-
公开(公告)号:CN117216895A
公开(公告)日:2023-12-12
申请号:CN202311119892.2
申请日:2023-08-31
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种装配体几何功能公差的控制参数自由度的分析方法,首先进行装配体几何功能分析,获取几何功能需求对应的方向位置公差。然后基于分析装配连接特征对方向位置公差的影响,根据装配体建立整体坐标系和局部坐标系。在整体坐标系和局部坐标系上,分析接触位移变动对方向位置公差产生影响的位置变动量。最后,通过位置变动量确定控制参数自由度。本申请在基于装配体的装配连接特征构建的整体坐标系和局部坐标系上,通过分析接触位移变动对装配体几何功能的影响,从而找出能够产生影响的位移变动,进而确定装配体几何功能公差的控制参数自由度,有助于优选装配特征要素的公差类型。
-
公开(公告)号:CN117077319A
公开(公告)日:2023-11-17
申请号:CN202311101043.4
申请日:2023-08-29
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06F30/17
Abstract: 本发明公开了一种基于控制参数自由度的装配公差类型筛选方法,首先构建典型公差带自由度与预设的映射关系表之间的关系,解析得到实际装配体几何功能公差对应的实际控制参数自由度,其中,映射关系表表征装配体的典型几何功能公差类型与控制参数自由度之间的映射关系。然后,确定实际装配体几何功能公差的公差带自由度,并基于公差带自由度与实际控制参数自由度之间的矢量大小关系,从多个预设公差类型中筛选出优选公差类型。本申请根据分析装配体的几何功能需求获得影响几何功能指标值的控制参数自由度,基于自由度对装配体的公差类型进行筛选,实现装配体的公差类型筛选方案的优化,能够筛选得到更加适合的公差类型,节省大量人力资源。
-