公开(公告)号：CN114441559B

公开(公告)日：2024-06-25

申请号：CN202111601986.4

申请日：2021-12-24

Applicant: 杭州电子科技大学

Inventor： 严义 ,  林宁宁 ,  邬惠峰 ,  孙丹枫

IPC: G01N23/00

Abstract: 本发明公开了一种PCB板AOI中阳面错点的快速检测方法，包括以下步骤：S1，获取PCB板图形中的所有线段和圆元素；S2，用一种判断元素对应的膨胀轮廓和收缩轮廓是否被切割的方法对元素进行粗筛，判断元素是否需要进一步检测；S3，根据元素膨胀轮廓和收缩轮廓的切割情况，将图像上对应的元素点集利用射线法进行错点精筛。本发明用一种计算元素对的膨胀轮廓和最小容许范围的差值的方法将元素对进行粗筛，进而对疑似点集进行精筛，提高了整板检测的速度。

公开(公告)号：CN114441559A

公开(公告)日：2022-05-06

申请号：CN202111601986.4

申请日：2021-12-24

Applicant: 杭州电子科技大学

Inventor： 严义 ,  林宁宁 ,  邬惠峰 ,  孙丹枫

IPC: G01N23/00

Abstract: 本发明公开了一种PCB板AOI中阳面错点的快速检测方法，包括以下步骤：S1，获取PCB板图形中的所有线段和圆元素；S2，用一种判断元素对应的膨胀轮廓和收缩轮廓是否被切割的方法对元素进行粗筛，判断元素是否需要进一步检测；S3，根据元素膨胀轮廓和收缩轮廓的切割情况，将图像上对应的元素点集利用射线法进行错点精筛。本发明用一种计算元素对的膨胀轮廓和最小容许范围的差值的方法将元素对进行粗筛，进而对疑似点集进行精筛，提高了整板检测的速度。

公开(公告)号：CN114429102A

公开(公告)日：2022-05-03

申请号：CN202111665577.0

申请日：2021-12-31

Applicant: 杭州电子科技大学

Inventor： 严义 ,  林宁宁 ,  邬惠峰 ,  孙丹枫

IPC: G06F30/398 ,  G01N21/95 ,  G06F115/12

Abstract: 本发明公开了一种PCB板AOI中元素间最小容许范围的快速检测方法，包括以下步骤：S1，获取PCB板图形中的所有线段和圆元素；S2，用一种计算元素对的膨胀轮廓和最小容许范围的差值的方法将元素对进行粗筛，判断元素对是否需要进一步检测；S3，根据最小容许范围在图像上框定元素对的疑似区域，对区域内的元素对进行精细筛选。本发明用一种计算元素对的膨胀轮廓和最小容许范围的差值的方法将元素对进行粗筛，进而对疑似点集进行精筛，提高了整板检测的速度。