一种基于IGBT模块的处理方法、装置、电子设备及介质

    公开(公告)号:CN119147922A

    公开(公告)日:2024-12-17

    申请号:CN202411033640.2

    申请日:2024-07-30

    Inventor: 彭弼

    Abstract: 本发明实施例提供了一种基于IGBT模块的处理方法、装置、电子设备及介质,所述方法包括:获取IGBT模块的当前运行数据,并将所述当前运行数据输入预先训练的神经网络模型,得到所述IGBT模块的第一结温信息;根据所述IGBT模块的功耗变化,确定所述IGBT模块的第二结温信息;根据所述第一结温信息和所述第二结温信息,对所述神经网络模型进行优化,以采用优化后的神经网络模型对所述IGBT模块进行结温预测。通过本发明实施例,实现了采用神经网络模型来对IGBT模块进行结温预测,提升了IGBT模块结温预测的准确性和实时性,且能够根据IGBT模块的功耗变化来对神经网络模型进行优化,进一步提升了预测的准确性。

    隔离驱动装置、方法、系统、功率器件及电子设备

    公开(公告)号:CN115955277A

    公开(公告)日:2023-04-11

    申请号:CN202211637587.8

    申请日:2022-12-16

    Abstract: 本申请涉及一种隔离驱动装置、方法、系统、功率器件及电子设备,该隔离驱动装置包括:光发射机模块、光复用器模块、光解复用器模块、光电转换器模块;光发射机模块,用于基于传输信息产生光信号;光复用器模块,用于依据光信号生成光波,并通过光纤将光波提供给光解复用器模块;光解复用器模块,用于对光波进行分解,得到至少一束单波长光信号,并将单波长光信号提供给光电转换器模块;光电转换器模块,用于依据单波长光信号进行光电转换处理,得到传输信息对应的驱动信号,从而实现了光纤隔离驱动,进而可以利用光纤通信特点,实现单一光纤控制多通道功率开关,并可远距离超低延时控制大功率电力开关设备,安全可靠,提高隔离驱动控制效率。

    测试方法、装置、存储介质及电子设备

    公开(公告)号:CN115754651A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211413931.5

    申请日:2022-11-11

    Abstract: 本申请实施例提供了一种测试方法、装置、存储介质及电子设备,应用于测试系统,测试系统包括:测试设备、显示设备和待测电路板,显示设备连接测试设备,待测电路板连接显示设备和测试设备,测试设备用于通过测试软件设置测试条件和保存测试数据,显示设备用于显示待测电路板的开关特性波形,测试方法包括:获取用户在测试设备中通过测试软件设置的测试参数,基于测试参数对待测电路板连接的功率器件进行测试,并获取测试过程中生成的动态参数,基于显示设备提取测试过程中的开关特性波形,保存开关特性波形和待测电路板生成的动态参数,在软件设置测试参数,来自动测试功率器件,并将波形和动态参数进行自动保存、计算,提高了测试的准确性。

    一种检测电路和太阳能逆变器
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119944576A

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202411929444.3

    申请日:2024-12-25

    Abstract: 本发明实施例提供了一种检测电路和太阳能逆变器,本发明可以通过门驱动器可以依据锁存器送来的放大后的故障信号,能够精准地对晶体管的状态进行控制,在短路发生时,门驱动器可迅速采取措施,如断开晶体管的导通,从而及时切断短路电流,防止故障进一步扩大;并且在故障解除后,门驱动器也能够根据系统的整体控制逻辑,合理地恢复晶体管的正常工作状态,实现了对晶体管在故障期间及后续运行过程中的有效管理与调控,提高了整个电路系统的可靠性、稳定性以及可恢复性,保障了电路系统在复杂工况下的持续正常运行。

    模型生成方法、仿真方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN119227618B

    公开(公告)日:2025-03-14

    申请号:CN202411718306.0

    申请日:2024-11-28

    Inventor: 彭弼

    Abstract: 本申请公开了一种模型生成方法、仿真方法、装置、电子设备及存储介质,属于仿真技术领域,包括:获取高电子迁移率晶体管的第一样本数据,以及第一样本数据对应的漏极电流标签;其中,第一样本数据包括样本栅源电压值、样本漏源电压值、样本结温值、样本第一陷阱时间值和样本第二陷阱时间值;基于第一神经网络根据第一样本数据输出的预测漏极电流和漏极电流标签确定电流损失值;基于电流损失值调整第一神经网络的参数,得到目标仿真模型。能够根据高电子迁移率晶体管在多种结温和陷阱时间值下的实测数据构建训练样本对包含神经网络的动态场效应晶体管模型进行训练,有助于提升针对高电子迁移率晶体管建立的目标仿真模型的准确性。

    模型生成方法、仿真方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN119227618A

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202411718306.0

    申请日:2024-11-28

    Inventor: 彭弼

    Abstract: 本申请公开了一种模型生成方法、仿真方法、装置、电子设备及存储介质,属于仿真技术领域,包括:获取高电子迁移率晶体管的第一样本数据,以及第一样本数据对应的漏极电流标签;其中,第一样本数据包括样本栅源电压值、样本漏源电压值、样本结温值、样本第一陷阱时间值和样本第二陷阱时间值;基于第一神经网络根据第一样本数据输出的预测漏极电流和漏极电流标签确定电流损失值;基于电流损失值调整第一神经网络的参数,得到目标仿真模型。能够根据高电子迁移率晶体管在多种结温和陷阱时间值下的实测数据构建训练样本对包含神经网络的动态场效应晶体管模型进行训练,有助于提升针对高电子迁移率晶体管建立的目标仿真模型的准确性。

    一种电路板测试数据分析系统及方法

    公开(公告)号:CN117872084A

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202311766236.1

    申请日:2023-12-20

    Abstract: 本申请公开一种电路板测试数据分析系统及方法,包括:工控机、PXI集成机箱和接口适配器,工控机与PXI集成机箱通信连接,PXI集成机箱与接口适配器连接,接口适配器用于连接待测电路板;工控机用于响应于待测电路板与接口适配器的连接操作,为待测电路板分配PXI集成机箱中的PXI测试通道;PXI测试通道与待测电路板的第一测试项对应;PXI集成机箱用于基于PXI测试通道,获取待测电路板对应PXI测试通道的测试数据;工控机用于将测试数据输入训练后的网络模型,输出待测电路板的第二测试项的预测测试结果;第二测试项为在第一测试项之后进行的测试项;工控机用于显示预测测试结果。该系统能对PCBA的多个测试内容进行全面测试,同时预测可能测试结果,提升测试效率。

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