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公开(公告)号：CN101128734A
公开(公告)日：2008-02-20
申请号：CN200480030146.5
申请日：2004-10-15
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N33/48
CPC classification number: A61K33/00 , A61K33/40 , G01N33/48707 , G01N33/5438 , G01N2500/00
Abstract: 本发明涉及用于体外评估神经元变性的系统和方法。在有能够诱导或防止神经元损伤的各种化合物和培养条件下，将多电极探头用于神经元样本的培养和突触传递测定。
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