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发明公开
一种基于双谐振压电技术鉴别细胞焦亡与凋亡的细胞力学方法审中-实审

公开(公告)号：CN116124842A

公开(公告)日：2023-05-16

申请号：CN202211709846.3

申请日：2022-12-29

Applicant: 湖南农业大学

Inventor： 李文蔚 , 周铁安 , 吴艳阳 , 李静 , 范训安

IPC: G01N27/04 , G01R23/02

Abstract: 本发明公开了一种基于双谐振压电技术鉴别细胞焦亡与凋亡的细胞力学方法。本发明通过石英晶体微天平技术实时监测粘附于AT切、BT切双切型石英晶体芯片表面的、无明显细胞‑细胞间相互作用的HeLa和HUVECs细胞群在发生焦亡、凋亡全过程中引起的石英晶体频率、电阻变化，从而测得HeLa和HUVECs细胞焦亡、凋亡过程中细胞群对石英晶体施加的表面应力的实时变化，建立了通过细胞力学响应差异鉴别细胞焦亡与凋亡的方法。

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