公开(公告)号：CN109801666B

公开(公告)日：2020-12-29

申请号：CN201910064323.X

申请日：2019-01-23

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 李俊玲 ,  沈拉民 ,  颜伟 ,  屈博强

IPC: G11C29/14 ,  G11C29/56

Abstract: 本发明一种混合电路中存储器芯片的测试装置，能够同时实现故障定位和诊断；其包括内建自测试电路和总线复用电路；内建自测试电路和总线复用电路设置在主控协议芯片上；内建自测试电路连接总线复用电路的选择信号端口，内建自测试电路通过测试模式控制总线、测试模式地址总线和测试模式数据总线连接总线复用电路；主控协议芯片还包括功能存储器控制器；主控协议芯片的控制总线连接存储器芯片的控制端口，主控协议芯片的数据总线连接存储器芯片的数据端口，主控协议芯片的地址总线连接存储器芯片的地址端口；主控协议芯片的输出数据总线连接存储器芯片的输出数据端口；内建自测试电路和功能存储器控制器通过输出数据总线读取存储器芯片上的数据。

公开(公告)号：CN109801666A

公开(公告)日：2019-05-24

申请号：CN201910064323.X

申请日：2019-01-23

Applicant: 西安微电子技术研究所

Inventor： 李俊玲 ,  沈拉民 ,  颜伟 ,  屈博强

IPC: G11C29/14 ,  G11C29/56

Abstract: 本发明一种混合电路中存储器芯片的测试装置，能够同时实现故障定位和诊断；其包括内建自测试电路和总线复用电路；内建自测试电路和总线复用电路设置在主控协议芯片上；内建自测试电路连接总线复用电路的选择信号端口，内建自测试电路通过测试模式控制总线、测试模式地址总线和测试模式数据总线连接总线复用电路；主控协议芯片还包括功能存储器控制器；主控协议芯片的控制总线连接存储器芯片的控制端口，主控协议芯片的数据总线连接存储器芯片的数据端口，主控协议芯片的地址总线连接存储器芯片的地址端口；主控协议芯片的输出数据总线连接存储器芯片的输出数据端口；内建自测试电路和功能存储器控制器通过输出数据总线读取存储器芯片上的数据。