公开(公告)号：CN113345039A

公开(公告)日：2021-09-03

申请号：CN202110338000.2

申请日：2021-03-30

Applicant: 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)

Inventor： 熊召龙 ,  赖作镁 ,  葛雨辰 ,  李顺枝

IPC: G06T9/20 ,  G06T7/80 ,  G06T17/00

Abstract: 本发明公开的一种三维重建量化结构光相位图像编码方法，靠性好，处理速度快，重建精度高，本发明通过下述技术方案实现：结构光量化相位编码规范设计模块形成用于结构光投影的量化相位编码及其规范；量化相位及正弦条纹投影模块根据上述规范，投用结构光量化条纹，经过被测物体表面形成变形条纹；相机标定及变形条纹采集模块对被测物体条纹上的相位编码及特征点进行采集，获取三维信息；量化相位及绝对相位解码模块对多组候选码字进行自我校验，恢复多步相移绝对相位，求解截断相位查询所属对应的码字级次和绝对相位；完整三维目标模型生成模块根据展开的绝对相位和高度对应关系，形成被测面型每像素点的三维坐标，最终生成完整的三维点云模型。

公开(公告)号：CN113345039B

公开(公告)日：2022-10-28

申请号：CN202110338000.2

申请日：2021-03-30

Applicant: 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)

Inventor： 熊召龙 ,  赖作镁 ,  葛雨辰 ,  李顺枝

IPC: G06T9/20 ,  G06T7/80 ,  G06T17/00

Abstract: 本发明公开的一种三维重建量化结构光相位图像编码方法，靠性好，处理速度快，重建精度高，本发明通过下述技术方案实现：结构光量化相位编码规范设计模块形成用于结构光投影的量化相位编码及其规范；量化相位及正弦条纹投影模块根据上述规范，投用结构光量化条纹，经过被测物体表面形成变形条纹；相机标定及变形条纹采集模块对被测物体条纹上的相位编码及特征点进行采集，获取三维信息；量化相位及绝对相位解码模块对多组候选码字进行自我校验，恢复多步相移绝对相位，求解截断相位查询所属对应的码字级次和绝对相位；完整三维目标模型生成模块根据展开的绝对相位和高度对应关系，形成被测面型每像素点的三维坐标，最终生成完整的三维点云模型。