安装框架、变频器主控单元、变频器及压缩机

    公开(公告)号:CN110299851B

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN201910740638.1

    申请日:2019-08-12

    Abstract: 本发明提供一种安装框架、变频器主控单元、变频器及压缩机。其中变频器主控单元安装框架,包括主框架,所述主框架上构造有彼此平行的第一安装部、第二安装部、第三安装部,且所述第二安装部处于所述第一安装部与所述第二安装部之间,所述第一安装部用于安装第一主板,所述第二安装部用于安装IPM功率模块组件,所述第三安装部用于安装第二主板,所述第一安装部竖向设置,以使所述第一主板及第二主板的元器件安装侧面在安装后能够水平朝向用户侧。根据本发明的一种安装框架、变频器主控单元、变频器及压缩机,结构布局合理、紧凑,有效减小主控单元的体积,便于后期检修。

    一种磁悬浮压缩机的惰转转速自辨识方法及系统

    公开(公告)号:CN109104129B

    公开(公告)日:2025-01-10

    申请号:CN201811070461.0

    申请日:2018-09-13

    Abstract: 本发明涉及一种磁悬浮压缩机的惰转转速自辨识方法及系统,方法包括:在检测到所述电机的供电线的电流为零时,采集电机的三相线电压;将所述三相线电压转换成两相线电压;对转换后的所述两相线电压进行标幺化,得到标幺化值;根据所述标幺化值计算电机转速。本发明提供的技术方案通过线电压标幺化锁相算法,实现了磁悬浮压缩机惰转过程中全范围转速的准确辨识,避免了轴承控制器因转速不准确导致的不平衡补偿失效问题,提高了磁悬浮压缩机的可靠性。

    谐波消除方法、设备、系统及电机

    公开(公告)号:CN117674657A

    公开(公告)日:2024-03-08

    申请号:CN202311372233.X

    申请日:2023-10-20

    Abstract: 本申请涉及谐波控制领域,具体而言,涉及一种谐波消除方法、设备、系统及电机,其方法包括获取旋转设备在旋转坐标系下的d、q轴电流;提取d、q轴电流中的谐波分量,得到d、q轴谐波电流;根据d、q轴谐波电流计算补偿电压,得到d、q轴谐波补偿电压;对d、q轴谐波补偿电压进行调整,得到d、q轴注入电压;将d、q轴注入电压输入至旋转设备的电流控制电路,消除旋转设备的输入电流中的谐波。通过将d轴注入电压和q轴注入电压输入到旋转设备的电流控制电路中,使得旋转设备的输入电流中的6倍频谐波被消除,从而解决共振和噪音的问题。

    电流环自适应控制方法以及装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117526801A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202311528116.8

    申请日:2023-11-16

    Abstract: 本发明涉及一种电流环自适应控制方法以及装置,其中方法包括:采集样本数据和动态性能参数;基于所述样本数据拟合出与所述动态性能参数相对应的电流环调节参数的近似关系函数;根据所述样本数据和所述近似关系函数对参数调节网络进行离线训练,得到目标参数调节网络;根据所述目标参数调节网络对PI调节器进行更新,以对电流环进行调节,输出电机控制量。本发明避免了在运行过程中实时计算更新网络权重,减少了永磁同步电机电流环控制过程中的计算资源,实现了电流环的控制性能适应转速的变化,有利于提高电流环控制的稳定性。

    电流采样电路、过流保护电路及变频器

    公开(公告)号:CN117277742A

    公开(公告)日:2023-12-22

    申请号:CN202311230989.0

    申请日:2023-09-22

    Abstract: 本发明公开一种电流采样电路、过流保护电路及变频器。该电流采样电路包括三相电流采样单元,每相电流采样单元均包括:差分运放电路、跟随电路、滤波电路以及A/D转换芯片,差分运放电路、跟随电路、滤波电路以及A/D转换芯片依次连接,A/D转换芯片与DSP芯片的GPIO口连接。该过流保护电路包括DSP芯片、选择电路、D/A转换芯片以及比较电路,选择电路与滤波电路连接,D/A转换芯片与DSP芯片连接,比较电路分别与选择电路、D/A转换芯片以及DSP芯片连接。本发明满足大功率三电平变频器多路电流采样需求,提高了变频器的可靠性;同时并行检测各路电流采样,及时触发过流保护,提高了变频器的安全性;可根据软件修改过流保护值,提高了变频器的通用性。

