公开(公告)号：CN118346637A

公开(公告)日：2024-07-16

申请号：CN202410721292.1

申请日：2024-06-05

Applicant: 珠海一微半导体股份有限公司

Inventor： 李尤健 ,  王悦林 ,  赖钦伟

IPC: F04D25/08 ,  F04D27/00 ,  F04D29/58

Abstract: 本申请公开基于温度的堵孔检测方法及风机装置，该堵孔检测方法应用于检测风机装置的进风口和/或出风口受堵情况；在风机装置内通过设置热敏元件检测温度；所述堵孔检测方法包括：每隔一段采样时间，检测一次温度；若检测到温度大于堵孔温度阈值，则根据温度在后续一段预设判断时间内的变化趋势检测所述风机装置出现堵孔或不出现堵孔；其中，预设判断时间包括至少一段所述采样时间，以基于至少两次检测的温度确定所述温度变化趋势。

公开(公告)号：CN118534202A

公开(公告)日：2024-08-23

申请号：CN202410744470.2

申请日：2024-06-11

Applicant: 珠海一微半导体股份有限公司

Inventor： 李尤健 ,  柯旭健 ,  王悦林

IPC: G01R27/26 ,  G01R31/34

Abstract: 本申请公开用于防接触的电容式检测方法及电容式检测系统，电容式检测方法包括：步骤1、在目标检测电容的电容值不受带电体影响的情况下计时出参考电容的充电时间并设置为基准检测时间阈值；步骤2、根据基准检测时间阈值与预先在不同测量距离处计时出的参考电容的充电时间的关系设置触发检测时间阈值；步骤3、控制所述目标检测电容为参考电容进行多轮循环充电操作并逐轮计时参考电容的充电时间；然后判断步骤3中最新计时过的预设数量个充电时间是否均处于预设时间范围内，是则更新基准检测时间阈值再执行步骤2，否则判断步骤3中计时出的充电时间是否小于触发检测时间阈值，是则存在带电体与所述目标检测电容相接触的风险，否则执行步骤3。