03 , A61B6/5258
Abstract: 本发明名称为“获取多能量CT成像数据的系统及方法”。一种CT系统(10)，包括：旋转机架(12)，具有用于接收要扫描的目标(22)的开口(48)，以及控制器(28)，配置成：对于第一时间时期(454)应用第一kVp(452)，对于第二时间时期(458)应用第二kVp(456)，其中第二时间时期(458)不同于第一时间时期(454)，在第一时间时期(454)的至少一部分期间获取第一非对称视图数据集(550)，在第二时间时期(458)的至少一部分期间获取第二非对称视图数据集(554)，以及使用所获取的第一和第二非对称视图数据集(550，554)来生成图像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102393528A
公开(公告)日：2012-03-28
申请号：CN201110207998.9
申请日：2011-07-15
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4208 , G01T1/2985 , Y10T29/49002
Abstract: 本发明名称为计算机断层扫描的非对称减少的探测器及其制作方法，计算机断层扫描(CT)探测器阵列包括中心区域，中心区域围绕其中心轴基本上对称并且包括配置成在扫描期间获取来自第一数量的探测器行的CT数据的第一批多个x射线探测器单元，其中中心轴处于CT探测器阵列的通道方向(114)上，并且相对于CT探测器阵列的切片方向是横向的；第一侧翼耦合到中心区域的第一侧，以及第二侧翼耦合到与第一侧相对的中心区域的第二侧。第一侧翼和第二侧翼包括相应的第二和第三比多个x射线探测器单元，并且各配置成获取来自数量少于探测器行的第一数量的探测器行的CT数据。CT探测器阵列围绕中心区域的中心轴是非对称的。
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公开(公告)号：CN102846333B
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201210220584.4
申请日：2012-06-29
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/06 , A61B6/4085 , A61B6/4291 , A61B6/483 , A61B6/5205 , A61B6/5282
Abstract: 本发明的名称为：“用于X射线成像中的散射校正的方法和系统”。公开用于使用散射X射线的反向跟踪来得出散射信息的方式。在某些实施例中，与从源进行到探测器的跟踪方案相反，跟踪从探测器上的相应位置到X射线辐射源的散射射线。在一种这样的方式中，反向跟踪使用密度积分容积来实现，这减少所执行的积分步骤。
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公开(公告)号：CN102217947B
公开(公告)日：2016-05-18
申请号：CN201010625184.2
申请日：2010-12-27
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/4035 , A61B6/032 , A61B6/4007 , A61B6/405 , A61B6/4241 , A61B6/482
Abstract: 本发明名称为“获取多能量CT成像数据的系统及方法”。一种CT系统(10)，包括：旋转机架(12)，具有用于接收要扫描的目标(22)的开口(48)，以及控制器(28)，配置成：对于第一时间时期(454)应用第一kVp(452)，对于第二时间时期(458)应用第二kVp(456)，其中第二时间时期(458)不同于第一时间时期(454)，在第一时间时期(454)的至少一部分期间获取第一非对称视图数据集(550)，在第二时间时期(458)的至少一部分期间获取第二非对称视图数据集(554)，以及使用所获取的第一和第二非对称视图数据集(550，554)来生成图像。
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公开(公告)号：CN102393528B
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201110207998.9
申请日：2011-07-15
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4208 , G01T1/2985 , Y10T29/49002
Abstract: 本发明名称为计算机断层扫描的非对称减少的探测器及其制作方法，计算机断层扫描(CT)探测器阵列包括中心区域，中心区域围绕其中心轴基本上对称并且包括配置成在扫描期间获取来自第一数量的探测器行的CT数据的第一批多个x射线探测器单元，其中中心轴处于CT探测器阵列的通道方向(114)上，并且相对于CT探测器阵列的切片方向是横向的；第一侧翼耦合到中心区域的第一侧，以及第二侧翼耦合到与第一侧相对的中心区域的第二侧。第一侧翼和第二侧翼包括相应的第二和第三比多个x射线探测器单元，并且各配置成获取来自数量少于探测器行的第一数量的探测器行的CT数据。CT探测器阵列围绕中心区域的中心轴是非对称的。
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公开(公告)号：CN102846333A
公开(公告)日：2013-01-02
申请号：CN201210220584.4
申请日：2012-06-29
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/06 , A61B6/4085 , A61B6/4291 , A61B6/483 , A61B6/5205 , A61B6/5282
Abstract: 本发明的名称为用于X射线成像中的散射校正的方法和系统。公开用于使用散射X射线的反向跟踪来得出散射信息的方式。在某些实施例中，与从源进行到探测器的跟踪方案相反，跟踪从探测器上的相应位置到X射线辐射源的散射射线。在一种这样的方式中，反向跟踪使用密度积分容积来实现，这减少所执行的积分步骤。
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