    一种变频器的温度检测装置及其控制方法和变频器

    公开(公告)号:CN117254747A

    公开(公告)日:2023-12-19

    申请号:CN202311541359.5

    申请日:2023-11-20

    Abstract: 本发明属于变频器领域,公开了一种变频器的温度检测装置及其控制方法和变频器,该装置包括:通过两个以上温度采样模块,得到两路以上温度采样信号;温度选择模块,在电机控制器的当前一轮的控制下,自两路以上温度采样信号中选择一路温度采样信号进行输出,作为当前选择得到的一路温度采样信号;电机控制器,基于当前选择得到的一路温度采样信号,对温度选择模块进行新的当前一轮的控制,以使温度选择模块对两路以上温度采样信号进行轮询选择,以选择另一路温度采样信号进行输出,作为新的当前选择得到的一路温度采样信号,以此轮询控制。该方案,通过将变频器的两路以上温度采样信号合并输出给DSP芯片的一个采样端口,减少采样压力。

    电机启动方法、模组、电子设备及可读介质

    公开(公告)号:CN115765528A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211460558.9

    申请日:2022-11-17

    Abstract: 本申请涉及一种电机启动方法、模组、电子设备及可读介质,其中,方法包括:将未启动的目标电机设置为锁定状态,并检测是否接收到轴承控制器发送的浮稳信号,其中,轴承控制器用于检测目标电机的轴承的悬浮状态;在接收到浮稳信号的情况下,将目标电机设置为解锁状态;在目标电机处于解锁状态且接收到启动指令的情况下,控制目标电机执行启动操作。通过从轴承控制器获取轴承是否浮稳的信息,然后在轴承未浮稳时锁定电机,直到确定轴承浮稳后才解锁电机,保证了在轴承浮稳之后操作人员才能启动电机,解决了在轴承未浮稳时操作人员启动磁悬浮电机带来的电机损坏的问题。

    变频器柜、空调系统
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115133746A

    公开(公告)日:2022-09-30

    申请号:CN202210788841.8

    申请日:2022-07-06

    Abstract: 本发明提供一种变频器柜、空调系统,其中的变频器柜,包括箱体,箱体内部空间的底部具有支撑框架,支撑框架的顶部具有安装电气模块的第一安装面,支撑框架内部设置有散热模块,散热模块包括风道壳体,风道壳体上具有出风口以及进风口,风道壳体内的气流能够从出风口流出并与电气模块进行热交换后从进风口流回风道壳体内。根据本发明,支撑框架一方面作为箱体内部分电气模块的安装载体保证安装电气模块的位置可靠稳定,另一方面则罩于散热模块的外侧,使风道壳体避免承担上部元器件的负载,风道壳体能够无需基于支撑目的过多考虑自身的结构强度仅满足风道自身的密封需求即可,有效降低变频器柜的重量,有利于降低变频器柜的制造成本。

    变频器运行范围调节方法、装置、介质及电机控制系统

    公开(公告)号:CN114944775A

    公开(公告)日:2022-08-26

    申请号:CN202210560947.2

    申请日:2022-05-20

    Abstract: 本发明提供了变频器运行范围调节方法、装置、介质及电机控制系统,该变频器包括:直流母线以及在直流母线之间并联连接的六个半桥,每个半桥由两个IGBT模块串联,在每个半桥的两个IGBT模块的连接点引出一个输出端子,将六个半桥分成三组,每组的两个输出端子相连构成一相输出与负载电机连接,通过监测负载电机的第一运行数据,第一运行数据包括:负载电机的转矩和转速;基于第一运行数据确定变频器的当前运行区间;基于当前运行区间确定目标控制策略;采用目标控制策略对变频器进行运行范围调节。从而仅通过将变频器的电气拓扑改为双并联结构,硬件改动小、成本低且易实现,提升了变频器输出运行范围,能够适用于更多不同的特性的电机。

    一种变频器的保护装置、方法和变频器

    公开(公告)号:CN113690854B

    公开(公告)日:2022-07-15

    申请号:CN202110936975.5

    申请日:2021-08-16

    Abstract: 本发明公开了一种变频器的保护装置、方法和变频器,该装置包括:两个以上采样单元中的每个采样单元,采样变频器的柜内对应采样点的待测量,得到模拟采样值;控制单元,根据对变频器的采样保护需求,发送选择指令;选择单元,根据选择指令,自两个以上采样单元采样得到的两个以上模拟采样值中选择一个模拟采样值;控制单元,还根据选择得到的一个模拟采样值,确定变频器是否出现故障,以在变频器出现故障的情况下执行预设的故障保护机制。该方案,通过利用控制芯片和模拟量选择电路,对变频器的柜内不同测试点位进行模拟量采样,能够节省控制芯片的采样通道,避免控制芯片的采样通道不能满足不同测试点位的采样数量需求。

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