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公开(公告)号:CN204630679U
公开(公告)日:2015-09-09
申请号:CN201520292719.7
申请日:2015-05-08
Applicant: 福州大学
IPC: G01K15/00
Abstract: 本实用新型提供了一种新型温度传感芯片测试装置,其特征在于:包括一FPGA模块、一搭载模块、一数据采集模块、一数据处理模块、一温箱及一自动温控模块;所述搭载模块的输入端接所述FPGA模块一输出端;待测芯片搭载于搭载模块上;数据采集模块的输入端接搭载模块的输出端;数据采集模块的输出端接所述数据处理模块的输入端;自动温控模块的输入端接所述FPGA模块的另一输出端;所述FPGA模块、搭载模块及自动温控模块设置于温箱内,所述数据采集模块及数据处理模块设置于温箱外。该装置能实现环境温度测试过程中的自动化且投入设备少,搭建简单,可拓展性强,对于不同的待测芯片只需简单的硬件搭载平台的搭建就能完成测试。